新穎高效率開關(guān)電源控制器設(shè)計(jì)方案
3 片上電流檢測(cè)
片上電流檢測(cè)就是把檢測(cè)電感電流的功能集成到控制芯片內(nèi)部,尤其對(duì)于功率集成的控制器來(lái)說(shuō),其意義就顯得更為重要也較易實(shí)現(xiàn),且采用片上電流檢測(cè)有利于有效簡(jiǎn)化外圍應(yīng)用電路的設(shè)計(jì)。
電流檢測(cè)可以根據(jù)檢測(cè)電路的不同位置分為高邊檢測(cè)和低邊檢測(cè),對(duì)于Buck 電路來(lái)說(shuō),若檢測(cè)對(duì)象是流過(guò)功率開關(guān)的電流,多采用高邊檢測(cè);但若檢測(cè)對(duì)象是流過(guò)同步整流開關(guān)的電流,就需采用低邊檢測(cè)。 以高邊檢測(cè)為例,傳統(tǒng)的檢測(cè)方法是利用一個(gè)小電阻與功率開關(guān)串聯(lián)來(lái)檢測(cè)流過(guò)功率開關(guān)的電流。 但受到工藝的限制,小電阻的阻值精度通常是很低的,且會(huì)占用較多的芯片面積。 尤其在低電壓供電的系統(tǒng)中,檢測(cè)電阻上的損耗和檢測(cè)精度都是嚴(yán)重的問(wèn)題。 因此,本文采用了一種基于電流鏡結(jié)構(gòu)的片上電流檢測(cè)技術(shù),與傳統(tǒng)的電阻檢測(cè)方法相比,它的精度較高,功率損耗小。
電流檢測(cè)電路主要有兩個(gè)功能模塊,一是功率開關(guān)電流檢測(cè)模塊,二是峰值電流箝位模塊。
功率開關(guān)電流檢測(cè)的基本電路原理如圖5 所示。 主要采用電流鏡結(jié)構(gòu),用一個(gè)與功率開關(guān)成一定比例的MOS 管來(lái)鏡像功率開關(guān)的電流。 圖中PM_P 是功率開關(guān),NM_P 是同步整流開關(guān)。 PMOS 管PM0 和PM_P組成一個(gè)簡(jiǎn)單電流鏡結(jié)構(gòu)。 運(yùn)算放大器CSA 的作用是保持PM0 和PM_P 的V DS電壓相等,它是一個(gè)兩級(jí)折疊式共源共柵結(jié)構(gòu),具有較大的帶寬和較快的響應(yīng)速度,以達(dá)到較高的檢測(cè)精度和較大的電流檢測(cè)范圍。
圖5 功率開關(guān)電流檢測(cè)模塊
PM1 的作用是防止當(dāng)同步整流開關(guān)通時(shí),CSA + 端短路到地。 如果在功率開關(guān)關(guān)斷的時(shí)候CSA + 短路到地,則每個(gè)周期功率開關(guān)開始打開的時(shí)候,CSA + 需要較長(zhǎng)的恢復(fù)時(shí)間,會(huì)影響檢測(cè)精度。 另一方面,功率開關(guān)導(dǎo)通時(shí)是工作在線性區(qū),因此PM0 和PM_ P 的V DS電壓差對(duì)電流鏡的鏡像精度影響較大,所以PM1 必須具有較小V DS值,可以適當(dāng)?shù)卦龃笏膶掗L(zhǎng)比。
在設(shè)計(jì)中,取PM0 和PM_ P 的寬長(zhǎng)比的比值為1 ∶3000 ,因此流過(guò)PM0 和PM_ P 的電流比值也為1 ∶3000. 可得檢測(cè)電壓V IL 為:
其中; IL 為流過(guò)功率開關(guān)的電流,也直接反映了電感電流的信息。
峰值電流箝位電路原理如圖6 所示,該電路同時(shí)也是電壓環(huán)和電流環(huán)的結(jié)合點(diǎn)。 圖中V IL 即為(2) 式中定義,V sense和V peak即為圖3 中所定義。
當(dāng)變換器工作在重載條件下時(shí),誤差放大器的輸出較高,NM0 導(dǎo)通,V peak 值就會(huì)受EA 輸出的調(diào)節(jié)。 假設(shè)NM0 導(dǎo)通時(shí)工作在飽和區(qū),則:
其中 INM0為流過(guò)NM0 的電流,隨誤差放大器輸出的變化而變化。 V sense 和V peak 是輸入到后級(jí)電流比較器的信號(hào)。
結(jié)合(2) ~ (4) 式,就可以得到電感電流和EA 輸出的關(guān)系式。
當(dāng)變換器工作在輕載條件下時(shí),誤差放大器輸出較低而不足以使得NM0 導(dǎo)通,此時(shí),V peak 值就不再隨著EA 輸出的變化而調(diào)節(jié)。
