基于DAS AD7606的可擴(kuò)展多通道同步采樣數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)的布局
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在用于測(cè)試器件間匹配的圖13所示電路中，7.5 V直流信號(hào)施加于U1和U2 AD7606器件的V1通道，并使用外部基準(zhǔn)電壓源。兩個(gè)AD7606器件的兩個(gè)V1通道的碼直方圖如圖14所示。板上的所有16個(gè)通道以200 kSPS吞吐速率工作。U1和U2的V1通道之間的碼直方圖平均值相差0.6 LSB。
圖13. 用于測(cè)試兩個(gè)AD7606器件間匹配的電路示意圖，使用外部基準(zhǔn)電壓源
圖14. 圖13所示電路的直方圖
以上直方圖顯示，采用ADR421外部系統(tǒng)基準(zhǔn)電壓源時(shí)，一個(gè)AD7606器件的直方圖平均值間匹配和多個(gè)AD7606器件的直方圖平均值間匹配均小于1 LSB。
結(jié)論
本布局能夠確保通過(guò)一個(gè)AD7606實(shí)現(xiàn)通道間良好匹配性能，并且同一PC板上的多個(gè)AD7606之間也具有良好的器件間匹配性能。AD7606器件的對(duì)稱布局，特別是去耦電容將有助于實(shí)現(xiàn)良好的通道間匹配和器件間匹配。在高通道數(shù)系統(tǒng)中，良好的通道間和器件間性能匹配意味著校準(zhǔn)程序得以簡(jiǎn)化。
評(píng)論