綜合布線銅纜鏈路測試參數(shù)及故障淺析
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7 、近端串擾（ NEXT ）
近端串擾損耗（ＮＥＸＴ） 一條鏈路中，處于線纜一側(cè)的某發(fā)送線對對于同側(cè)的其他相鄰（接收）線對通過電磁感應所造成的信號耦合，即近端串擾。定義近端串擾值（ｄＢ）和導致該串擾的發(fā)送信號（參考值定為０ｄＢ）之差值（ｄＢ）為近端串擾損耗。越大的ＮＥＸＴ值近端串擾損耗越大。由于近端串擾在測量是對信號的拾取是有靈敏度差別的，處于 40 米以外的近端串擾信號是不精確的，所以鏈路認證測試在該值上要求兩端測試。
對于出廠前引起的質(zhì)量問題，一般在施工前驗收就可以排除。而施工工藝才是與廣大從業(yè)人員最為相關的部分。為了得到更好的工程余量，我們建議工程實施時盡量以標準為依止，在結(jié)構設計、路由配置、機房定位時把可能出問題的因素減少到最??；同時在指導施工時控制工人的拉線力度、彎曲半徑、開對長度等。如果驗收時出現(xiàn)有信息點近端串擾值為負數(shù)的，此時應該從驗收測試的鏈路模型開始考慮，對于 T568B 及以后的標準， Basic Link 基本鏈路已經(jīng)給淘汰了，而替代它的 Permanent Link 永久鏈路在長度上同樣是控制在 90 米的最大限度，超出這一長度的鏈路各種參數(shù)在測試時很容易就出現(xiàn)負值，此時如果采用 Channel 信道測試則結(jié)果可能還處于正常的范圍。另一方面，檢查配線架及信息模塊的端接情況，把對絞開對距離控制在標準許可的范圍內(nèi)（三類 7CM 、五類以上 1.3CM ），過長的開對距離會使雙絞線的平衡結(jié)構得到極大的破壞，從而產(chǎn)生近端串擾。
8 、綜合功率近端串擾（ PSNEXT ）
從超五類布線系統(tǒng)開始，為了支持基于 1000Base-T 的千兆以太網(wǎng)協(xié)議，測試參數(shù)又多了一個綜合功率近端串擾值，該值是考慮在實施四對全雙工傳輸時多對線對一對的近端串擾總和，對于千兆傳輸來說，該值至關重要，其問題的發(fā)生與近端串擾基本一致，同時影響更加明顯。
由發(fā)射機在遠端傳送信號，在相鄰線對近端測出的不良信號耦合為遠端串擾（ FEXT ）損耗。遠端串擾損耗以接收信號電平對應的 dB 表示。按照 ASTMD4566-94 電信電信電纜絕緣和護套電氣參數(shù)性能的測方法標準，應當測量電纜和布線所有線對組合的等電平遠端串擾損耗（ ELFEXT ）。此外，由于每一對雙工信道會受到一對以上的雙工信道的干擾，所以應規(guī)定布線和電纜的綜合功率等效遠端串擾（ PSELFEXT ）。
10 、近端串擾衰減比（ ACR ）
是同一頻率下近端 串擾 N E X T 和衰減的差值，用公式可表示為： A C R ＝衰減的信號 - 近端串擾的噪音，它不屬于 TIA/EIA-568B 標準的內(nèi)容，但它對于表示信號和噪聲串擾之間的關系有著重要的 價值 。為了達到 滿意 的誤碼率，近段串擾以及信號衰減都要盡可能的小。 ACR 是一個數(shù)量指數(shù)指示器，表明了在接受端的衰減值與串擾值的比值。為了得到較好的 性能 ， ACR 指數(shù)需要在幾 db 左右。如果 ACR 不是足夠大，那么將會頻繁出現(xiàn)錯誤。在許多情況中，即使是在 ACR 值中的一個很小的提高也能有效地降低整個線路中的誤碼比率。
11 、回波損耗（ Return Loss ）
回波損耗是布線系統(tǒng)中阻抗不匹配產(chǎn)生的反射能量，回波損耗對使用向同時傳輸?shù)膽糜绕渲匾?
回波損耗以反射信號電平的對應分貝（ dB ）來表示。標準要求 100Ω 的鏈路系統(tǒng)如果其中的元器件的特性阻抗波動太大，就會產(chǎn)生回波損耗。另一方面，施工中不規(guī)范的操作也會引起。
12 、外部串擾（ ANEXT ）
最新的 IEEE 802.3an 已將 10GBASE-T 列為正式標準，該標準規(guī)定了用銅纜來傳輸萬兆帶寬的各種細節(jié)， 由于萬兆非屏蔽銅纜使用的傳輸頻率非常高（需要 500MHz 以上），因此外部線纜近端串擾（即外來線對串擾， ANEXT ）問題就更為嚴重，被認為是增加信道容量的最大限制因素。 ANEXT 被定義為線纜中的一對線給相臨的另一對線帶來的干擾。在兩個相同顏色的線之間的 ANEXT 干擾最明顯，這是由于在這對線中它們的絞距事實上是一樣的，更深一層的考慮必須基于綜合線外串擾，即 PSANEXT ，因為在所有臨近的線對之間也存在感應噪聲干擾，不僅僅是那些相同顏色的線之間。除了線纜之外，配線架相臨的兩個端口之間互相也存在著強烈的 ANEXT 干擾影響。該參數(shù)現(xiàn)在尚無成熟可行的現(xiàn)場測試方案。
綜合布線銅纜鏈路測試參數(shù)到此已經(jīng)基本講完，其中多數(shù)參數(shù)內(nèi)容不在本文深入講述，如有需要要對每個參數(shù)進行深入了解，希望各位讀者對照 TIA/EIA568B 及相關標準進行研究。
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