面向未來的測(cè)試解決方案

　　以往，通常只有兩種自動(dòng)測(cè)試方法：在線測(cè)試（ICT）和功能性測(cè)試。

　　隨著過去幾年內(nèi)PC性能的大幅提升，涌現(xiàn)出了大量新技術(shù)，為生產(chǎn)過程提供了大量可選的解決方案?，F(xiàn)在，測(cè)試過程覆蓋了產(chǎn)品制造過程的各個(gè)階段，包括了從PCB預(yù)檢到完整的功能性測(cè)試及加速壽命試驗(yàn)。但是哪種方法才是正確的測(cè)試方案，以及什么階段采用這種方案呢？

　　涌現(xiàn)出的大量技術(shù)，例如自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)（AOI）和飛針測(cè)試（Flying Probe），已經(jīng)相當(dāng)成熟，并且都被應(yīng)用于一定的測(cè)試領(lǐng)域，但是這兩種平臺(tái)都有其局限性。通常而言，采用AOI方法仍然需要較高的操作水平或編程支持。這主要是因?yàn)樾枰獙?duì)模型間可接受的差異進(jìn)行不斷的調(diào)校。許多廠家已經(jīng)采用了光學(xué)檢測(cè)技術(shù)，其中有些取得了不同程度的成功，但是有些則沒那么幸運(yùn)。實(shí)際上該技術(shù)對(duì)工藝均產(chǎn)生了促進(jìn)作用，但代價(jià)不同。也就是說，盡管AOI是對(duì)檢測(cè)工藝非常好的一種補(bǔ)充技術(shù)，但是它僅能夠提供部分測(cè)試方案。

　　同樣，第三代飛針測(cè)試系統(tǒng)也提供了非常卓越的測(cè)試功能，是現(xiàn)在最接近于傳統(tǒng)在線測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)。盡管該技術(shù)無需專用的測(cè)試夾具，控制了測(cè)試成本，但是這通常是以犧牲測(cè)試時(shí)間為代價(jià)的。

　　因此，傳統(tǒng)的I

CT和功能性測(cè)試解決方案仍然是許多制造商的首選方案。

　　傳統(tǒng)的測(cè)試解決方案可能會(huì)涉及到多個(gè)測(cè)試階段（如圖1），需要占用很大的空間和人力資源…

　　集成

　　過去20年內(nèi)的技術(shù)進(jìn)步為我們提供了VXI、PCI等平臺(tái)，以及最近興起的PXI平臺(tái)。新涌現(xiàn)出的技術(shù)，例如PXI Express和LXI尚未達(dá)到成熟階段。所有這些擴(kuò)展技術(shù)的發(fā)展都依賴于PC性能的提升。

　　通過對(duì)基本的PC控制器平臺(tái)進(jìn)行擴(kuò)展，采用PXI和PXI Express技術(shù)，許多主流廠家已經(jīng)推出了各種插卡，并且每天都會(huì)有新功能和新類型的插卡出現(xiàn)。盡管有時(shí)候這些插卡具有專用的功能，但需要使用專用的硬件。

　　PXI技術(shù)集成了全功能的在線測(cè)試平臺(tái)，并具有功能上的靈活性，能夠?yàn)樵S多測(cè)試問題提供理想的解決方案，尤其是其生產(chǎn)能力、平臺(tái)的將來擴(kuò)展靈活性，并且最有效地利用了寶貴的空間。

　　基于一種解決方案集成測(cè)試流程（如圖2），會(huì)產(chǎn)生可觀的節(jié)約。

　　采用多功能測(cè)試系統(tǒng)具有很多優(yōu)點(diǎn)。例如，當(dāng)產(chǎn)品壽命結(jié)束或產(chǎn)品發(fā)生變化，需要對(duì)測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行改造時(shí)，無需重新構(gòu)建嶄新的平臺(tái)，而僅僅需要改進(jìn)或增加系統(tǒng)的測(cè)試資源即可。

　　在采用了.NET代碼的現(xiàn)代測(cè)試語言之后，軟件不兼容的問題將成為歷史。現(xiàn)在許多PXI卡都提供與.NET兼容的代碼，但是有些卻并不提供……?，F(xiàn)在有些工具可以將原來的.DLL、IVI-C或 IVI-COM驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)換為.NET兼容的驅(qū)動(dòng)，從而可以將之前及現(xiàn)在的新軟件混合使用。

　　運(yùn)行來自于不同測(cè)試語言的測(cè)試代碼，并在一個(gè)程序中執(zhí)行，例如Visual Basic、C#、Teststand或Labview，可生成程序的最終功能。由于無需重新編寫以前項(xiàng)目的代碼，所以充分利用了編程工程師的時(shí)間。

