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          開(kāi)關(guān)電源中電子輻照對(duì)功率雙極晶體管損耗分析

          作者: 時(shí)間:2014-01-22 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          沒(méi)有大幅的降低,因此系統(tǒng)的效率并沒(méi)有改善。我們一方面可以?xún)?yōu)化基極驅(qū)動(dòng)電路, 使關(guān)斷初始時(shí)基極反向電流不至于太大, 避免產(chǎn)生電流“尾巴”, 而關(guān)斷的最后階段突增反向基極電流, 則在高輸入電壓下, 系統(tǒng)的效率就會(huì)有所提高; 另一方面,通過(guò)分段繞制、使用介電常數(shù)小的絕緣材料、適當(dāng)增加絕緣層厚度和靜電屏蔽等方法, 降低變壓器的寄生電容, 降低開(kāi)關(guān)晶體管的導(dǎo)通損耗,系統(tǒng)效率也將提高。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/226729.htm

          4 管與鉗位型開(kāi)關(guān)管的比較

          采用鉗位型開(kāi)關(guān)晶體管也能降低開(kāi)關(guān)晶體管的關(guān)斷延時(shí), 其原理是通過(guò)鉗位電路使VBC在晶體管導(dǎo)通時(shí)不能增加到深飽和所需的0. 7 V, 這樣注入集電結(jié)兩側(cè)的少子很少, 使超量?jī)?chǔ)存電荷很少, 這樣儲(chǔ)存時(shí)間大大縮短。采用鉗位型開(kāi)關(guān)晶體管主要有兩種,一種是在集電結(jié)并聯(lián)肖特基二極管的晶體管,由于在高溫下漏電電流較大, 其ts - Vcesat的Trade??o ff關(guān)系最差, 目前應(yīng)用較少。另一種是橫向PNP鉗位型晶體管,其結(jié)構(gòu)圖如圖6所示, 它在高溫下漏電較小, 能得到較好的Trade-off關(guān)系,電流放大系數(shù)基本不變,目前得到了越來(lái)越多的應(yīng)用, 如吉林華微電子股份有限公司研發(fā)的產(chǎn)品3DD13003A 就采用了這種結(jié)構(gòu)。開(kāi)關(guān)電源中電子輻照對(duì)功率雙極晶體管損耗分析

          圖6橫向PNP鉗位型晶體管結(jié)構(gòu)圖

          表3是AP3765序列充電器中采用經(jīng)過(guò)10 kGy的APT13003E 及3DD13003A 在85 V 和230 V 輸入電壓下輸出負(fù)載電流分別是0. 15 A、0.30 A、0. 45 A、0. 60 A 系統(tǒng)平均效率的結(jié)果。從表3中可以看出, 10 kGy后的APT13003E的效率與3DD13003A 的效率基本相同。

          開(kāi)關(guān)電源中電子輻照對(duì)功率雙極晶體管損耗分析

          表3 AP3765充電器采用以下三種開(kāi)關(guān)晶體管系統(tǒng)效率的比較

          采用電子輻照工藝方法簡(jiǎn)單, 成本很低, 輻照后將使得開(kāi)關(guān)晶體管的反向擊穿電壓增大, 使開(kāi)關(guān)晶體管的可靠性增加, 特征頻率基本不變, 其缺點(diǎn)是電流放大系數(shù)降低,在大功率應(yīng)用時(shí)可能會(huì)無(wú)法正常導(dǎo)通, 因此主要應(yīng)用于中小功率開(kāi)關(guān)電路中。而橫向PNP鉗位型開(kāi)關(guān)晶體管對(duì)電流放大系數(shù)基本沒(méi)有影響,由于在側(cè)面增加了一個(gè)pn 結(jié), 所以晶體管面積和結(jié)電容會(huì)增加, 減小了晶體管的特征頻率, 但不能提高反向擊穿電壓,可以應(yīng)用在雙極數(shù)字電路和中小功率開(kāi)關(guān)電路中。

          5 結(jié)論

          在較高交流輸入電壓下由于變壓器寄生電容充電造成導(dǎo)通損耗過(guò)大及關(guān)斷階段集電極電流“尾巴”的存在, 使得系統(tǒng)效率沒(méi)有改善。由于電子輻照使得導(dǎo)通損耗和通態(tài)損耗增加, 因此只有采用合適的電子輻照劑量才能使系統(tǒng)效率得到最大的提高。采用合適的電子輻照劑量的開(kāi)關(guān)晶體管與采用橫向PNP鉗位型晶體管的系統(tǒng)效率基本相同。

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