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          EMC 的預(yù)測試技術(shù)是保證產(chǎn)品質(zhì)量不可少的手段

          作者: 時間:2011-12-18 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          1 引言
          性(E1ectromagnetic Compatibility, EMC)是指電子、電氣設(shè)備共處一個環(huán)境中能互不干擾、兼容工作的能力。對于一個設(shè)備,既要求它不產(chǎn)生過大的干擾使其它設(shè)備工作失常,也要求它具有一定的抗干擾能力,以保證在其它設(shè)備發(fā)出的干擾環(huán)境下能正常工作。
          為了獲得一個產(chǎn)品(設(shè)備、系統(tǒng))優(yōu)良的EMC,其中之一是預(yù)測產(chǎn)品可能存在的EMC問題。它包括了以下二個方面:⑴電磁干擾(Electromagnetic Interference, EMI)特性、干擾耦合路徑特性、受試設(shè)備的電磁敏感度(Electromagnetic Susceptibility, EMS)特性的物理模擬預(yù)測與數(shù)學(xué)模擬預(yù)測;⑵研究科學(xué)可行的EMC測試與試驗技術(shù),即包括測試方法與測試設(shè)備。值此,本文將對EMC技術(shù)特征與新型測試設(shè)備及其測試應(yīng)用實例作分析說明。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/231453.htm

          2 EMC必不可少
          一個產(chǎn)品EMC的評價最終歸結(jié)為是否符合相應(yīng)的EMC標(biāo)準(zhǔn),實施這種評價稱為EMC鑒定測試(CompliaHce Measurement)。它是在一個產(chǎn)品投放市場前的最后階段完成的。其實,按照一個產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)全過程中所需要的EMC測試量而言。鑒定測試只占了不到10%,90%的測試工作量是在此前完成的,包括準(zhǔn)電路的板卡、原理樣機(jī)、初樣到正樣研制的過程中,通過不斷的EMC測試逐步實現(xiàn)產(chǎn)品良好的性。將這90%的測試工作總稱為EMC。預(yù)測試可以比鑒定測試精確度低些、粗略一些,以便迅速找出問題并不使測試設(shè)施費用過高。
          預(yù)測試儀表在保證必需的精度的同時,縮短測量時間是一個不可忽視的因素。如采用頻譜分析儀既可以保證與EMI接收機(jī)有相似的精度,又可顯著提高測量速度,而且價格不足EMI接收機(jī)的一半。因此,預(yù)測試常采用頻譜分析儀代替EMI接收機(jī),如圖2(b)所示。也就是說,預(yù)測試系統(tǒng)可以使單位具有全程的EMC檢測手段,可以全面提高產(chǎn)品的EMC特性。

          3 如何建立EMC預(yù)測試系統(tǒng)
          所謂預(yù)測試系統(tǒng),實際上也是嚴(yán)格按照國家各種EMC標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的,包括設(shè)備、方法等等。但是,預(yù)測試系統(tǒng)具有區(qū)別于鑒定測試的特點主要如下:其一是對環(huán)境要求較低,EMC標(biāo)準(zhǔn)對于環(huán)境的要求比較嚴(yán)格,一般必須在屏蔽室或暗室中進(jìn)行,但預(yù)測試的主要目的在于初步摸底,只要找到問題所在即可,所以對環(huán)境要求可以低一些,屏蔽室和暗室的尺寸、指標(biāo)可以低于認(rèn)證測試;其二是核心測量儀器利用高性能頻譜分析儀,高性能的頻譜分析儀完全具備了EMC檢測的能力,可以取代傳統(tǒng)的EMI接收機(jī),目前有一個共識,頻譜分析儀是建立預(yù)測試系統(tǒng)的最佳選擇;其三是專用的中文軟件;其四是EMC預(yù)測試系統(tǒng)的靈魂是測試軟件與測試附件(傳感器/天線、LISN、衰減器等)。
          3.1 EMI預(yù)測試系統(tǒng)的基本組成。
          EMI測試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)如圖1所示。



