備用電池參數(shù)監(jiān)測

支撐當(dāng)代社會的基礎(chǔ)設(shè)施必須以非常高的可靠性運行?；ヂ?lián)網(wǎng)服務(wù)器群和通信交換中心為了保證近乎100％的“無故障運行時間”或系統(tǒng)可用性，它們大多都依賴一項非常成熟的技術(shù)——鉛酸電池，而數(shù)據(jù)存儲中心采用的卻是高新技術(shù)。通常，這些關(guān)鍵節(jié)點和許多其他重要部門均配備備用電源，備用電源的第一層一般是逆變器，逆變器對閥控鉛酸（VRLA）電池或性能類似的密封式膠體電池組裝的電池組提供電源轉(zhuǎn)換。

這項傳統(tǒng)技術(shù)之所以廣為應(yīng)用，有很多原因，尤其是鉛酸電池經(jīng)濟實惠，而且具備杰出的可靠性。不過雖然杰出卻并不完美。VRLA電池使用壽命有限（設(shè)計壽命一般為12年），通常關(guān)鍵系統(tǒng)使用這種電池作為備用電源，不過定期更換。故障可能、確實時有發(fā)生。在一個典型的備用電源系統(tǒng)中，這種電池的作用正如其名—它們始終保持完全充滿電的狀態(tài)等待主電源失效。而完全充滿電狀態(tài)則通過連續(xù)的小電流“浮”充電維持。如果浮充電流低于某設(shè)定限值，則電池內(nèi)部電解產(chǎn)生的氣體就會再化合。在這種情況下，浮充電壓即使略高于單個電池標(biāo)準(zhǔn)值2.27 V，也有可能損壞電池。小幅過電壓將導(dǎo)致電解液析出多于再化合處理量的更多氣體，這些未被處理的氣體會通過安全閥溢出。如果電池溫度過高，即使充電電壓適當(dāng)，也會導(dǎo)致電解液損耗。

其他失效模式包括早期硫酸化、極柱和板柵連接不良、極板和板柵連接不良、電解液層化及板柵加速腐蝕。另外還有一種雖然少卻是災(zāi)難性的失效模式——熱失控，這是VRLA和膠體電池所特有的一種失效模式，可以引起爆炸起火。防范熱失控的唯一方法是監(jiān)測電池內(nèi)部溫度。

僅僅監(jiān)測電池電壓對檢測鉛酸電池容量下降所起的作用非常有限，這一點已經(jīng)得到業(yè)內(nèi)公認(rèn)。當(dāng)電池性能正在下降時，通常呈現(xiàn)的是標(biāo)稱電壓，直到釋放大電流時方能顯現(xiàn)出來，而這時它的容量已經(jīng)嚴(yán)重降低，端電壓過早跌落。通過測量電解液確切比重來確定電池狀態(tài)，這種方法對密封VRLA或膠體電池不適用；常規(guī)上，檢驗電池容量采用的唯一辦法是將整個電池組放電至受控狀態(tài)以下，不過這種方法需要電池停止使用。此外，深度放電還會降低鉛酸電池的壽命；在定期對其備用電池進(jìn)行放電測試以及其主電源具備高可靠性的系統(tǒng)上，大多采用這種測試方案確定電池使用壽命。

近來，可以進(jìn)行連續(xù)監(jiān)測的非介入式電子法可以檢測單個電池的臨近失效狀態(tài)，這種方法既能節(jié)約成本，又能維持整個系統(tǒng)的可用性。此類系統(tǒng)的前身通常測量電池或電池組（電池行業(yè)術(shù)語，指封裝于同一殼體內(nèi)的多個電池）電壓—盡管其局限性眾所周知—加上充/放電流和周圍溫度。一些系統(tǒng)試圖測量或推測電池內(nèi)阻，其成效各有不同。

