邏輯信號測試儀的設(shè)計與實現(xiàn)

　　引言

　　在數(shù)字電路的調(diào)試和檢修時，常常要對電路中某點的邏輯信號進行測試，采用萬用表或示波器等儀器儀表很不方便，而采用邏輯信號測試儀通過幾個發(fā)光二極管就可以指示被測信號的邏輯狀態(tài)及脈沖信號的頻率范圍，使用簡單方便，給數(shù)字電路實驗和電路設(shè)計開發(fā)帶來便利。本文采用中小規(guī)模集成電路設(shè)計并實現(xiàn)了一種邏輯信號測試儀，不僅能區(qū)分邏輯電平的狀態(tài)和脈沖信號頻率的數(shù)量級，而且適用于各種類型的數(shù)字電路邏輯信號的測試。如果將電路安裝成邏輯測試筆，使用就更為方便。

　　設(shè)計與實現(xiàn)

　　功能設(shè)計

　　邏輯信號測試儀主要包括邏輯信號狀態(tài)的區(qū)分和脈沖信號頻率的區(qū)分兩部分功能。其中邏輯信號狀態(tài)的區(qū)分主要通過雙電壓比較器電路實現(xiàn)，而脈沖信號頻率的區(qū)分可利用數(shù)字頻率計的原理實現(xiàn)。由于邏輯信號測試儀的電源來自被測電路，為滿足各種類型的數(shù)字電路邏輯信號的測試，故所用芯片必須是能單電源供電且電源范圍較寬的模擬電路芯片和CMOS類的數(shù)字集成電路芯片。