          圖1 EMI測試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)示意圖


          系統(tǒng)主要按照GJBl51A的CEl01、CEi02、REi01和REl02對電子、電氣或機(jī)電產(chǎn)品的EMI性能進(jìn)行測試,檢查受試設(shè)備的相關(guān)EMI性能是否合格。如果不合格必須指出頻率點及其對應(yīng)的幅度值,以備產(chǎn)品設(shè)計人員有針對性地提出解決辦法,將問題較早地消除,為產(chǎn)品進(jìn)入市場前能通過EMI標(biāo)準(zhǔn)測試奠定堅實的基礎(chǔ)。
          系統(tǒng)所采取的測試方法按照前述GJBl52A中有關(guān)部分所規(guī)定的程序進(jìn)行,包括標(biāo)準(zhǔn)的檢查配置、正式測試配置、校準(zhǔn)步驟、測試步驟和測試完畢所應(yīng)提交的數(shù)據(jù)。
          基本的系統(tǒng)測量指標(biāo):頻率范圍3Hz-26.5GHz;距離容差±5%;頻率容差±2%;,測量接收機(jī)幅度容差±2dB;測量系統(tǒng)(包括測量接收機(jī)、傳感器、電纜等)容差±3dB;時間(波形)容差±5%。

          3.2 系統(tǒng)主要分為硬件和軟件兩部分
          ⑴ 硬件部分
          包括三個分系統(tǒng):前端子系統(tǒng)(主要包括傳感器,如電流探頭、環(huán)形天線、桿天線、雙錐天線、雙脊喇叭天線;電源阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò);衰減器等)、接收機(jī)子系統(tǒng)(主要包括頻譜儀、射頻預(yù)選器和EMI分辨帶寬選件等)和主控計算機(jī)子系統(tǒng)(主要包括IBM兼容機(jī)、PC-GPIB卡、GPIB線纜)。
          ① 接收機(jī)子系統(tǒng)功能與指標(biāo)
          接收機(jī)子系統(tǒng)是采用新型的E4440A型EMI測量接收機(jī)(安捷倫公司產(chǎn))。功能與指標(biāo)如下。
          E4440APSA系列頻譜分析儀與全新N9039A射頻預(yù)選器雙劍合璧且精確、快速、頻率高達(dá)50GHz的EMI測量接收機(jī)。這款新型接收機(jī)能夠進(jìn)行精確和可重復(fù)的測量。測量系統(tǒng)可在整個測量帶寬上提供最佳的幅度和頻率精度。該系統(tǒng)每次掃描8192個數(shù)據(jù)點,可以分析超寬掃寬,同時擁有CISPR所要求的分辨率。另外,全新的射頻預(yù)選器使系統(tǒng)完全符合CISPR標(biāo)準(zhǔn)。可以從旁路快速切換到預(yù)選模式,以進(jìn)行兼容性測量。EMI測量系統(tǒng)可提供需要的幅度性能和系統(tǒng)精度,以實現(xiàn)低投入高產(chǎn)出。
          ② EMI測量系統(tǒng)描述和元件
          包含帶有EMI專用軟件的頻譜分析儀E4440A PSA系列、射頻預(yù)選器N9039A與N5181A系統(tǒng)調(diào)整信號發(fā)生器。
          ③ 進(jìn)行發(fā)射分析所需的所有特性
          9kHz至1GHz射頻預(yù)選;ClSPR帶寬(200Hz、9kHz、120kHz和1MHz);檢波器(平均值、準(zhǔn)峰值和峰值);限制線和限制范圍;天線、線纜、放大器和其他設(shè)備的校正因數(shù);利用外部信號源進(jìn)行的預(yù)選濾波器校準(zhǔn);執(zhí)行發(fā)射保護(hù)的內(nèi)置限制器;極其靈敏的前置放大器;可從101個變到8192個的數(shù)據(jù)點。
          ④ 測量精度和可重復(fù)性
          1GHz頻率內(nèi)的輻射發(fā)射頻段靈敏度為152dBm;絕對幅度精度為±1.0dB,9kHz至1GHz;輸入VSWR為1.2:1;預(yù)選TOI為+5dBm;100MHz掃寬時的掃寬精度:20kHz典型值。
          ⑵ 軟件部分
          從功能上可以將該軟件系統(tǒng)劃分為五個模塊:系統(tǒng)管理模塊、系統(tǒng)檢測模塊、掃描模塊、數(shù)據(jù)處理模塊和測試結(jié)果輸出模塊。