LEM的Sentinel系統(tǒng)是基于依賴簡單的基本參數(shù)模擬測量進(jìn)行轉(zhuǎn)變的領(lǐng)先產(chǎn)品，現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展到第3代即Sentinel III。它在單片定制設(shè)計的SoC（系統(tǒng)芯片）集成電路上整合了模擬和數(shù)字技術(shù)。該裝置配置在一個測量端電壓、電池內(nèi)部溫度以及內(nèi)部阻抗的模塊內(nèi)，對于可以提供精確測量結(jié)果、費用又在大多數(shù)備用系統(tǒng)配置能承受的預(yù)算范圍內(nèi)的系統(tǒng)而言，它是設(shè)計時一個關(guān)鍵要素。

電池溫度和/或以指數(shù)方式增長的內(nèi)部阻抗值（圖1），它們是臨近失效的指示，數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)監(jiān)測數(shù)據(jù)隨時間變化的趨勢，識別潛在的臨近失效。所有Sentinel III模塊都配置有一個外部溫度測量探頭或貼片，可以直接貼在單個電池或電池組的外殼上，以盡可能準(zhǔn)確地跟蹤電池溫度。

圖1：電池內(nèi)部阻抗并非是臨近失效的有效指示。指數(shù)曲線意味著，早期失效難以察覺，但是后期性能劣化非常快。

電池正被使用或正在充電時，可以采用一項成熟的技術(shù)*定內(nèi)部阻抗。通常，在浮充直流電壓上疊加微弱的交流電壓，測量此時的交流電壓和電流，然后根據(jù)測量結(jié)果推算內(nèi)部阻抗，具體實施方法各有不同。不過這種方法有一定的局限性，它只能處理指數(shù)曲線形狀。而即將失效的單個電池在失效過程中，在數(shù)據(jù)記錄器識別其失效趨勢以前，顯現(xiàn)良好的狀態(tài)；相反地，到失效問題出現(xiàn)時，這個電池可能在短期內(nèi)就會完全失效。

LEM開發(fā)了一種更成熟的算法，這種算法可以盡早檢測出正在衰減的單個電池的性能。該成果是一種非?？煽康臏y試方法，它能徹底穿透單個電池的能量層，確保最大程度的可靠性。

它以俗稱的Randles等效電路為基礎(chǔ)，將電化學(xué)電池表現(xiàn)為一個由電學(xué)元件組成的電路網(wǎng)，每個電學(xué)元件都與構(gòu)成單個電池的一個物理因素相關(guān)。（參見圖板）

圖2：電化學(xué)電池的Randles等效電路。

圖3顯示了各種參數(shù)在單個電池壽命期間內(nèi)的漸進(jìn)曲線。同一特性在放電或容量下降期間也得到了證實。等效電路的全部阻抗因素都遵循近似的曲線；在早期失效或容量下降階段，沒有大幅改變。如果將阻抗用作單個電池工作狀態(tài)的主要指示，它將不會給出任何有意義的指示，除非容量下降幅度超過25-30%。因為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)是更換性能下降至規(guī)定性能80％以下的電池，顯而易見，必須盡早識別可能的失效。

圖3：Randles參數(shù)隨電池壽命或放電而漸進(jìn)。不同電阻參數(shù)表現(xiàn)出相同的曲線形狀，而雙電層電容表現(xiàn)出的早期變化可以檢測到。

不過，在Randles等效電路中，有一種參數(shù)在單個電池失效（單純的金屬腐蝕除外，這種失效模式會通過Rm參數(shù)的增大而顯現(xiàn)）早期就會改變，這就是Cdl，雙電層電容。圖3最下面那條曲線顯現(xiàn)了其特性；此外，對于處于正常放電階段的性能正常的電池，以及假定完全充滿電的正在失效的電池，其Cdl曲線的形狀是相似的。

監(jiān)測技術(shù)

本文未對這種監(jiān)測技術(shù)詳加描述，下文對其進(jìn)行了簡單介紹。

逐個向單個電池饋入測試信號，無需在整個電池組內(nèi)注入大電流，也不存在對外部系統(tǒng)直流連接的干擾。采用雙極測試信號對原有算法進(jìn)行了改良，不過結(jié)果證明單極信號可靠性更高。然而，在采用單極信號進(jìn)行測試時，出現(xiàn)直流漂移。簡單消除這種漂移并不能保持?jǐn)?shù)據(jù)集特性，而其特性是準(zhǔn)確測定參量所必需的。采用頻率掃描的方式重排不同頻率的信號脈沖（包含測試信號），可使電池電壓響應(yīng)與預(yù)定曲線吻合。

