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          汽車電子極近場EMI掃描技術(shù)方案

          作者: 時間:2014-03-08 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          顯示了SSCG功能為“關(guān)”時待測器件的輻射特性

            圖2顯示了功能為“關(guān)”時待測器件的輻射特性

          SSCG功能為“開”時待測設(shè)備輻射的空間和頻譜(幅度與頻率)特性

            圖3為功能為“開”時待測設(shè)備輻射的空間和頻譜(幅度與頻率)特性。通過對比,可以發(fā)現(xiàn)輻射已經(jīng)顯著減少

            對測試結(jié)果進行比較之后,設(shè)計團隊發(fā)現(xiàn)由于使用了功能導(dǎo)致電磁輻射顯著減少。汽車電子工程 師最大的挑戰(zhàn)在于減少輻射。客戶支持團隊每次向汽車廠商客戶展示這些結(jié)果時,他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低的功能(此案例中為 SSCG功能)都可以縮短上市時間、降低屏蔽和成本支出。

            近場輻射特性:新一代串行解串器例子

            這是同一家半導(dǎo)體供應(yīng)商的第二個例子,該公司開發(fā)了一個通過串行解串器進行點到點傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中,設(shè)計團隊采用了一種不同的技術(shù)并升級了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中,從而實現(xiàn)了雙向傳輸(全雙工)。

            為了量化比較半雙工解串器與新一代全雙工設(shè)計的輻射特性,設(shè)計團隊再次使用了內(nèi)部的EMI極近場掃描儀。他們將原來的半雙工板放在掃描儀上,進行基線測量。對待測器件加電后,他們在PC上激活了掃描儀。

          半雙工和全雙工串行解串器器件的EMI掃描的測試環(huán)境

            圖4:半雙工和全雙工串行解串器器件的的測試環(huán)境

            采用同樣的測試設(shè)置,設(shè)計團隊用新一代全雙工芯片組板替代了基線板,同時也針對每一條特性保持了同樣的規(guī)格。如上文所述,需注意的是,空間掃描疊加在每次生成的Gerber設(shè)計文件上,以幫助工程師可以確定任何存在的輻射源。

          EMC相關(guān)文章:EMC是什么意思



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