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          PCIE3.0的發(fā)射機物理層測試

          作者: 時間:2012-12-04 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          EIEOS序列的全幅電壓測試(Vtx-eieos-fs)需要將Preset設(shè)為10,即最強的均衡增強(boost)情形,測試電壓的擺幅。

          EIEOS序列的減小的測試(Vtx-eieos-rs)需要將Preset設(shè)為1,即較弱的均衡設(shè)置,以驗證幅度較小的EIEOS碼型也同樣能夠被識別到。

          EIEOS的測試是在Tx的管腳處測量的,因此需要考慮Breakout通道帶來的衰減,即要通過去嵌的方法將Breakout通道的影響消除掉,需要事先提供Breakout的S參數(shù)。下圖為力科(LeCroy)及自動化測試軟件QPHY-的Vtx-eieos-rs/fs limits的測試結(jié)果:

          搜狗截圖_2012-12-04_09-27-10.jpg

          4、8GT/s一致性眼圖測試(Compliance Eye 8GT/s,Test 1.4)

          該項測試的目的是驗證被測系統(tǒng)的信號眼圖的眼高和眼寬等是否滿足CEM規(guī)范的要求。使用的碼型為128B/130B編碼格式的一致性測試碼型(compliance pattern)。由于Tx發(fā)送端波形有11種preset,CEM規(guī)范要求只要有一種preset碼型(可選擇一種最好的碼型)通過即可,可以任意選擇preset等于1或者7或者8的碼型進(jìn)行測試,如果三種preset所對應(yīng)的碼型都不能夠通過,那么則需要繼續(xù)測量余下的其它preset對應(yīng)的碼型,直到有通過為止,否則需要將所有的preset對應(yīng)的碼型都測完以確定眼圖測試是否通過。規(guī)范要求示波器一次至少采集約1.5M個UIs(比特位)進(jìn)行測試,如果示波器采樣率設(shè)置為40GS/s,則需要采集約8M個數(shù)據(jù)點進(jìn)行測試。

          測試點選擇在TP1,測試要求使用接收端的均衡設(shè)置,即需要打開CTLE和DFE,在力科示波器中可使用眼圖醫(yī)生EyedoctorII來實現(xiàn)CTLE和DFE均衡以及串行數(shù)據(jù)分析軟件SDAIII來做眼圖測試。

          由于規(guī)范也建議使用Intel的Sigtest軟件來實現(xiàn)CTLE、DFE以及眼圖測試功能,在力科示波器已經(jīng)集成了Intel的Sigtest軟件,可和力科的Qualify軟件一起實現(xiàn)所有項目的自動化測試并自動出多種格式的報告。

          搜狗截圖_2012-12-04_09-29-05.jpg

          5、8GT/s抖動參數(shù)測試(8GT/s Tx Jitter Parameters,Test 1.5)

          抖動測試是高速串行信號的必測項目。該項測試就是測量PCIE GEN3在8Gb/s時的抖動。測試碼型選擇最優(yōu)化后的128B/130B編碼格式的一致性測試碼型(compliance pattern)。測試點選擇在TP1,Breakout通道的影響需要消除掉(De-embedding);測試時需要所有通道都有輸出;對Breakout通道進(jìn)行去嵌時,需要設(shè)置截止帶寬在8GHz-12GHz范圍內(nèi)(或者限制最大的boost值),因為去嵌可能會放大噪聲。

          PCIE GEN3需要測試抖動參數(shù)有:

          Ttx-ddj:最大數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動減去最小數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動的絕對值,DDJ(max)-DDJ(min);Ttx-utj:數(shù)據(jù)不相關(guān)的總體抖動,基于Q-Scale曲線定義得到。

          Ttx-udjdd:數(shù)據(jù)不相關(guān)的固有抖動,基于Q-Scale曲線定義得到。

          Ttx-upw-tj:數(shù)據(jù)不相關(guān)的總體脈沖寬度抖動。

          Ttx-upw-djdd:數(shù)據(jù)不相關(guān)的固有脈沖寬度抖動。

          上述抖動參數(shù)的詳細(xì)定義可參考:PCI_Express_Base_r3.0的4.3.3.10.5-4.3.3.10.7.如下圖為力科示波器測得結(jié)果:

          搜狗截圖_2012-12-04_09-30-58.jpg

          6、8GT/s發(fā)送端信號通用參數(shù)測試(UI,Vtx-cm-ac-pp,Vtx-dc-cm,Ltx-Skew,Test 1.7)

          該項目測試為發(fā)送端信號的通用參數(shù)測試,一個是UI即位率測試,該項測試需要將SSC關(guān)閉;另外兩個分別是Vtx-cm-ac-pp,即兩個差分信號之和的一半的峰峰值, Vtx-dc-cm,即直流共模電壓,這兩個參數(shù)需要測試數(shù)據(jù)量至少1M個UI,測試位置選擇在Tx端芯片管腳上,可通過在TP1位置測試,對Breakout通道進(jìn)行去嵌達(dá)到;Ltx-Skew為一個link中的兩個鏈路之間的時間偏移。如下圖為力科示波器測試結(jié)果。

          搜狗截圖_2012-12-04_09-32-43.jpg


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