<meter id="pryje"><nav id="pryje"><delect id="pryje"></delect></nav></meter>
          <label id="pryje"></label>

          關(guān) 閉

          新聞中心

          EEPW首頁 > 工控自動化 > 設(shè)計應(yīng)用 > 通用微處理器等效老化試驗方法分析與研究

          通用微處理器等效老化試驗方法分析與研究

          作者: 時間:2008-11-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            

            

            

            結(jié)論

            通過對通用等效方法的研究,可以得出如下結(jié)論:1)等效是評估和比較不同工藝、不同設(shè)計的功能全兼容集成電路質(zhì)量和可靠性水平的重要手段;2)“歸一化老化電流”α是能夠表征等效老化應(yīng)力強度的特征參數(shù);3)通用CPU 可以采用本文給出的等效方案實現(xiàn)質(zhì)量和可靠性水平的有效評估和比較。


          上一頁 1 2 3 4 下一頁

          評論


          相關(guān)推薦

          技術(shù)專區(qū)

          關(guān)閉
          看屁屁www成人影院,亚洲人妻成人图片,亚洲精品成人午夜在线,日韩在线 欧美成人 (function(){ var bp = document.createElement('script'); var curProtocol = window.location.protocol.split(':')[0]; if (curProtocol === 'https') { bp.src = 'https://zz.bdstatic.com/linksubmit/push.js'; } else { bp.src = 'http://push.zhanzhang.baidu.com/push.js'; } var s = document.getElementsByTagName("script")[0]; s.parentNode.insertBefore(bp, s); })();