安捷倫最新 PXI 功能測(cè)試系統(tǒng)亮相Nepcon

　　安捷倫科技公司日前宣布，旗下最新款 PXI 功能測(cè)試系統(tǒng)、邊界掃描分析儀以及最新在線測(cè)試系統(tǒng)將亮相 NEPCON 中國(guó)電子展(NEPCON EMT China 2014)。本屆展會(huì)將于 4 月 23 日至 25 日在上海世博展覽館舉行，安捷倫在 1G60 號(hào)展位。

　　安捷倫專家將展示：

　　· 新型 Agilent TS-8989A，業(yè)內(nèi)唯一一款經(jīng)濟(jì)高效、完全集成、擁有大電流開關(guān)的PXI功能測(cè)試系統(tǒng)，適用于汽車電子功能測(cè)試。

　　· 功能強(qiáng)大的 TS-5400 PXI 系列功能測(cè)試系統(tǒng)，可以為汽車、航空航天與國(guó)防以及工業(yè)控制制造商提供現(xiàn)成可用的 PXI 硬件和軟件平臺(tái)，并且支持單一或多個(gè)被測(cè)器件測(cè)試。

　　· 多功能 x1149 臺(tái)式邊界掃描分析儀，榮獲 EDN 雜志“2014 年最佳測(cè)試獎(jiǎng)”。x1149 提供快速測(cè)試周轉(zhuǎn)速度和廣泛的測(cè)試功能，可涵蓋從設(shè)計(jì)與驗(yàn)證到新產(chǎn)品引進(jìn)與批量生產(chǎn)的各個(gè)階段。x1149 演示還包括固態(tài)硬盤測(cè)試和 Intel Silicon View 技術(shù)。

　　· 低成本 Medalist i1000D ICT，市場(chǎng)上體積最小的在線測(cè)試系統(tǒng)，配有電路板自動(dòng)裝載設(shè)備，可自動(dòng)對(duì)智能手機(jī)、LED 以及汽車保險(xiǎn)絲盒等器件執(zhí)行制造測(cè)試。i1000D 提供數(shù)字測(cè)試、邊界掃描和串行編程功能。

　　· 完全集成的 Medalist i3070 系列 5 在線測(cè)試系統(tǒng)，使用短線夾具，憑借出色的測(cè)試移植性和可重復(fù)性而倍受客戶青睞。該款屢獲殊榮的套件產(chǎn)品支持受限接入測(cè)試和 LED 測(cè)試，并配有簡(jiǎn)單易用的界面。

　　· Agilent i1000D 診斷測(cè)試儀，一款定制模塊化 ICT 儀器，適用于研發(fā)、維護(hù)和并行功能測(cè)試，能夠加快原型啟動(dòng)速度并提供精確的維修診斷。