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          基于DAS AD7606的可擴展多通道同步采樣數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)的布局

          作者: 時間:2011-01-10 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            在用于測試器件間匹配的圖13所示電路中,7.5 V直流信號施加于U1和U2 器件的V1通道,并使用外部基準(zhǔn)電壓源。兩個器件的兩個V1通道的碼直方圖如圖14所示。板上的所有16個通道以200 kSPS吞吐速率工作。U1和U2的V1通道之間的碼直方圖平均值相差0.6 LSB。

          用于測試兩個AD7606器件間匹配的電路示意圖

            圖13. 用于測試兩個器件間匹配的電路示意圖,使用外部基準(zhǔn)電壓源

          基于DAS AD7606的可擴展多通道同步采樣數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)的布局  

            圖14. 圖13所示電路的直方圖

            以上直方圖顯示,采用ADR421外部系統(tǒng)基準(zhǔn)電壓源時,一個AD7606器件的直方圖平均值間匹配和多個AD7606器件的直方圖平均值間匹配均小于1 LSB。

            結(jié)論

            本布局能夠確保通過一個AD7606實現(xiàn)通道間良好匹配性能,并且同一PC板上的多個AD7606之間也具有良好的器件間匹配性能。AD7606器件的對稱布局,特別是去耦電容將有助于實現(xiàn)良好的通道間匹配和器件間匹配。在高通道數(shù)系統(tǒng)中,良好的通道間和器件間性能匹配意味著校準(zhǔn)程序得以簡化。


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