高性能接觸電阻測(cè)試系統(tǒng)

　　接觸電阻是對(duì)通過閉合觸點(diǎn)對(duì)的電流的阻抗。這種類型的測(cè)量是針對(duì)例如連接器、繼電器和開關(guān)這樣的器件進(jìn)行的。該電阻通常非常小，范圍從微歐到幾個(gè)毫歐，因此需要采用4線測(cè)量法。可編程掃描儀通過將一組測(cè)試儀器切換至多個(gè)觸點(diǎn)，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。例如測(cè)試多插針連接器或自動(dòng)測(cè)試環(huán)境艙中的多個(gè)觸點(diǎn)時(shí)。

　　圖 1，測(cè)量20個(gè)觸點(diǎn)的接觸電阻

　　如圖1所示，為防止測(cè)試線、通路和開關(guān)的接觸電阻被疊加到測(cè)量值，歐姆表的全部4個(gè)端子都通過開關(guān)進(jìn)行切換。注意，電源 HI和LO端子被連接到一組雙刀開關(guān)，而測(cè)量HI和LO端子則被連接到另一組雙刀開關(guān)。若要測(cè)量觸點(diǎn)1的電阻，需要閉合通道1和21，然后利用歐姆表測(cè)量電阻；若要測(cè)量觸點(diǎn)2，需要開路通道1和21，閉合通道2和22，然后再次測(cè)量電阻。

　　Keithley 2750型多用表/開關(guān)系統(tǒng)能夠測(cè)量低于1 mΩ的電阻，并具有偏移補(bǔ)償和干電路（Dry Circuit）測(cè)試能力，所以可用來測(cè)量接觸電阻。

　　小功率應(yīng)用中的觸點(diǎn)通常是在干電路條件下進(jìn)行測(cè)試的，在這種情況下，電流和電壓均被限制到不會(huì)引起點(diǎn)接觸結(jié)的物理和電氣條件發(fā)生變化。通常而言，干電路的開路電壓非常低，一般為20 mV或更低，短路電流被限制為100 mA或更低。