          4 實用新型的性(EMC)測試設(shè)備
          4.1 EMSCAN電磁干擾
          采用陣列探頭和電子掃描技術(shù)的近場測量系統(tǒng),能獲取被測物完整電磁場信息的測量系統(tǒng),集EMC診斷和EMI測試為一體的電磁兼容綜合測量系統(tǒng)。
          ⑴ 獨特的EMC診斷系統(tǒng)
          由1218個探頭組成的陣列掃描器,實時看清電磁場,精確定位窄帶和寬帶電磁干擾源[見圖2(a)所示],解決各類EMI問題;能實時顯示EMS測試對被測物內(nèi)部電路的影響,快速解決EMS問題;快速準(zhǔn)確評估機(jī)箱的屏蔽性能,能幫助工程師迅速積累正確的解決EMI/EMS問題的經(jīng)驗。

          圖2 (a) 獨特的EMC診斷系統(tǒng)示意圖


          (b)為EMI預(yù)兼容測試系統(tǒng)示意圖



          ⑵ 主要特征
          最寬頻率范圍的近場測試工具:50kHz-4GHz,具有頻譜掃描、空間掃描、頻譜/空間掃描,天線掃描等功能;具有單次掃描、連續(xù)掃描、同步掃描等方式,具有峰值保持功能;
          高速掃描,利用連續(xù)掃描和峰值保持功能,能捕捉到一般手段所無法測量到的瞬態(tài)電磁干擾;頻譜/空間掃描能一次測量獲取被測物完整電磁場信息,能迅速準(zhǔn)確定位電磁干擾源;全方位測量任意體積和重量的被測物,包括PCB、電纜、機(jī)箱、機(jī)架等;呈人字形交叉排列的專利電磁場陣列掃描器,能測量各個方向的電磁場;功能強(qiáng)大的后臺分析和處理能力,可以把測量結(jié)果和PCB的光繪文件疊加在一起顯示。
          ⑶ EMI預(yù)兼容測試功能
          圖2(b)為EMI預(yù)兼容測試系統(tǒng)示意圖。配套LISN(線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò))/電流探頭/吸收鉗/天線等附件后,EMSCAN能進(jìn)行準(zhǔn)確、高效的EMI預(yù)兼容測試,具有背景信號自動識別功能,特別適合企業(yè)在普通實驗室進(jìn)行精確的EMI預(yù)兼容測試。
          EMSCAN控制軟件的ASM(天線掃描模塊),用于電磁預(yù)兼容測試。能依據(jù)CISPR 11/14/15/22/25/GJB152A-CEl02進(jìn)行傳導(dǎo)發(fā)射測試。依據(jù)CISPR 11/14/22/25/GJB1 52A-REl02進(jìn)行功率或者輻射發(fā)射測試。

          4.2 Langer近場探頭.
          這是電磁兼容工程師必備的基本工具,多達(dá)19個各種形狀的探頭,可以完成幾乎所有的電磁場測試任務(wù):具有多種分辨率的探頭,實現(xiàn)從粗略定位到精細(xì)定位;低成本高性能;頻率范圍覆蓋100kHz-3GHz;適用于檢查機(jī)箱泄漏、PCB內(nèi)部電磁場分布、電纜上的電磁場分布等;使用簡單,攜帶方便。
          近場探頭的用途:主要應(yīng)用于查找干擾源,判定干擾產(chǎn)生的原因;可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強(qiáng)度;可以檢測磁場耦合的通道,從而調(diào)整連接器或者元器件的位置;可以檢測PCB附近的磁場環(huán)境。
          為了降低干擾,尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的。通過近場測量可以很方便的實現(xiàn)定位的功能,甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線。圖3(a)所示為環(huán)形探頭,分辨率從1mm到25mm,適合檢測機(jī)箱泄漏、電流方向等,檢測電纜及元器件連接處等產(chǎn)生的磁場。圖3(b)所示為檢測IC引腳的磁場分布,檢測IC下面或?qū)拰?dǎo)體的圓形磁場。


