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          天線測試方法的選擇及評估

          作者: 時(shí)間:2012-09-29 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

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          圖5:一個(gè)用于的200MHz至40GHz小型

          雖然從前面的討論中可以清楚地知道,在低頻時(shí)可以比矩形暗室提供更多的優(yōu)勢,但測量數(shù)據(jù)表明具有真正的可用性。圖5 是一個(gè)200MHz至40GHz的小型錐形暗室,外形尺寸為12×12×36英尺,靜區(qū)大小為1.2米。這里采用了一個(gè)雙脊寬帶喇叭天線照射較低頻率的靜區(qū)。然后利用安捷倫(Agilent)公司的N9030A PXA頻譜分析儀以一個(gè)對數(shù)周期天線測量靜區(qū)。在200MHz點(diǎn)測得的反射率大于30Db(如圖6所示)。圖7 和 圖8分別顯示了饋源頂部的源天線和靜區(qū)中的掃描天線。

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          圖6:從圖中可以看出,在200MHz點(diǎn)測得的反射率大于30dB

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          圖7:圖中測試采用雙脊喇叭作為源

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          圖8:圖中測試采用一個(gè)對數(shù)周期天線來掃描QZ以測量反射率

          有許多像APM和HiL那樣的不同方法可進(jìn)行天線測量。測量技巧在于選擇正確的場,具體取決于待測的天線。對于中型天線(10個(gè)波長大小),推薦使用遠(yuǎn)場測試場。另一方面,錐形暗室可以為低于500MHz的頻率提供更好的解決方案。它們也可以用于2GHz以上的頻率,但操作時(shí)需要備加小心才能確保獲得足夠好的性能。通過了解錐形微波暗室的正確使用,今天的工程師可以使用非常有用的工具開展100MHz至300MHz以及UHF范圍的天線測量。

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