DVDR DL雙層光盤的全面檢測
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在世界上主要光盤制造商的密切配合下，現(xiàn)在檢測設(shè)備制造商Dr. Schenk已經(jīng)為這種新的光盤格式找到了一種全面而且獨特的檢測辦法——利用在線和離線檢測設(shè)備，實現(xiàn)對生產(chǎn)工藝過程的可靠控制，確保雙層光盤的質(zhì)量。
目前，DVDR DL存在至少兩種不同的生產(chǎn)工藝過程：翻疊工藝過程（Inverse Stack）和表面轉(zhuǎn)化工藝過程（Surface Transfer (2P)）。Dr. Schenk則為這兩種完全不同的生產(chǎn)過程提供了獨特的檢測設(shè)備。其檢測方法分兩步進行，由一種獨特的染料檢測機 ISM.dl 和成品檢測機 ISM.dvd 組合來實現(xiàn)，從而確保了按照新的、更高要求的技術(shù)規(guī)格對光盤進行檢測。
用同一臺ISM.dl染料檢測機檢測L0和L1層面的染料
新的染料檢測機ISM.dl擁有設(shè)計巧妙的光學(xué)結(jié)構(gòu)，盡管在翻疊工藝過程（Inverse Stack）中L0和L1層上的結(jié)構(gòu)不同，但這種獨特的光學(xué)結(jié)構(gòu)使得ISM.dl仍可以準確一致地檢測到兩個半盤L0和L1上的局部缺損，如染料空缺（dye voids）、染料慧星（dye comets）或染料飛濺（dye splashes）等。除此之外，盡管有濺鍍層存在，該獨特的光學(xué)結(jié)構(gòu)仍然可以不帶偏差地評估兩個半盤上的光密度。這一特點對于表面轉(zhuǎn)化工藝過程（Surface Transfer）中的多層結(jié)構(gòu)的檢測尤其重要。如果只使用常規(guī)的染料掃描技術(shù)對L1層面的染料進行檢測，其檢測結(jié)果中通常同時含有對L0層面的染料和半透明濺鍍層的掃描結(jié)果。而ISM.dl顯示出的對L1層面染料的檢測結(jié)果中，則不含有對L0層面和半透明濺鍍層等不希望得到的檢測數(shù)據(jù)，從而使檢測結(jié)果更加準確。
除了上述優(yōu)點之外，這種針對雙層光盤的染料檢測機還可以檢測緩沖層(Inverse Stack)和半反射層。另外該機器還可以選加對L0層的盤基厚度進行測量的功能。
帶有 ETI 單元（電信號測試）的成品檢測機ISM.dvd
為了保證整盤的質(zhì)量，需要用成品檢測機 ISM.dvd 對粘合好的光盤的表面缺損進行檢測，ISM.dvd還能同時對每張DVDR DL成品盤的一些關(guān)鍵參數(shù)進行監(jiān)控。目前，Dr. Schenk 的檢測設(shè)備可以完全按照光盤的規(guī)格要求，對盤基厚度和間隔層厚度進行分別測量或合成測量。所有這些測量均在同一個檢測周期內(nèi)完成，對光盤生產(chǎn)周期沒有任何影響。ISM.dvd 檢測機中使用的高分辨率翹曲檢測單元完全能夠滿足新的高規(guī)格的要求，尤其是對光盤旋轉(zhuǎn)一周時翹曲變化的測量。另外 Dr. Schenk 還有一系列的選項配置可以裝備給這類檢測機。
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