太陽能電池測試軟件設(shè)計
太陽能電池性能測試系統(tǒng)由硬件結(jié)構(gòu)與測控軟件兩部分構(gòu)成。硬件結(jié)構(gòu)主要包括光路系統(tǒng)、樣品室與測量電路三部分,如圖1所示。軟件主要分為上位機(jī)軟件與下位機(jī)程序兩部分。
太陽光模擬光源選用氙燈,因為其具有較寬且連續(xù)的光譜范圍,覆蓋紫外光至紅外光,是比較理想的模擬太陽光源。光源通過斬波器變?yōu)榻蛔兊膹?fù)色光信號,再經(jīng)光柵單色儀,為測試系統(tǒng)提供交變單色光信號。偏置光源的存在使系統(tǒng)具備了測試多節(jié)太陽能電池的條件,可選用氙燈、鹵鎢燈作為光源。待測太陽能電池樣品與已標(biāo)定的標(biāo)準(zhǔn)探測器至于樣品室中的運動平臺上,通過數(shù)據(jù)采集卡與計算機(jī)相連。上位機(jī)軟件可對硬件系統(tǒng)進(jìn)行狀態(tài)配置并獲取采集卡數(shù)據(jù),經(jīng)數(shù)據(jù)處理后生成標(biāo)準(zhǔn)探測器絕對光譜響應(yīng)曲線、被測太陽能電池絕對光譜響應(yīng)曲線以及量子效率曲線。
2上位機(jī)總體設(shè)計及數(shù)據(jù)處理
2.1 上位機(jī)總體設(shè)計
上位機(jī)軟件作為人機(jī)交互的媒介,理應(yīng)具備界面簡潔、便于用戶理解、操作簡便快捷的特點。鑒于C++ Builder這一高性能可視化集成開發(fā)環(huán)境具有大量可重用控件與強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫處理能力[1-2],本軟件選用其作為開發(fā)工具。軟件界面組成如圖2所示。
3.1 HID固件程序設(shè)計
上位機(jī)檢測USB設(shè)備是通過對集線器接收端的電平信號的變化確定的,這就要求設(shè)備端D+或D-接上拉電阻至3.3 V電源,STM32F103單片機(jī)并沒有在此環(huán)節(jié)做內(nèi)部上拉,故搭建一個軟上拉電路,用I/O口PE0電平變化模擬上拉電阻接通與斷開。USB部分硬件實現(xiàn)如圖5所示。
HID設(shè)備與主機(jī)間的通信是通過USB的控制管道(默認(rèn)管道即端點0)和中斷管道1完成的。HID設(shè)備的描述符包括設(shè)備描述符、配置描述符、接口描述符、端點描述符、字符串描述符、 HID描述符、報告描述符、實體描述符,其中前5個描述符屬于USB設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)描述符,而后3個則為HID類設(shè)備特定描述符。通過對描述符的配置實現(xiàn)HID設(shè)備屬性的定義,如產(chǎn)品ID: idProduct(PID)、廠商ID: idVendor(VID),包括對端口的定義以及對報文格式的定義。
主機(jī)與USB 設(shè)備最初的數(shù)據(jù)交換過程通過枚舉完成。USB-HID 類設(shè)備解析主機(jī)的請求,并在枚舉期間向主機(jī)發(fā)送描述符響應(yīng)主機(jī)的請求。系統(tǒng)將太陽能電池短路電流數(shù)據(jù)作為一個報文,當(dāng)短路電流測量完成后,USB設(shè)備將報文發(fā)向上位機(jī),完成信息發(fā)送。HID固件程序流程圖如圖6所示。
3.1.1 USB設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)描述符
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)描述符主要是在usb_desc.c文件中定義,具體操作如下:
(1)編輯CustomHID_DeviceDes-criptor設(shè)備描述符,在以小端模式定義設(shè)備的實驗用PID與VID為0×123 4與0×567 8。
(2) 編輯ConfigurationDescriptor
配置描述符,定義接口編號為0、定義端點,定義接口協(xié)議為HID自定義設(shè)備。
(3) 編輯Endpoint Descriptor端點描述符,定義輸入、輸出端點最大包長度為8 B。
(4) 編輯CustomHID_ReportDescriptor報文描述符,設(shè)定8 B報文格式。
(5) 編輯StringLangID、 String
Vendor、StringProduct、StringSerial描述符,設(shè)置設(shè)備廠商ID、產(chǎn)品ID以及產(chǎn)品序列號。
3.1.2 USB端點設(shè)置