此時(shí), (5) 式中INMO可以看作零。
根據(jù)(5) 和(7) 式,可以設(shè)計(jì)合適的電路參數(shù),以保證在應(yīng)用所需的負(fù)載范圍之內(nèi)誤差放大器不會(huì)飽和,同時(shí)可以限制最大的負(fù)載值,且當(dāng)負(fù)載低于一定值時(shí)實(shí)現(xiàn)峰值電流箝位控制。
圖6 中的Slop + 和Slop - 兩個(gè)節(jié)點(diǎn)主要用來(lái)加入斜坡電流,當(dāng)變換器工作在重載條件下且占空比大于50 %時(shí),則實(shí)現(xiàn)斜坡補(bǔ)償?shù)墓δ堋?/P>
圖6 峰值電流箝位模塊
4 測(cè)試結(jié)果
該變換器芯片在115μm BCD 工藝下設(shè)計(jì)和制造。
圖7 為該變換器芯片的顯微照片。 整個(gè)芯片面積為615mm2 ,芯片下部主要是集成的功率開關(guān)和同步整流開關(guān),面積約為2mm2 ,上部為控制器。
測(cè)試中應(yīng)用的Buck 變換器拓?fù)淙鐖D8 示。 設(shè)置工作頻率為1MHz , 輸入電壓范圍2 ~ 7V , 輸出電壓115V. 改變分壓電阻的取值可改變輸出電壓,表1 為一組典型應(yīng)用下的分壓電阻取值參考。 電路可承受的負(fù)載范圍為0~500mA ,足以能滿足一般便攜式設(shè)備的應(yīng)用需求。
表1 不同輸出電壓下的分壓電阻取值
圖9 給出變換器在重載工作條件下的測(cè)試結(jié)果,負(fù)載電流為300mA. 可看到此時(shí)變換器以時(shí)鐘頻率穩(wěn)定工作在PWM 模式,測(cè)得輸出電壓的紋波為516mV. 圖10 是變換器工作在最大負(fù)載500mA 下的測(cè)試結(jié)果,可看到變換器依然以恒定頻率穩(wěn)定地工作在PWM 模式下,輸出電壓紋波為616mV ,滿足了設(shè)計(jì)的負(fù)載范圍要求。
圖11 為輕載條件下的測(cè)試結(jié)果, 負(fù)載電流為50mA. 此時(shí)變換器工作在Burst 模式,即以時(shí)鐘頻率連續(xù)工作若干周期之后又連續(xù)關(guān)斷若干周期。 負(fù)載越低,關(guān)斷的時(shí)鐘周期就越多。 此時(shí)測(cè)得輸出電壓紋波為3912mV. 如前述,紋波電壓的大小主要由片內(nèi)Burst 比較器的遲滯窗口所控制。
圖11 Burst 工作模式測(cè)試曲線
圖12 所示是負(fù)載跳變時(shí)輸出響應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。 測(cè)試中使負(fù)載在50 和300mA 之間跳變,負(fù)載變化速率為800mA/μs. 波形顯示,Burst 工作模式下的輸出電壓平均值比PWM 模式下的高20mV ,這是由于在兩種模式下采用了不同基準(zhǔn)。 在重載跳變到輕載的過(guò)程中,過(guò)沖電壓為32mV ,恢復(fù)時(shí)間為2μs ,較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)于過(guò)沖電壓的抑制,且在兩個(gè)周期內(nèi)就可以完成模式轉(zhuǎn)換達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài),響應(yīng)速度相當(dāng)快。
圖12 負(fù)載跳變測(cè)試曲線
以上即為該變換器的穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)測(cè)試結(jié)果。 表2 是測(cè)試結(jié)果與仿真結(jié)果的比較,測(cè)試中不可避免地會(huì)有一些測(cè)試誤差和寄生參數(shù)的影響,但總體上還是符合設(shè)計(jì)指標(biāo)的,即已達(dá)到了預(yù)期的設(shè)計(jì)要求。
表2 測(cè)試結(jié)果與仿真結(jié)果的比較
圖13 是變換器效率測(cè)試曲線,可以看到,當(dāng)變換器工作在PWM/ Burst 多模式調(diào)制狀態(tài)時(shí),由于在
評(píng)論