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          測(cè)量基礎(chǔ)知識(shí)概要

          作者: 時(shí)間:2013-04-11 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


          合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的估算:測(cè)量過(guò)程中一般都會(huì)有多個(gè)獨(dú)立的共同對(duì)測(cè)量的不確定度產(chǎn)生影響,因測(cè)量方法的不同,各的影響程度也不相同。各標(biāo)準(zhǔn)不確定度的合成按測(cè)量方法的不同可分為以下兩類:

          ①直接測(cè)量的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度:取各類獨(dú)立誤差源的標(biāo)準(zhǔn)不確定度的平方和的正平方根,即

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          ②間接測(cè)量的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度:間接測(cè)量時(shí),測(cè)量結(jié)果需經(jīng)各間接測(cè)量值按事先設(shè)計(jì)好的函數(shù)關(guān)系計(jì)算后求得。由于各間接測(cè)量值的標(biāo)準(zhǔn)不確定度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響程度不同,在估算測(cè)量結(jié)果的不確定度時(shí),要先分別對(duì)函數(shù)中各測(cè)量值求偏導(dǎo)數(shù),算出其不確定度的傳播系數(shù)。各測(cè)量值的標(biāo)準(zhǔn)不確定度乘以相應(yīng)的傳播系數(shù)后,取平方和的正平方根得到測(cè)量結(jié)果的不確定度。

          1.7 基本測(cè)量原則

          在實(shí)際測(cè)量中,對(duì)于同一被測(cè)量往往可以采用多種測(cè)量方法。為減小測(cè)量不確定度,應(yīng)盡可能遵守以下基本測(cè)量原則:

          阿貝原則:要求在測(cè)量過(guò)程中被測(cè)長(zhǎng)度與基準(zhǔn)長(zhǎng)度應(yīng)安置在同一直線上的原則。若被測(cè)長(zhǎng)度與基準(zhǔn)長(zhǎng)度并排放置,在測(cè)量比較過(guò)程中由于制造誤差的存在,移動(dòng)方向的偏移,兩長(zhǎng)度之間出現(xiàn)夾角而產(chǎn)生較大的誤差。誤差的大小除與兩長(zhǎng)度之間夾角大小有關(guān)外,還與其之間距離大小有關(guān),距離越大,誤差也越大。

          基準(zhǔn)統(tǒng)一原則:測(cè)量基準(zhǔn)要與加工基準(zhǔn)和使用基準(zhǔn)統(tǒng)一。即工序測(cè)量應(yīng)以工藝基準(zhǔn)作為測(cè)量基準(zhǔn),終檢測(cè)量應(yīng)以設(shè)計(jì)基準(zhǔn)作為測(cè)量基準(zhǔn)。

          最短鏈原則:在間接測(cè)量中,與被測(cè)量具有函數(shù)關(guān)系的其它量與被測(cè)量形成測(cè)量鏈。形成測(cè)量鏈的環(huán)節(jié)越多,被測(cè)量的不確定度越大。因此,應(yīng)盡可能減少測(cè)量鏈的環(huán)節(jié)數(shù),以保證測(cè)量精度,稱之為最短鏈原則。

          當(dāng)然,按此原則最好不采用間接測(cè)量,而采用直接測(cè)量。所以,只有在不可能采用直接測(cè)量,或直接測(cè)量的精度不能保證時(shí),才采用間接測(cè)量。

          應(yīng)該以最少數(shù)目的量塊組成所需尺寸的量塊組,就是最短鏈原則的一種實(shí)際應(yīng)用。

          最小變形原則:測(cè)量器具與被測(cè)零件都會(huì)因?qū)嶋H溫度偏離標(biāo)準(zhǔn)溫度和受力(重力和測(cè)量力)而產(chǎn)生變形,形成測(cè)量誤差。

          在測(cè)量過(guò)程中,控制測(cè)量溫度及其變動(dòng)、保證測(cè)量器具與被測(cè)零件有足夠的等溫時(shí)間、選用與被測(cè)零件線脹系數(shù)相近的測(cè)量器具、選用適當(dāng)?shù)臏y(cè)量力并保持其穩(wěn)定、選擇適當(dāng)?shù)闹С悬c(diǎn)等,都是實(shí)現(xiàn)最小變形原則的有效措施。

          1.8 測(cè)量器具的主要技術(shù)性能指標(biāo)

          量具的標(biāo)稱值:標(biāo)注在量具上用以標(biāo)明其特性或指導(dǎo)其使用的量值。如標(biāo)在量塊上的尺寸,標(biāo)在刻線尺上的尺寸等。

          刻度:在測(cè)量器具上指示出不同量值的刻線標(biāo)記的組合稱為刻度。

          刻度間距:沿著刻線尺(標(biāo)尺)長(zhǎng)度方向所測(cè)得的兩個(gè)相鄰刻線標(biāo)記中心之間的距離稱為刻度間距,也稱標(biāo)尺間距。

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          圖1-3 比較測(cè)量示意圖

          :兩相鄰刻線所代表的量值之差稱為儀器的。它是一臺(tái)儀器所能讀出的最小單位量值。一般地說(shuō),越小,測(cè)量器具的精度越高。


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