　　多架構(gòu)

　　“多架構(gòu)”是測(cè)試圈內(nèi)聽到越來越多的一句行話，但是它究竟是什么意思呢？

　　通過將在線式測(cè)試和功能性測(cè)試平臺(tái)集成到一個(gè)僅采用單機(jī)柜的集成式解決方案，從而實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程的流水作業(yè)。由于流水線式測(cè)試過程能夠節(jié)約成本、測(cè)試時(shí)間和寶貴的空間，所以驟然成為了升級(jí)至這種平臺(tái)類型的重要原因。

　　多功能

　　若要求將繁忙的生產(chǎn)部門所必需的所有測(cè)試資源都集成到單臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)，確實(shí)是個(gè)苛刻的要求。許多情況下，一種折中的辦法是系統(tǒng)中包括頻率計(jì)數(shù)器、函數(shù)發(fā)生器、數(shù)字萬用表（DMM）和精密信號(hào)源作為核心硬件。在需要時(shí)，是否能夠增加專用資源的能力也是一項(xiàng)重要因素。

　　所需的就是要有一套兼容的硬件，可方便地集成到一個(gè)解決方案。PXI卡則能滿足這方面的要求。采用如上所述的軟件工具，集成軟件驅(qū)動(dòng)，就基本上可以在需要時(shí)隨時(shí)滿足功能要求。

　　并行測(cè)試是許多廠家聲稱具備的一項(xiàng)功能，但是它通常需要對(duì)兩組測(cè)試路由進(jìn)行時(shí)間分割或順序切換?，F(xiàn)在，隨著PC性能的大幅提升，新技術(shù)可以提供真正的并行測(cè)試能力。測(cè)試序列可以是相同代碼的兩個(gè)實(shí)例，或者不同的例程，但是可以同時(shí)執(zhí)行。

　　由于邏輯器件會(huì)出現(xiàn)頻繁的電壓下降，所以就很難找到能夠提供必要測(cè)試能力的“現(xiàn)成”資源。為了提供最大的覆蓋范圍，數(shù)字測(cè)試硬件現(xiàn)在就需要覆蓋所有流行的邏輯器件，從1.8 V直到3.3 V，再到傳統(tǒng)的5 V TTL及更高?？炷Ｊ剿俾适欠浅ｊP(guān)鍵的，“Per Pin”存儲(chǔ)器是必需的，若需更精確還需要“Pin Face”，需要好的工具進(jìn)行信號(hào)分析。這種要求可能很苛刻，也許并非那么苛刻。

　　全新的解決方案

　　Aeroflex已經(jīng)對(duì)其屢獲殊榮的新5800系列測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了改進(jìn)。除了在此之前具備的完全兼容21槽PXI背板、集成式以及三種結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)之外，在此基礎(chǔ)之上，該系統(tǒng)現(xiàn)在又新增了數(shù)字硬件，從而兼容在線式測(cè)試解決方案。

　　現(xiàn)在，5800系統(tǒng)成為了分散式測(cè)試平臺(tái)的一個(gè)真正替代產(chǎn)品，它以單機(jī)柜PXI解決方案的形式組合了最佳的模擬和數(shù)字測(cè)試硬件。該系統(tǒng)的三種結(jié)構(gòu)形式（臺(tái)式、落地式或機(jī)架式）可完全滿足測(cè)試要求。當(dāng)需要多邏輯通路進(jìn)行升級(jí)時(shí)，可從臺(tái)式轉(zhuǎn)換為機(jī)架安裝式。靈活的接口可直接通過電纜連接專用的測(cè)試夾具，或者利用各種定制或?qū)Ｓ玫?SPAN onmouseover="javascript:setVal('轉(zhuǎn)換器'); companyAdEvent.show(this,'companyAdDiv',[5,18])" onmouseout="companyAdEvent.out('companyAdDiv')">轉(zhuǎn)換器進(jìn)行連接，例如Virginia面板、Mac面板等。

　　開放式軟件架構(gòu)幾乎能夠和任何 .NET兼容代碼混合用于測(cè)試序列中。Aeroflex的測(cè)試程序AIDE（Aeroflex集成式設(shè)計(jì)環(huán)境）吸取了當(dāng)前測(cè)試語言的精華，能夠調(diào)用其它語言的代碼，例如VB、Labview或 C#，從而運(yùn)行以前的程序。此外，如果需要其它測(cè)試程序，例如NI Teststand，也可以利用AIDE代碼。

　　現(xiàn)在，與功能齊全的硬件平臺(tái)相結(jié)合形成了一款真正開放的軟件架構(gòu)，測(cè)試經(jīng)理終于有一套完備的多架構(gòu)、多功能測(cè)試方案可以利用了。