LTE TDD測試介紹

隨機(jī)接入前導(dǎo)

隨機(jī)接入前導(dǎo)（Random Access preamble）的設(shè)計(jì)是LTE對TDD的另一項(xiàng)特殊設(shè)計(jì)。在LTE中，隨機(jī)接入序列采用如下圖所示的5種隨機(jī)接入序列格式。其中最后一種隨機(jī)接入序列格式是TDD所特有的，由于其長度明顯短于其它的4種格式，因此又稱為“短RACH”。采用短RACH的原因也是與TDD關(guān)于特殊時(shí)隙的設(shè)計(jì)相關(guān)的，如同圖中所描述的，短RACH在特殊時(shí)隙的最后部分（即UpPTS）進(jìn)行發(fā)送，這樣利用這一部分的資源完成上行隨機(jī)接入的操作，避免占用正常子幀的資源。采用短RACH時(shí)，需要注意的一個(gè)主要問題是其鏈路預(yù)算所能夠支持的覆蓋半徑，由于其長度要大大的小于其它格式的RACH序列，因此其鏈路預(yù)算相對較低，相應(yīng)的適用于覆蓋半徑較小的場景（根據(jù)網(wǎng)絡(luò)環(huán)境的不同，約700m～2km）。

RS LTE TDD測試方案

3GPP LTE和之前的系統(tǒng)在空中接口上存在很大的不同，所以對于測試就提出了新的要求?；谠?a class="contentlabel" href="http://www.ex-cimer.com/news/listbylabel/label/3G">3G測試領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn)和領(lǐng)先地位，Rohde Schwarz 對于UMTS LTE從早期的研發(fā)階段就開始跟蹤研究，積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)成果，目前不僅可以為LTE FDD，而且也可以為LTE TDD無線設(shè)備研發(fā)提供了完整的測試產(chǎn)品線。這些產(chǎn)品包括功率計(jì)，頻譜分析儀，信號源，無線綜測儀，協(xié)議測試儀和射頻一致性測試系統(tǒng)。設(shè)備制造商自始自終都可以依賴于Rohde Schwarz 公司的產(chǎn)品和專家級的支持。Rohde Schwarz 全球的支持網(wǎng)絡(luò)擁有經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn)的應(yīng)用工程師，從而可以提供全方位的客戶支持。

由于3GPP LTE標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展還未最終完成， R S公司在開發(fā)LTE選件時(shí)保持了高度的靈活性，軟件會定期更新，確保測試儀表依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)和最新發(fā)展保持一致，使它們滿足3GPP LTE 未來開發(fā)的要求。下面針對在LTE早期的研發(fā)中一些重要的測試項(xiàng)目進(jìn)行介紹：

如何靈活地對LTE射頻和基帶信號進(jìn)行模擬產(chǎn)生和分析，

如何對不同的MIMO模式進(jìn)行進(jìn)行測試，

如何在協(xié)議棧開發(fā)的早期就進(jìn)行測試，使之符合一致性的要求。