手動或自動操作的雙向可控硅測試儀

圖2，對于阻性負載，測試儀用兩只LED指示兩個方向的成功與失敗。

　　針對驅(qū)動阻性負載的雙向可控硅要用不同的測試設(shè)備，如白熾燈或加熱器（圖2）。每只LED檢查一個方向的導(dǎo)通性。當雙向可控硅關(guān)閉時，兩只LED均熄滅。而在打開時，兩只LED均應(yīng)發(fā)光。對于感性負載（如電機），雙向可控硅要并聯(lián)一個由C1和R1組成的RC緩沖電路（圖3）。不幸的是，緩沖電路會使測試電路產(chǎn)生一個小的電流泄漏，即使在雙向可控硅已關(guān)閉的情況下。圖3中的電路表示如何用電阻R2和一只交流擊穿電壓為95V的氖燈，避免這個問題。

圖3，對于感性負載，增加一個氖燈來盡量減少泄漏電流。

　　圖1、圖2和圖3中測試結(jié)果的指示器均為LED。有些情況下，雙向可控硅的測試是一個多任務(wù)測試系統(tǒng)的一部分，用于檢查整個設(shè)備的其它元件或參數(shù)，包括雙向可控硅。這種測試包含一個測量序列，系統(tǒng)操作者只獲得兩個可能信號中的一個：合格或不合格。這些測試采用一種基于微控制器的系統(tǒng)。因此，所有接口信號均為數(shù)字格式：高或低。

圖4，一只光耦將雙向可控硅與大地隔離開來。

　　你也可以通過使用微控制器的ADC從而用模擬信號。不過，一般不采用這種方法，因為低端微控制器中的ADC數(shù)量有限，并且需要更復(fù)雜的軟件。如果雙向可控硅的MT1管腳接地，則微控制器與待測雙向可控硅的接口就沒有問題。在多數(shù)情況下，MT1和MT2是與大地隔離的。當有這種情況時，可以用一只光耦，如California Eastern Laboratories的PS2501-2（圖4）。它包含兩個光學耦合的隔離器，由LED和NPN光電晶體管組成，最大電壓為80V。

圖5，RC濾波器使你可以采用PWM信號。

　　如果雙向可控硅的輸出包含一個脈沖序列，例如是用于電機速度或燈光亮度控制的一個PWM（脈沖寬度調(diào)制）信號，則要在微控制器的ADC輸入端前使用一個低通RC濾波器（圖5）。該濾波器的時間常數(shù)t=R6×C2取決于PWM信號周期與占空比。測試鏈中的測量應(yīng)不早于3t~5t。使用微控制器的ADC需要額外的固件。為避免這種要求，可以使用一個比較器（如美國國家半導(dǎo)體公司的LM393），將濾波器后的電壓與一個基準電壓作比較，從而為微控制器的輸入端產(chǎn)生一個邏輯高電平。參考文獻1描述了一種替代性方案，它用最少的外接元件解決了固件復(fù)雜的難題。

參考文獻1
1. Raynus, Abel, “Microcontroller detects pulses,” EDN, July 24, 2008, pg 58, www.edn.com/article/CA6578137.