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          用于CMOS圖像傳感器的流水線ADC設(shè)計及其成像驗證

          作者: 時間:2012-08-15 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

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          另外,由于余量放大器有限的帶寬,因此對輸入電壓響應(yīng)需要經(jīng)過一定的時間才能趨于穩(wěn)定。在采樣頻率為f的ADC中,要求信號在二分之一的時鐘周期內(nèi)達(dá)到所需的精度(即誤差小于1/2LSB),即有:

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          式中GBW為單位增益帶寬,N為ADC分辨率,β為反饋系數(shù),f為采樣頻率。
          對于本文的ADC設(shè)計有:N=12,β=1/2,f=10 MHz,因此由公式(1)和公式(2)可得,用于本文第一級MDAC的余量放大器應(yīng)滿足:開環(huán)增益需大于84 dB,單位增益帶寬需大于58 MHz。綜合考慮到輸入信號擺幅、流片工藝和功耗等要求,本文的余量放大器采用了折疊共源共柵的運(yùn)放結(jié)構(gòu),仿真結(jié)果表示,該結(jié)構(gòu)可滿足設(shè)計要求。
          2.2 比較器設(shè)計
          由于采用了校正電路,對比較器失調(diào)電壓的要求放寬了。對于1.5 bit每級的電路,設(shè)參考電壓為1 V,則它的失調(diào)電壓放寬為125 mV。本ADC中從第1級到第10級電路都采用了動態(tài)比較器,因為其失調(diào)電壓小于可校正的最大失調(diào)電壓,同時它具有較快的速度和較低的功耗。該電路的原理圖如圖4所示,它包括一個由rst信號控制的快速復(fù)位電路、信號輸入的預(yù)防大電路、鎖存比較器以及輸出反相器組成。

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          2.3 數(shù)字位時間對齊及數(shù)字校準(zhǔn)電路設(shè)計
          由于每級電路產(chǎn)生數(shù)字代碼的時間不同,因此,在進(jìn)行數(shù)字校正之前,必須先對其進(jìn)行延遲,所以在數(shù)字校正電路之前必須要有數(shù)字延遲電路。完整的輸出數(shù)字時間對齊及數(shù)字校正電路如圖5所示,其中圖的左邊為數(shù)字位時間對齊電路,圖的右邊為數(shù)字校準(zhǔn)電路。

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          2.4 時鐘控制電路設(shè)計
          對于時序要求比較高,為了確保流水線ADC正常工作,要求前后兩級不同時工作在采樣狀態(tài)和保持狀態(tài),至少需要一對兩相不交疊時鐘。文中設(shè)計的時鐘信號電路如圖6所示。相比一般的采用器件延時來設(shè)計時鐘控制電路,本文采用了在電路引入電容的方式來確定時鐘延時,盡管這樣做會在版圖上多占用了一些面積,但是其好處是設(shè)計的兩相不交疊時鐘非常穩(wěn)定,時鐘可以根據(jù)電容值選取的大小而更為合理的錯開。



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