編輯usb_prop.c文件,配置端點,具體操作如下:
(1) 編輯CustomHID_Reset(void)函數(shù),初始化端點0和端點1,調(diào)用SetEPType()函數(shù)初始化端點0為控制端點類型、端點1為中斷端點類型。
(2) 調(diào)用SetEPRxAddr()、SetEPTxAddr(),設(shè)置收發(fā)數(shù)據(jù)的地址。
(3)調(diào)用SetEPTxCount()、SetEPRxCount(),設(shè)置收發(fā)數(shù)據(jù)長度為8 B。
3.1.3 主函數(shù)框架
編寫main.c文件,完成下述內(nèi)容:
(1) 包含關(guān)鍵頭文件stm32f10x_lib.h、usb_lib.h、hw_
config.h。
(2)調(diào)用Set_System()、USB_Interrupts_ConFig()、Set_USBClock()、USB_Init()函數(shù)配置系統(tǒng)時鐘、USB中斷、USB時鐘與初始化。
(3) 編寫CustomHID_Send()數(shù)據(jù)發(fā)送函數(shù),調(diào)用UserToPMABufferCopy(),將數(shù)據(jù)放入輸出Buffer,調(diào)用SetEPTxValid(ENDP1)使端點1有效以發(fā)送數(shù)據(jù)。
(4) 編寫CustomHID_Receive()數(shù)據(jù)接收函數(shù),調(diào)用PMAToUserBufferCopy()函數(shù)獲取數(shù)據(jù),調(diào)用SetEPRxValid(ENDP1)函數(shù)使端點1有效以接收數(shù)據(jù)。
3.2上位機(jī)通信模塊設(shè)計
C++ Builder集成開發(fā)環(huán)境調(diào)用Windows API函數(shù)開發(fā)出USB-HID程序模塊。通過調(diào)用Windows基礎(chǔ)庫函數(shù)獲取HID設(shè)備的全局唯一標(biāo)識(GUID)、設(shè)備ID、設(shè)備接口、緩沖區(qū)指針等信息,最終獲取報文信息,解析數(shù)據(jù)交數(shù)據(jù)處理模塊進(jìn)一步處理。上位機(jī)HID程序流程圖如圖7所示。
上位機(jī)實現(xiàn)與USB-HID設(shè)備通信具體調(diào)用的函數(shù)有:
(1) 使用HidD_GetGuid函數(shù)獲取128 bit GUID。
(2) 使用SetupDiGetClassDevs函數(shù)獲取設(shè)備信息群。
(3) 使用SetupDiEnumDeviceInterfaces函數(shù)識別HID接口。
(4) 使用SetupDiGetDeviceInterfaceDetail函數(shù)獲取設(shè)備路徑。
(5) 使用CreatFile函數(shù)開啟設(shè)備,使用CloseHandle函數(shù)釋放資源。
(6) 使用HidD_GetAttributes函數(shù)獲取設(shè)備ID。
(7) 使用HidD_GetPreparsedData函數(shù)與HidD_Free
PreparsedData函數(shù)取得緩沖區(qū)指針與釋放資源。
(8) 使用WriteData函數(shù)、ReadFile函數(shù)發(fā)送、讀取報文。
4 軟件測試結(jié)果
軟件檢測相關(guān)設(shè)備處于連接狀態(tài),將標(biāo)準(zhǔn)太陽能電池與待測太陽能電池置于樣品室檢測臺上,軟件配置相關(guān)檢測參數(shù),在掃描范圍300 nm~1 200 nm、波長間隔10nm、斬波器與鎖相放大器參考頻率為2 Hz、單點測試10次、緩沖時間10 s的狀態(tài)下,成功獲取USB-HID設(shè)備上傳的數(shù)據(jù)。上位機(jī)軟件調(diào)用TeeChart控件繪制出待測電池光譜響應(yīng)曲線,測試結(jié)果如圖8所示。
USB已經(jīng)逐步取代了串口,成為現(xiàn)階段測試儀器常用的接口與通信方式,使儀器的通用性與易用性大大增強(qiáng)。系統(tǒng)采用USB通信方式,同時上位機(jī)軟件具備穩(wěn)定準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)獲取能力,并以圖像方式準(zhǔn)確直觀地顯示測試結(jié)果,具有一定的實用價值。
參考文獻(xiàn)
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