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          IC內(nèi)置熔絲熔斷方法

          作者: 時(shí)間:2013-06-12 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          1 引言

          某些計(jì)量為了防止工藝上電阻溫度-階溫度因子的偏差,采用了結(jié)構(gòu)以得到更精確的基準(zhǔn)。在圓片測(cè)試時(shí),可以根據(jù)實(shí)際基準(zhǔn)點(diǎn)在一定范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整,使出廠的基準(zhǔn)更加精確,一致性更好。可配置性也是半導(dǎo)體發(fā)展的一個(gè)方向。對(duì)于可編程電路,可根據(jù)市場(chǎng)的需求燒編程,使電路具有更強(qiáng)的適應(yīng)性,而且是一次性編程,具有更強(qiáng)的安全性。一個(gè)優(yōu)秀的測(cè)試程序應(yīng)當(dāng)有明顯的模塊化,簡(jiǎn)明有效、邏輯性強(qiáng)。這樣的程序便于他人閱讀理解和相互交流,也有利于調(diào)試過(guò)程中的修改調(diào)整。

          2 熔絲熔斷的硬件設(shè)計(jì)

          2.1 硬件設(shè)計(jì)原理

          熔絲是集成電路生產(chǎn)中所使用的一項(xiàng)重要技術(shù)。熔絲的結(jié)構(gòu)如圖1。

          IC內(nèi)置熔絲熔斷方法

          熔絲可以用金屬(鋁、銅等)或硅制成。熔斷熔絲需要較大的瞬間電流。具體所需電流,根據(jù)實(shí)際條寬和厚度而不盡相同,一般通常是幾百毫安。如此大的電流對(duì)測(cè)試儀的PE板很容易造成損傷,況且并不是所有測(cè)試儀的PE板都具備這樣的電流驅(qū)動(dòng)能力。

          為了能提供足夠大的瞬問(wèn)電流,又保護(hù)PE卡不受損,我們?cè)O(shè)計(jì)的硬件方案使熔絲引線不接入測(cè)試儀的通道,而通過(guò)電容放電來(lái)提供熔斷熔絲所需的瞬間大電流。電容的充電、放電由來(lái)控制,而的開(kāi)啟、閉合由測(cè)試儀通道(所選擇通道由用戶根據(jù)需要任意定義)提供電壓來(lái)控制。原理圖如圖2。

          IC內(nèi)置熔絲熔斷方法

          在通常情況下,CH33和CH34默認(rèn)值為0.0V。RELAY1和RELAY2不工作。此時(shí)電容C1、C2接在VCC上進(jìn)行充電。當(dāng)將CH33設(shè)定為5.0V時(shí),繼電器RELAY1工作,電容C1與VCC脫開(kāi),轉(zhuǎn)而跨接在熔絲FUSE1兩端,電容C1放電,熔斷熔絲FUSE1。而C2仍在充電。同樣,如果將CH34設(shè)定為5.0V時(shí),將熔斷熔絲FUSE2。

          2.2 硬件設(shè)計(jì)的優(yōu)點(diǎn)

          可以看出該設(shè)計(jì)具有如下優(yōu)點(diǎn):

          (1)熔斷熔絲時(shí)的大電流由電容產(chǎn)生,直接施加至熔絲兩端。由于避丌了測(cè)試儀,所以電流不受測(cè)試儀額定電流的限制,不會(huì)對(duì)測(cè)試儀造成不良傷害。

          (2)在特定時(shí)刻對(duì)特定電路進(jìn)行測(cè)試時(shí),該電路只可能是某一狀態(tài),也就是說(shuō)只是執(zhí)行眾多熔絲方案中特定的一種。所以在特定時(shí)刻,各根熔絲只是選擇熔斷或保持兩者之一,即相對(duì)應(yīng)的電容最多只進(jìn)行一次放電。由于在默認(rèn)狀態(tài)或者在執(zhí)行其他參數(shù)測(cè)試或功能測(cè)試時(shí),所有熔絲所對(duì)應(yīng)的電容都處于充電狀態(tài),所以各個(gè)電容有足夠的電量產(chǎn)生所需的大電流。同時(shí)硬件設(shè)計(jì)中采用一根熔絲對(duì)應(yīng)一個(gè)繼電器、一個(gè)電容,既可準(zhǔn)確操作,相互之間又不會(huì)有任何影響。