一旦潛在漂移曲線變得有規(guī)則，就能設(shè)置固件算法對這種漂移建模并消除它，從而得到適合直接輸入Sentinel算法的平均零電壓數(shù)據(jù)集。這種方法可將漂移誤差降至0.1％以下，也不會導(dǎo)致數(shù)據(jù)集出現(xiàn)明顯失真。因此波形測量中也可以采用這種算法，從而使等效電路參數(shù)的準(zhǔn)確度更高。

諸多測量功能和算法處理均被集成到單片集成電路中。Sentinel模塊既可測量單個電池單體，也可測量整個12V電池）。多達(dá)250個測量點，均以模塊形式開展測量，測量結(jié)果可以通過專用數(shù)據(jù)總線提交到電池數(shù)據(jù)記錄器，S-Box。在大規(guī)模的電池組系統(tǒng)中，可以對幾股這樣的數(shù)據(jù)流進(jìn)行合成，使得本地或遠(yuǎn)程上行管理系統(tǒng)可以利用S-Box內(nèi)集成的網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器經(jīng)由標(biāo)準(zhǔn)總線或因特網(wǎng)連接使用這些數(shù)據(jù)流。

通過利用測量SoC確定每個電池的真實狀態(tài)，不僅僅可以提供檢測臨近失效這種成熟的監(jiān)測架構(gòu)就能具備的功能；還可以設(shè)置其他功能和服務(wù)。

例如，電池組內(nèi)的單個電池的內(nèi)阻通常各不相同。隨著時間推移，這種狀態(tài)就會產(chǎn)生問題。SoC智能控制系統(tǒng)可以快速檢測這些單個電池，端電壓優(yōu)化系統(tǒng)可以轉(zhuǎn)移不能繼續(xù)充電的單個電池周圍的浮電流…

實時充電管理可以延長電池壽命：在端電壓相同的情況下，VRLA電池內(nèi)的浮充電流比富液電池內(nèi)的高。這可能加速陽極板腐蝕，降低電池的有效使用壽命，最多達(dá)30％。對一定比例使用壽命消除浮充可以降低這種不良效應(yīng)。不過這種對循環(huán)壽命的副作用也有一個好處，就是降低熱失控的發(fā)生率。

一種電池安裝模塊也可以提供整個壽命周期內(nèi)的端電壓和溫度記錄，以為制造商和用戶所用。

過度放電保護(hù)：這種裝置在充電器/UPS系統(tǒng)中很常見，尤其是電池監(jiān)測器，它們根據(jù)平均單個電池電壓終止放電以保護(hù)電池。不過，性能較差的電池的端電壓可能比電池平均電壓低很多，而且在其達(dá)到終止電壓以前，一直放電良好。因此開發(fā)了一種高精動態(tài)‘Time To Run（剩余運行時間）’算法，在任何單個電池即將耗盡時均會給出警告。

備用電池參數(shù)監(jiān)測必需盡可能詳盡，以便生成最能準(zhǔn)確體現(xiàn)電池狀態(tài)的結(jié)果。這不僅僅是一個技術(shù)問題，同時還是一個經(jīng)濟問題。避免在用電池失效是不可或缺的，不過過早更換尚未臨近壽命終期的電池是極端不合算的。除了測量每個電池的電壓、阻抗和放電性能，LEM還將監(jiān)測電池內(nèi)部溫度設(shè)置為標(biāo)準(zhǔn)功能；這居于世界領(lǐng)先地位。目前LEM正在開發(fā)一種采用磁通門技術(shù)的浮充傳感器，其分辨率高于10mA，沒有或幾乎沒有溫度漂移，大電流放電后幾乎沒有剩磁，測量重復(fù)精度更高。集成這些高級特性，電池監(jiān)測器不再是價格昂貴的附加系統(tǒng)，而是極端合算的整體壽命管理系統(tǒng)。