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          什么將有缺陷隔離變壓器接口與無瑕疵的原型分開?

          作者: 時間:2013-12-19 來源:網絡 收藏

          新設計需要在相當短的時間內,實現更小巧、更廉價,包含更多功能。為降低風險,我選擇重新使用以前設計的物理接口,包括隔離變壓器到其外設。然而,更小設計的限制,加上新增功能,不允許完全使用現有的接口器件。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/227377.htm

          為配合PCB(印刷電路板)空間,更改實現與外界隔離的6個變壓器,從方形、雙E核設計到更有效體積的圓形壺狀核設計。公司以前設計開發(fā)時,設計文檔不是強制的,沒有太多制作新變壓器的基礎。然而,只要保持同樣的轉換率,適當的線規(guī)格和相似的流量密度,于是認為風險就會很低。我精確地繼承這個方法,也做了最糟情況的計算,由飽和度檢驗許多臨界情況。使用基于電壓流量密度的變壓器飽和公式(B=[V×108]/[4×N×AC×f]),在這里B為流量密度,V為供電電壓,N為轉換次數,AC為代表性區(qū)域,f為應用頻率。它實現了設計具有超過50%的飽和極限。

          為進一步減小風險,我們向海外經銷商訂購了推薦的若干低價格原型。由于原型工作的低數量,US工廠比常用的海外產品工廠更適合生產樣品。原型運行正常,我們按時交付了新設計、低于預算且留有余地。

          現場測試若干單元幾個月后,接到報告稱新設計在測試時間歇性失效。在測試場和實驗室測試多次后,將問題定位于外界接口與另一個設備的相互作用。奇怪的是在發(fā)布之前我們已經多次測試過設備的兼容性。更失望的,失敗的根本原因是新變壓器設計的飽和。怎么會這樣呢?我們已經進行了冗余設計,并測試了很多樣品。找到最初設計資格樣品變壓器的老模塊。當我們采用硬件測試設備時,不能復現問題。然而,使用測試場的硬件,問題就復現?,F在不得不確定兩板硬件之間是有差別的。

          變壓器設計采用無缺口的壺型核,其價格低且比有缺口的壺型核供貨容易。其在很多領域滿足飽和需求。然而,我們在計算中沒有考慮電流而不是電壓引發(fā)的瞬態(tài)飽和。結果,圓形樣品測試中,兩個壺型核部分沒有完全壓緊,出現了不必要的空氣缺口。因為壺型核沾了聚亞胺酯,不必要的缺口被永久固定了。這個無意識的空氣缺口足夠阻止樣品變壓器發(fā)生飽和。但我們將變壓器產品移到海外工廠生產,工廠正確地使用沒有空氣缺口的變壓器。這些變壓器在現場測試飽和,我們不得不更換模塊。好消息是我們沒有很多產品在現場測試。



          關鍵詞: 隔離變壓器

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