孔徑抖動和延遲

轉(zhuǎn)換啟動請求信號可以看作是采樣時鐘,因此它決定ADC采樣和保持電路實際捕獲輸入信號的時間點。當配置ADC轉(zhuǎn)換請求時基時,需要考慮與采樣和保持電路相關(guān)的規(guī)格,即孔徑抖動和孔徑延遲。這兩個規(guī)格影響輸入信號采樣的精確度,因為輸入信號相對于孔徑時間延遲在不斷快速變化,如圖2所示。



圖2:孔徑抖動和延遲。

孔徑抖動在生成轉(zhuǎn)換啟動信號的時鐘系統(tǒng)和其他電路中將導致誤差(即時鐘抖動),同時孔徑延遲導致轉(zhuǎn)換啟動信號和采樣開關(guān)之間電路延遲。孔徑抖動在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中會引入噪聲和失真??讖窖舆t可以由MCU設(shè)計人員內(nèi)部管理,使其最小化,以避免由于長延遲而增加更多抖動的風險??讖窖舆t在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中引起延遲誤差。太長的孔徑延遲類似于水池在“水池滿”信號發(fā)出之前就開始溢出。

由于上述原因,需要精確的時基用于產(chǎn)生穩(wěn)定的轉(zhuǎn)換啟動請求時序。MCU提供一系列板上時鐘或外部時鐘源作為系統(tǒng)時鐘選擇。系統(tǒng)設(shè)計人員必須仔細選擇具有足夠精度的時鐘源,以滿足其數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的需求。對于高速輸入源,需要非常精確的晶體振蕩器。另一方面,直流(DC)或慢速輸入可以更好地容忍時鐘系統(tǒng)錯誤,但仍然需要在轉(zhuǎn)換之間保留足夠的穩(wěn)定時間。

突發(fā)模式特性

Silicon Labs MCU系列產(chǎn)品中兩個特別有用的特性是突發(fā)模式和標記跟蹤模式。突發(fā)模式根據(jù)可編程的連續(xù)ADC轉(zhuǎn)換數(shù)量生成累積的或平均結(jié)果,所有觸發(fā)來自一個轉(zhuǎn)換請求。標記跟蹤模式通過改變轉(zhuǎn)換啟動請求操作來分擔MCU系統(tǒng)所需的跟蹤時間管理。通常,轉(zhuǎn)換啟動標記在跟蹤周期終點和轉(zhuǎn)換周期起點。但在標記跟蹤模式中,轉(zhuǎn)換啟動請求卻在跟蹤周期起點觸發(fā),然后持續(xù)一段時間,此時長為基于預(yù)配置的SARADC時鐘周期的可編程時長,最后才開始轉(zhuǎn)換。帶有標記跟蹤的觸發(fā)模式可為低頻運行的MCU在單MCU時鐘循環(huán)中獲得累積的ADC結(jié)果,因此減少系統(tǒng)循環(huán)數(shù)和降低功耗,如圖3所示。



圖3:ADC突


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