          (3)硬件設(shè)計(jì)中用繼電器來(lái)選擇電容是接在電源上充電或是跨接在熔絲兩端放電。繼電器的選通由相應(yīng)的測(cè)試通道來(lái)控制。由于測(cè)試通道的狀態(tài)可以在主程序中設(shè)定,又可以在測(cè)試矢量中進(jìn)行驅(qū)動(dòng)。所以該設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)與參數(shù)測(cè)試或功能測(cè)試的相互兼容并友好交換。

          3 熔絲調(diào)整基準(zhǔn)

          3.1 熔絲方案簡(jiǎn)介

          表1所示是某電路的熔絲調(diào)節(jié)方案。其中Tosc表示所測(cè)振蕩方波周期?!?”表示Oa-Ob間的熔絲不熔斷,“1”表示Oa-Ob間的熔絲熔斷。Tosc超出表1第一列所示范圍則判為無(wú)效。調(diào)節(jié)精度為0.44μs/(一個(gè)最小調(diào)節(jié)單位)。

          IC內(nèi)置熔絲熔斷方法

          3.2 傳統(tǒng)方法

          在對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí),根據(jù)實(shí)際測(cè)得的頻率值選擇相應(yīng)的熔絲方案,燒斷所對(duì)應(yīng)的熔絲,將所測(cè)試電路的基準(zhǔn)進(jìn)行一定量的調(diào)整,使基準(zhǔn)趨于理想的范圍。傳統(tǒng)方法是機(jī)械地用if...else語(yǔ)句來(lái)編程,程序如下:

          IC內(nèi)置熔絲熔斷方法

          3.3 傳統(tǒng)方法的弊端

          就結(jié)果而言,該測(cè)試程序是正確的,完全可以達(dá)到技術(shù)要求。但我們可以發(fā)現(xiàn)程序如此編寫(xiě)的明顯弊端:

          (1)程序的編寫(xiě)相當(dāng)繁瑣,容易出錯(cuò)。就該產(chǎn)品而言,調(diào)整熔絲的可能方案共有32種。所以程序?qū)?huì)非常累贅。況且如此多的if...else語(yǔ)句通常足拷貝后對(duì)語(yǔ)句體進(jìn)行相應(yīng)的修改,而每種方案中會(huì)有0~5根不同組合的熔絲需要熔斷,所以在編程過(guò)程中很有可能出現(xiàn)失誤且不容易發(fā)覺(jué)。如此很有可能燒錯(cuò)熔絲,而熔絲是不可恢復(fù)的。這樣的損失是無(wú)法彌補(bǔ)的。

          (2)程序缺乏模塊性,可讀性差,不便于他人閱讀理解和相互交流;在新品調(diào)試分析過(guò)程中修改、調(diào)整不便,操作靈活性差。

          3.4 改進(jìn)方法

          對(duì)于復(fù)雜問(wèn)題我們應(yīng)當(dāng)進(jìn)行分析,設(shè)法找出其中的規(guī)律,針對(duì)規(guī)律沒(méi)計(jì)出合理有效的方法。針對(duì)表1進(jìn)行適當(dāng)?shù)恼{(diào)整,可以得表2。

          IC內(nèi)置熔絲熔斷方法

          由表2可以看出,如果將[O5-O6]、[O4-O5]、[O3-O4]、[O2-O3]、[O1-O2]五個(gè)元素組成的數(shù)組看作一個(gè)二進(jìn)制數(shù)的值,則該值與COUNT整數(shù)部分的值是完全吻合的,而且是順序遞增的。所以可以考慮設(shè)一個(gè)變量OSC=(25.21-Tosc)/0.44,對(duì)OSC取整(COUNT=floor(OSC)),再將COUNT轉(zhuǎn)化成二進(jìn)制(ultoa(COUNT,V,2)),再對(duì)二進(jìn)制變量進(jìn)行掃描分析,對(duì)于為1的位進(jìn)行熔絲燒斷操作,對(duì)于為0的位不操作。這樣就將對(duì)32種方案的分析轉(zhuǎn)變成對(duì)5根熔絲的分析。具體程序如下:

