超低IQ LDO穩(wěn)壓器的選擇技巧
電子應(yīng)用設(shè)計人員現(xiàn)今面臨的一項極重要挑戰(zhàn)是將電子系統(tǒng)能耗降至最低。為了達到此目的,大多數(shù)系統(tǒng)利用不同的低功率模式,幫助降低整體功耗。在利用不同工作模式時,系統(tǒng)供電電流差異極大,低者如休眠模式下僅為數(shù)微安(μA)或不足1微安,高者如完整功率模式下達數(shù)十毫安(mA)甚至數(shù)百毫安。低壓降線性穩(wěn)壓器(通常簡稱為LDO)是任何電源系統(tǒng)的常見構(gòu)建模塊,而線性穩(wěn)壓器的選擇對系統(tǒng)總體能耗有重要影響。不僅如此,系統(tǒng)設(shè)計常常要求LDO不僅具有超低靜態(tài)電流特性,還應(yīng)當(dāng)提供良好的動態(tài)性能,確保提供穩(wěn)定及無噪聲的電壓輸入端,適合敏感電路應(yīng)用。這些要求還常常相互排斥,為IC設(shè)計人員帶來切實的挑戰(zhàn)。因此,市場上同時滿足兩方面要求的LDO為數(shù)不多。
本文將探討在選擇LDO時需要在提供低IQ與良好動態(tài)性能之間進行的折衷,及現(xiàn)時一些能達至可接受的平衡的技巧。
選擇LDO時要顧及的因素
為低功率應(yīng)用選擇線性穩(wěn)壓器時,工程師主要搜尋符合他們輸入電壓及輸出電流規(guī)格的超低IQ(本文的定義是靜態(tài)電流IQ15 μA) LDO.當(dāng)根據(jù)IQ規(guī)格來進行選擇可提供一些很好的LDO電流消耗相關(guān)的初始信息,但IQ相同或近似的兩款LDO在動態(tài)性能方面可能差異很大。如果我們回想起來IQ的定義是沒有施加任何負載條件下的接地電流消耗,那么IQ就變成一個實際參數(shù)了。在實際案例中,可能更適宜于查看極輕載條件下的接地電流消耗(數(shù)微安至數(shù)百微安)。需要說明的是,在評估不同制造商的各種LDO產(chǎn)品后,不難發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)表中的IQ規(guī)格僅針對的是完美的空載條件,而非較真實的10至100 μA輸出負載。某些時候,知道與輸入電壓或溫度相關(guān)的接地電流特性也有實質(zhì)意義。市場上某些穩(wěn)壓器在輸入電壓下降時接地電流明顯增大,LDO進入其壓降區(qū)。在選擇用于電池供電設(shè)備的LDO時,這可能是重要因素。其它意料之外的電流消耗可能對產(chǎn)品有負責(zé)影響,大幅縮短電池使用時間。如果應(yīng)用在大部分時間處于空閑或休眠狀態(tài),僅消耗極小電流,這種意料之外的影響就尤為嚴(yán)重了。設(shè)計人員應(yīng)常閱讀數(shù)據(jù)表的IQ規(guī)格,而且若有可能,在決定選擇某個特定LDO之前,還要審查相關(guān)的IQ與ILOAD對比圖表。
超低IQ LDO的動態(tài)性能參數(shù)
影響超低IQ LDO穩(wěn)壓器動態(tài)性能參數(shù)主要有兩項因素。一是使用的技術(shù)節(jié)點。安森美半導(dǎo)體的大多數(shù)超低IQ LDO采用的是先進的CMOS或BiCMOS技術(shù),并提供針對低功耗、高速電源管理IC優(yōu)化的特定工藝流程。雖然恰當(dāng)?shù)募夹g(shù)選擇必不可少,但很明顯的是,這還不能確保LDO穩(wěn)壓器具有良好的動態(tài)性能。確定最終性能的第二個關(guān)鍵是設(shè)計LDO時應(yīng)用的設(shè)計技術(shù),而這來自于此領(lǐng)域的設(shè)計經(jīng)驗。安森美半導(dǎo)體在這個領(lǐng)域擁有40多年的經(jīng)驗,最新世代的器件同時提供超低噪聲、良好的電源抑制比(PSRR)及超低IQ.為了詳細闡明這一點,下文將探討不同類型穩(wěn)壓器的動態(tài)性能。
圖1:MC78LC負載瞬態(tài)改善
不同類型的超低IQ LDO簡介
1) 恒定偏置LDO穩(wěn)壓器
傳統(tǒng)上的超低IQ CMOS LDO使用恒定偏置(constant biasing)原理。這表示在能夠提供的輸出電流范圍內(nèi),接地電流消耗保持相對恒定。如MC78LC或NCP551器件,各自的接地電流IGND(或靜態(tài)電流IQ)分別為1.5 μA和4 μA.這些器件非常適合性能要求相對不那么嚴(yán)格的電池供電應(yīng)用。它們的主要劣勢是動態(tài)性能較差,如負載及線路瞬態(tài)、PSRR或輸出噪聲等。通??梢允褂幂^大的輸出電容來調(diào)節(jié)動態(tài)性能。圖1顯示了通過將輸出電容由1 μF增加至100 μF來改善MC78LC的負載瞬態(tài)過沖及欠沖。
但提升輸出電容COUT并不總是能夠提供想要的性能,甚至還可能更麻煩,因可能需要增加額外保護二極管,或某些應(yīng)用要求快速設(shè)定時間、小尺寸方案或小浪涌電流。在這些情況下,推薦使用后文提到的一些更新的LDO.
