光學(xué)反射式分布測(cè)量技術(shù)淺析
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3.3 干涉探測(cè)技術(shù)[5]
干涉探測(cè)在高分辨率、高探測(cè)靈敏度的光纖鏈路、光波導(dǎo)及其它光器件的結(jié)構(gòu)檢查中有優(yōu)異的性能表現(xiàn)。
（8） λ0是光源中心波長(zhǎng)，δλ是光源的譜寬。
四、總結(jié)
以上介紹了光反射探測(cè)的基本原理及實(shí)現(xiàn)方法，著重分析了幾種改進(jìn)的探測(cè)技術(shù)，討論了反射探測(cè)應(yīng)用于小尺度測(cè)量時(shí)最關(guān)注的探測(cè)分辨率問(wèn)題。相關(guān)探測(cè)利用互補(bǔ)碼調(diào)制探測(cè)信號(hào)，達(dá)到抑制噪聲的目的，需要額外的編碼發(fā)生器及信號(hào)處理器，其分辨率由光源脈沖寬度及探測(cè)動(dòng)態(tài)范圍決定。光頻域探測(cè)用頻率變化探測(cè)鏈路光學(xué)特征，有較高的分辨率及動(dòng)態(tài)范圍，但對(duì)頻率的線性調(diào)制有較高要求，頻率線性控制難度大，對(duì)測(cè)量信號(hào)要進(jìn)行Fourier變換計(jì)算，其分辨率由頻率變化間隔決定，測(cè)量精度可達(dá)到毫米精度。干涉探測(cè)利用光的干涉特性進(jìn)行測(cè)量，有高分辨率、高動(dòng)態(tài)范圍的特點(diǎn)，結(jié)構(gòu)較為簡(jiǎn)單，需要相干時(shí)間短的穩(wěn)定光源，理論分辨率由光源相干長(zhǎng)度決定，實(shí)際還要受移動(dòng)控制機(jī)構(gòu)精度影響，測(cè)量精度可達(dá)到微米精度。幾種探測(cè)技術(shù)的分辨率決定因素不同，在實(shí)現(xiàn)方法上各有特點(diǎn)。
五．參考文獻(xiàn)
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評(píng)論