紅外成像探測SF6氣體原理和設(shè)計
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圖5：紅外成像探測系統(tǒng)示意圖
圖6.紅外成像實物應(yīng)用示意圖
激光紅外光譜成像技術(shù)成本高，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，設(shè)計過程涉及到光學(xué)的內(nèi)容帶來的加工工藝等的困難造成了成本的急劇上升，但是它與其他探測手段不可比擬的優(yōu)點(diǎn)，使得應(yīng)用日益廣泛。隨著激光技術(shù)、紅外成像技術(shù)、高速數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展和普及，相信紅外光譜成像技術(shù)的應(yīng)用并不限于SF6氣體泄漏的探測，比如通過譜線可調(diào)型激光器輸出不同的譜線實現(xiàn)其他氣體探測，通過更強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理技術(shù)可實現(xiàn)氣體材料分析等。
參考資料
1. Standoff Wide Area Detection of SF6 by Means of a Passive IR Imaging SpectrometerE.Robert Schildkraut and Raymond F. Connors Block Engineering, Marlborough, MA., 508/480-9643
2. ACCESS LASERCOMPANY http://www.access-laser.com/
3. Visualization of air flow using infrared thermography V. Narayanan, R.H. Page, J. Seyed-Yagoobi Experiments in Fluids 34 (2003) 275–284 DOI 10.1007/s00348-002-0557-x
4. NIST Chemistry Web Book, http://webbook.nist.gov/chemistry
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