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          一種新型超快速軟恢復(fù)外延二極管

          作者: 時間:2012-03-15 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          1.引言

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/230961.htm

          隨著高頻開關(guān)功率器件的發(fā)展,高頻開關(guān)電源在我們生活中的應(yīng)用越加廣泛和深入。應(yīng)用在高頻開關(guān)電路中的二極管主要是快速恢復(fù),簡稱FRED(Fast Recovery Epitaxial Diode)。雖然FRED不是開關(guān)電源中的主動開關(guān)器件,但是在高頻開關(guān)電路中應(yīng)用到主開關(guān)器件的地方都必須配合使用FRED。性能良好的FRED對提高開關(guān)電源總體性能而言是至關(guān)重要的。

          但是很多工程師在選擇FRED時,都只是片面注重反向恢復(fù)時間trr等單一參數(shù)來進(jìn)行橫向比較及最終選擇FRED產(chǎn)品進(jìn)行設(shè)計和測試。衡量一個FRED器件是否符合某個產(chǎn)品的具體應(yīng)用,單個參數(shù)的對比是不夠的。而且半導(dǎo)體器件的性能參數(shù)都是以廠家設(shè)定的情況下的測試數(shù)據(jù)描述的,所以測試條件不同,參數(shù)大都不同。所以本文這里列出了FRED關(guān)鍵性能的參數(shù)來描述它們在具體應(yīng)用中的影響,并以次為描述Microsemi公司 系列FRED的主要優(yōu)點,為客戶的選擇和設(shè)計提供參考。

          2.二極管的主要性能參數(shù)

          2.1.靜態(tài)參數(shù)

          下圖為二極管靜態(tài)特性的基本描述。靜態(tài)特性又分為正向?qū)ㄌ匦院头聪蜃钄嗵匦浴?/p>

          圖1 二極管靜態(tài)特性

          1) IF– 二極管的正向電流。通常都用最大正向直流電流IFAV來描述二極管的容量或帶載能力。這個參數(shù)可通過如下公式計算:

          對用戶應(yīng)用而言,不同的殼溫有不同對應(yīng)的IFAV數(shù)值。

          2) VF– 二極管的正向?qū)妷骸F隨著二極管正向電流IF的增加而增加。VF是負(fù)溫度系數(shù),所以基本不建議二極管并聯(lián)。VF和IF的乘積為二極管的導(dǎo)通損耗,所以一般情況下,希望二極管的VF值盡量小。

          3) VR– 二極管的最大反向阻斷電壓。這是二極管最大工作的額定電壓。在二極管的規(guī)格書內(nèi)這個數(shù)值統(tǒng)一了最大重復(fù)反向電壓峰值VRRM以及最大反向工作電壓峰值VRWM。這個參數(shù)具有正溫度系數(shù),通常規(guī)格書都標(biāo)稱250C的最小值。

          4) IRM–二極管最大反向漏電流。這是一個具有正溫度系數(shù)的參數(shù)。這個數(shù)值與VR的乘積為二極管阻斷狀態(tài)下的損耗。另外這個數(shù)值是影響二極管的可靠性的相關(guān)參數(shù)。

          5) EAVL–雪崩耐量。這個參數(shù)用于描述二極管的魯棒性。如果電路實際電壓超過VR值,一般情況下二極管都會損壞。但是對于某些具有雪崩耐量額定EAVL的二極管,如,如果電壓尖峰總能量小于雪崩耐量額定EAVL,二極管仍然不會損壞。

          2.2.動態(tài)參數(shù)

          下圖為二極管動態(tài)特性的基本描述。在不同的測試條件,如IF,VR,di/dt,TJ等,測試的結(jié)果就會不同。所有的參數(shù)對比必須在同樣的測試條件下才有意義。

          圖2 二極管動態(tài)特性

          1) trr– 反向恢復(fù)時間。其定義是從電流過零開始,直到通過IRRM和0.25 IRRM兩點的直線的過零點,如上圖所示。這個參數(shù)描述二極管反向恢復(fù)的速度,在ZVS電路中是比較重要的指標(biāo)。但是它不能直接衡量二極管的反向損耗。一般情況下,trr的值隨溫度的增加而大幅度增加,隨測試di/dt的增加而小幅度減小,低IF,VR有小的trr值。通常不同生產(chǎn)廠家都會給出小注入條件IFAV=1A時的trr作為用戶橫向?qū)Ρ取?/p>

          2) IRRM– 最大反向恢復(fù)電流。這參數(shù)的大小將嚴(yán)重影響對應(yīng)IGBT/MOSFET的電流應(yīng)力和開通損耗。一般情況下,IRRM值隨溫度的增加而增加,隨測試di/dt的增加而增加。

          3) Qrr– 反向恢復(fù)電荷。Qrr定義為trr期間電流-時間曲線包圍的面積。

          Qrr與二極管的反向恢復(fù)損耗呈正比。衡量二極管的關(guān)斷損耗性能的參數(shù)應(yīng)該是Qrr,而不應(yīng)該是單獨的trr或IRRM。

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