          IC內(nèi)置熔絲熔斷方法

          3.5 結(jié)論

          對(duì)比可以看出,傳統(tǒng)方法雖然結(jié)果正確,但是僅適用于熔絲較少的情況。隨著熔絲數(shù)目的增加,假設(shè)由5根增加為6根,那么熔絲方案就會(huì)由32種增加到64種,程序的長(zhǎng)度就會(huì)呈指數(shù)倍數(shù)增加,不僅增加了編程的工作量,而且編程中出錯(cuò)的幾率也會(huì)相應(yīng)增加。而改進(jìn)方法顯然程序簡(jiǎn)潔,便于閱讀、調(diào)試和分析;而且模塊化、條理清晰,不易出錯(cuò);熔絲數(shù)目的增加并不會(huì)使程序的篇幅明顯增加。因而改進(jìn)方法具有強(qiáng)大的適應(yīng)能力,可以適用于大多數(shù)熔絲類產(chǎn)品。目前公司熔絲類產(chǎn)品基本都采用該方法,具有極大的實(shí)用價(jià)值。

          4 熔絲編程

          4.1 熔絲編程簡(jiǎn)介

          可編程遙控編碼電路,可應(yīng)用于夜盜報(bào)警系統(tǒng)、汽車(chē)防盜系統(tǒng)、車(chē)庫(kù)門(mén)控制系統(tǒng)、家庭/辦公安全系統(tǒng)及個(gè)人報(bào)警系統(tǒng)。編碼信號(hào)輸入時(shí)序如圖3所示。

          IC內(nèi)置熔絲熔斷方法

          4.2 熔絲編程方案難點(diǎn)

          由于電路應(yīng)用于安全系統(tǒng),所以對(duì)各個(gè)電路的編碼要求具有唯一性,也就意味著在測(cè)試時(shí)對(duì)各個(gè)電路要輸入不同的測(cè)試碼。而測(cè)試系統(tǒng)所調(diào)用的測(cè)試碼在測(cè)試過(guò)程中是不能更改的,即便能找出方法對(duì)不同的電路調(diào)用不同的測(cè)試碼,也不具可操作性。因?yàn)榫湍帽倦娐穪?lái)說(shuō),它具有22根熔絲,即可支持多達(dá)222種地址碼,不可能編寫(xiě)222個(gè)測(cè)試碼來(lái)對(duì)222個(gè)電路分別編程。

          4.3 熔絲編程解決方案

          對(duì)此,可以先將測(cè)試碼進(jìn)行分割,測(cè)試碼由22段組成,第1段燒第1根熔絲,第2段燒第2根熔絲,……,第22段燒第22根熔絲。再將22根熔絲看作是一個(gè)22位的數(shù)組。要燒制的代碼取決于變量COUNT,測(cè)試時(shí)將COUNT轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制變量,再對(duì)二進(jìn)制變量進(jìn)行掃描分析,對(duì)于為1的位調(diào)用相應(yīng)段的測(cè)試碼,燒斷相應(yīng)的熔絲,對(duì)于為0的位不操作。具體程序如下:

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          4.4 結(jié)論

          該方案巧妙地解決了由于受測(cè)試系統(tǒng)的限制原本不便解決的問(wèn)題。同時(shí),由于變量COUNT的值存儲(chǔ)于測(cè)試儀硬盤(pán)上的記錄文件rec.txt,在每個(gè)電路測(cè)試開(kāi)始時(shí)由程序oprec將COUNT的值讀入機(jī)器內(nèi)存中,在每個(gè)電路測(cè)試結(jié)束后將變量COUNT加一后再由程序clrec存入記錄文什rec.txt。這樣既可保證每個(gè)電路編碼的唯一性,又可保護(hù)數(shù)據(jù)不會(huì)因突發(fā)事件而丟失,具有極強(qiáng)的安全性。

          5 結(jié)束語(yǔ)

          總而言之,寫(xiě)一個(gè)測(cè)試程序并不難。但I(xiàn)C市場(chǎng)是一個(gè)日新月異、競(jìng)爭(zhēng)相當(dāng)激烈的市場(chǎng)。所以作為一個(gè)優(yōu)秀的測(cè)試軟件工程師,應(yīng)當(dāng)能從測(cè)試儀硬件配置的實(shí)際情況出發(fā),充分合理利用測(cè)試儀的

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