          圖3(a)環(huán)形探頭 ;(b)為檢測IC引腳的磁場分布示意



          4.3 EMC測量系統(tǒng)(無需暗室/屏蔽室)
          如果想在普通環(huán)境下測量被測設(shè)備(EUT)的電磁輻射,就必須設(shè)法“消除”背景噪聲的影響。當(dāng)今己開發(fā)出多種EMC測量系統(tǒng),值此以CASSPER系統(tǒng)為例作新概念說明。
          當(dāng)今的虛擬暗室系統(tǒng),是最新的EMI測試系統(tǒng)。它具有獨一無二的頻率同步及相位鎖定功能,是一個雙通道、多端口EMI接收機(jī),符合CISPR-16標(biāo)準(zhǔn)要求。
          其虛擬暗室系統(tǒng)接收機(jī)使用兩套時間與頻率都同步的通道同時去接收一個復(fù)雜系統(tǒng)中的信號,用來進(jìn)行電磁發(fā)射的測量和電磁干擾源的定位。虛擬暗室系統(tǒng)把先進(jìn)的數(shù)字信號處理技術(shù)(DSP)引入到了EMI測量中,能通過算法準(zhǔn)確濾除背景噪聲,得到被測設(shè)備(EUT)實際的準(zhǔn)確的電磁輻射情況。CASSPER不僅能濾除一般的背景噪聲,還能精確提取與背景噪聲相同頻率的EUT信號。即使背景噪聲的幅度或者頻率被調(diào)制了,其背景噪聲濾除性能也不會下降。虛擬暗室系統(tǒng)也能濾除來自多個地方的背景噪聲。能在市內(nèi)區(qū)域精確測量電子設(shè)備的電磁發(fā)射。
          ⑴ 系統(tǒng)組成
          系統(tǒng)由雙通道EMI接收機(jī)、高性能計算機(jī)、雙通道高速DSP卡(內(nèi)置于計算機(jī))、天線、近場探頭以及測量軟件等組成,見圖4(a)所示。
          從圖4(a)可見該系統(tǒng)的接收機(jī)有A/B兩個通道,每個通道都在接收機(jī)的前面板上設(shè)有2至4個端口,不同頻段的天線可以接到不同的端口上,系統(tǒng)可以對不同頻段的天線進(jìn)行自動切換。接收機(jī)把收到的信號經(jīng)過中頻處理后,由AD變換器轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號,再由計算機(jī)內(nèi)部的高速雙通道DSP卡對兩個通道的數(shù)據(jù)按照有專利技術(shù)的算法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,最終由計算機(jī)進(jìn)行分析、存儲、顯示、打印等處理。

          圖4 (a) 虛擬暗室EMC測量系統(tǒng);


          (b) “時間/頻率/相位”同步識別技術(shù)應(yīng)用示意圖



          ⑵ 普通環(huán)境下的電磁預(yù)兼容測試
          在被測設(shè)備(EUT)的前方一定距離(d)處放置一天線并連接到通道A,負(fù)責(zé)接收來自EUT以及背景共同作用的信號。另外一個天線則放置在離EUT較遠(yuǎn)的地方,其距離至少是d的十倍,并連接到通道B,負(fù)責(zé)測量來自整個背景的噪聲情況。
          同步的雙通道EMI接收機(jī),可以保證背景信號能同時被接收機(jī)的兩個通道分別收到。從而可以將收到的共同具有的背景噪聲記錄下來并濾除掉,這就創(chuàng)建了一個虛擬的第三個測量通道,這種測量方法可以很真實地反映被測設(shè)備的電磁輻射情況。
          系統(tǒng)在“消除”背景噪聲方面.采用了“時間/頻率/相位”同步識別技術(shù),通過相位識別,把背景噪聲用傅立葉計算方法剔除掉,并能提取被調(diào)制的EUT的信號,也能提取與背景噪聲頻率一致的EUT信號,見圖4(b)所示。
          這種測試方法允許背景噪聲是不穩(wěn)定的,如果背景噪聲在測試場地是“均勻”的,則測試結(jié)果能與標(biāo)準(zhǔn)EMC場地的測試結(jié)果保持基本一致。而在實際測試中,“背景噪聲均勻”的環(huán)境是很容易找到的。
          ⑶ 定位輻射源的測試
          相同頻率的兩個信號,未必來自同一信號源。在定位輻射源的測試中,通道A接到一個放在EUT附近的遠(yuǎn)場天線或者電流卡鉗,探測EUT產(chǎn)生的電磁干擾,通道B連接一個近場探頭。移動通道B的探頭,通過兩個信號的相關(guān)性來確定輻射源的位置。這就意味著即使不同的幾個發(fā)射器發(fā)出同樣頻率和幅度的信號,系統(tǒng)也可以加以區(qū)分,從而準(zhǔn)確定位干擾源。
          該系統(tǒng)由于能通過“時間/頻率/相位”來識別兩個天線接收到信號的相關(guān)性,所以在EMI定位方面,它能找到真正使遠(yuǎn)場測試不合格的干擾源位置。找干擾源的時候,一個顯示窗口上同時顯示遠(yuǎn)場數(shù)據(jù)(天線收到的信號)和近場數(shù)據(jù)(探頭收到的信號),能在產(chǎn)生相同頻率的多個位置中找出與遠(yuǎn)場信號相關(guān)聯(lián)的位置,可以節(jié)約大量的時間,能應(yīng)用于從板級設(shè)計一直到系統(tǒng)級設(shè)計。

