Mentor推出1500A功率循環(huán)測試設(shè)備

　　聚焦可靠性

　　IGBT等大功率的電力電子器件通常需要大電流，例如地鐵需要800A，新能源汽車需要600A，風(fēng)能需要1500A及以上。同時電力電子器件的可靠性非常關(guān)鍵，例如機(jī)車牽引的期望壽命超過三十年，功率器件通常需上萬次甚至百萬次的功率循環(huán)要求，對新型IGBT等電力電子器件的可靠性提出了巨大的挑戰(zhàn)。

　　功率循環(huán)和熱量導(dǎo)致與熱相關(guān)的器件老化降級，容易導(dǎo)致焊線老化降級，金屬層錯位，焊接失效，硅芯片和基板的分層等問題。因此需要精密的實驗設(shè)備對電力電子器件的可靠性進(jìn)行評估。

　　傳統(tǒng)的功率循環(huán)測試和失效分析有諸多短板。傳統(tǒng)工藝流程會運行多次功率循環(huán)，這種功率循環(huán)/實驗室失效分析的工藝流程非常耗時;傳統(tǒng)上是在實驗室進(jìn)行失效分析，重復(fù)功率循環(huán)/實驗室失效分析直至器件完全損壞，在實驗室確定失效原因，因此在工藝過程中不僅不能“在線”指出器件的失效——只能在事后識別，而且失效原因需要實驗分析——通常從封裝內(nèi)部尋找原因(見下圖)。

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測試設(shè)備的優(yōu)勢

　　Mentor Graphics的MicReD 1500A功率循環(huán)測試設(shè)備，主要用于IGBT等電力電子器件的可靠性測試，它利用MicReD經(jīng)業(yè)界驗證的T3Ster瞬態(tài)熱測試技術(shù)，達(dá)到了實驗室級的精度，具有高準(zhǔn)確性。由于獨特的結(jié)構(gòu)函數(shù)功能，具有實時診斷器件的降級過程和失效原因，因此失效分析精準(zhǔn)，并可縮短總的測試時間，只需原來測試時間的1/10及以下。由于加熱電流達(dá)到1500A，并采用3電流通道的架構(gòu)，可以在同一臺設(shè)備上可同時進(jìn)行多種樣品測試。

　　Mentor Graphics公司MAD(機(jī)械分析部門)MicReD產(chǎn)品經(jīng)理Andras Vass-Varnai稱，MicReD的技術(shù)指標(biāo)堪稱完美，例如采樣分辨率可達(dá)1μs，“相比離我們最接近的競爭對手，MicReD的指標(biāo)是它們的1/50。”加熱電流控制完美，不會出現(xiàn)尖峰，脈沖寬度從500ms起，直至無窮大。

　　應(yīng)用

　　大功率器件可應(yīng)用于電機(jī)驅(qū)動、UPS、光伏逆變器、電動/混合動力汽車、機(jī)車牽引、風(fēng)力發(fā)電的風(fēng)力渦輪機(jī)、工業(yè)應(yīng)用、消費類電子等。

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測試設(shè)備可用于電力電子器件生產(chǎn)商，一級模組設(shè)計和制造商，高可靠性產(chǎn)品制造商。