2) 正比例偏置LDO穩(wěn)壓器
為了改善恒定偏置(恒定IGND) LDO較弱的動態(tài)性能,一些相對較新器件的接地電流與輸出電流成正比例地變化。這樣的LDO有如安森美半導(dǎo)體的NCP4681及NCP4624,兩者的典型靜態(tài)電流分別為1 μA和2 μA.圖2顯示了正比例IGND LDO所使用的概念。這些器件被設(shè)計為在輸出電流IOUT > 2 mA時IGND開始上升。這就確保LDO在輕載時的電流消耗實際上恒定,符合數(shù)據(jù)表中的IQ規(guī)格。
圖2:NCP4681、NCP4624的IGND vs. IOUT.
3) 自適應(yīng)偏置LDO穩(wěn)壓器
為了同時提供極佳的動態(tài)參數(shù)及超低IQ,最新代的安森美半導(dǎo)體LDO應(yīng)用了稱作"自適應(yīng)接地電流"的技術(shù)。這些穩(wěn)壓器使用特殊技巧來在某種輸出電流電平提升接地電流,而不會損及輕載能效。正因為此,終端應(yīng)用可以提供良好的負載/線路瞬態(tài)、PSRR及輸出噪聲性能的優(yōu)勢。帶自適應(yīng)偏置技術(shù)的IC有如NCP4587/NCP4589及NCP702,IQ分別為1.5 μA和9 μA.NCP702還在噪聲方面進行了額外優(yōu)化,100 Hz至100 kHz噪聲帶寬時的典型噪聲僅為11.5 μVRMS.它非常適合于為要求長電池使用時間及小方案尺寸環(huán)境中的敏感模擬及射頻電路供電。
圖3:NCP702輸出噪聲密度。
三類超低IQ LDO動態(tài)性能比較
圖4顯示了上述三類超低IQ LDO的接地電流與輸出電流對比圖。比較中使用的所有LDO都具有在1 μA至1.5 μA之間的極相近靜態(tài)電流規(guī)格。它們的接地電流與輸出電流的相關(guān)關(guān)系大為不同。因此,這些穩(wěn)壓器的動態(tài)性能也差異極大。NCP4587作為自適應(yīng)偏置LDO,其負載瞬態(tài)性能優(yōu)勢很明顯。三款器件的瞬態(tài)幅度比較如圖5所示。
圖4:IGND vs. IOUT比較。
圖5:負載瞬態(tài)比較。
表1:超低IQ LDO負載瞬態(tài)幅度比較。
AE引腳功能
另一值得提及可以用于改善超低IQ LDO動態(tài)參數(shù)的特性通常稱作Auto-ECO(AE)功能(見圖6)。將額外的AE引腳設(shè)為邏輯低電平時,用戶可以將LDO穩(wěn)壓器配置為自適應(yīng)接地電流超低IQ LDO.將AE引腳拉至高電平時,低輸出電流時的接地電流消耗上升至約40 μA,實質(zhì)提升從極輕載到高負載條件下的負載瞬態(tài)響應(yīng)。在負載電流較大時,兩種工作模式下IGND大致相等,動態(tài)性能基本沒有差別。圖7顯示了AE引腳狀態(tài)影響LDO穩(wěn)壓器的接地電流消耗。
圖6:帶AE引腳的NCP4587/9 LDO電路圖。
圖7:帶AE引腳的NCP4587/9 LDO電流。
在系統(tǒng)周期性地從休眠模式進入滿額功率模式的應(yīng)用中,AE引腳非常有用。如果這兩種狀態(tài)之間的過渡極快,就會遭受大的欠沖。雖然NCP4587/9與其它LDO相比具有極佳的負載瞬態(tài)響應(yīng),通過將AE引腳與微控制器(MCU) I/O線路(舉例而言)連接并通過此I/O線路提前提示負載電流需求
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