          5 EMC診斷實施舉例
          5.1 借助一些診斷工具進(jìn)一步定位EMC問題
          在通過EMC預(yù)測量發(fā)現(xiàn)設(shè)備(或分系統(tǒng))的EMC問題后,可以借助一些診斷工具進(jìn)一步定位EMC問題。這有助于測試(設(shè)計)工程師有針對性的提出EMC對策,順利解決已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的EMC問題。以下介紹當(dāng)前使用比較普遍的84105EM診斷系統(tǒng)。
          其系統(tǒng)功能為用于表面電流、插槽、電纜和集成電路的磁場輻射測量。其系統(tǒng)組成是由三EMC分析儀、近場探頭和前置預(yù)放三部分組成。系統(tǒng)特點:對環(huán)境沒有特別要求(不需要屏蔽室或暗室),可測頻段寬,測量精度高,只配置了磁場探頭,操作簡單、價格較低。

          5.2 簡述電磁故障診斷84105EM故障診斷系統(tǒng)診斷內(nèi)容與測量配置。
          ⑴ 診斷目的
          針對已經(jīng)檢測出的EMI不合格頻率點,采用近場檢測的方法進(jìn)一步定位干擾發(fā)生點;針對已經(jīng)檢測出的EMS不合格頻率點,進(jìn)一步定位敏感度薄弱部位。
          ⑵ 診斷工具
          采用安捷倫84105EM電磁兼容診斷系統(tǒng),該系統(tǒng)由EMC分析儀E7401A(含選件跟蹤發(fā)生器前置放大器11909A)和近場探頭套(含11941A和11940A近場探頭)組成,參見圖5(a)。



          圖5 (a) 電磁故障診斷系統(tǒng)測量配置示意圖;


          (b)為診斷屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位測量示意

          近場探頭套所包含的探頭11941A的測量頻段為9kHz-30MHz,11940A的測量頻段為30MHz~1MHz,它們都采用雙環(huán)設(shè)計。探頭的兩個環(huán)天線在平衡/不平衡變換器(簡稱“巴侖”)合并變?yōu)椴黄胶廨敵?同軸線采用雙環(huán)可使它們的電場感應(yīng)電壓分量反相,相互抵消,只保留磁場感應(yīng)電壓分量)。理論分析明在近場探測情況下,電場探頭(如單極或偶極振子)不可避免或容性耦合周圍的雜散信號,難實現(xiàn)可重復(fù)的測量,而環(huán)天線的磁場探頭有很好的測量可重復(fù)性,并可抑制感應(yīng)的電場,所以本系統(tǒng)采用這種雙環(huán)結(jié)構(gòu)的磁場探頭。
          為了進(jìn)行敏感度測量,可采用E7402A分析儀配置的選件跟蹤發(fā)生器(1DS),內(nèi)置在EHC分析儀中。由于跟蹤發(fā)生器與測量接收機(jī)做成一體,兩者的頻率保持同步,這比采用單獨的掃捅要方便得多,尤其在濾波器傳輸特性的測量中可大大縮短測量時間。
          每個近場探頭均用網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn),每個探頭在其頻段的5個頻率點測校正系數(shù)(dB(uA/m)/uV),將接收機(jī)讀數(shù)(dB uv)加上此校正系數(shù)就得出所測的磁磁場強(qiáng)度(dB(uA/m))。兩個近場探頭的校正系數(shù)已存儲在EMC分析儀的ROM中。
          ⑶ 診斷內(nèi)容
          尋找PCB板的“熱點”(即電磁輻射過強(qiáng)的部位),記錄其頻率及幅值;尋找PCB的“敏感度空洞”(即電磁敏感度薄弱部位),記錄其頻率及幅值;尋找屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位。圖5(b)為診斷屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位的測量配置示意圖?!?/p>

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