通用微處理器等效老化試驗方法分析與研究 作者: 時間:2008-11-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 結(jié)論 通過對通用微處理器等效老化試驗方法的研究,可以得出如下結(jié)論:1)等效老化試驗是評估和比較不同工藝、不同設(shè)計的功能全兼容集成電路質(zhì)量和可靠性水平的重要手段;2)“歸一化老化電流”α是能夠表征等效老化應(yīng)力強度的特征參數(shù);3)通用CPU 可以采用本文給出的等效老化試驗方案實現(xiàn)質(zhì)量和可靠性水平的有效評估和比較。 上一頁 1 2 3 4 下一頁
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