智能卡的自動化測試平臺設計

PC／SC規(guī)范包含大量Scard為前綴的API，可以在 winscard．h中找到其原型。應用程序需要包含win—scard．1ib，所有函數(shù)的正常返回值都是SCARD—S—SUCCESS，在這些函數(shù)中常用的只有幾個。與智能卡的訪問流程如下：

(1)初始化函數(shù)中調(diào)用SCardEstablishContext，建立資源管理器的上下文，獲得設備的連接句柄，若返回SCARD— S— SUCCESS，則調(diào)用成功；調(diào)用ScardLis—tReaders獲得系統(tǒng)中安裝的讀卡器列表，調(diào)用成功則獲取聯(lián)機的讀卡器名字。
(2)在響應函數(shù)中調(diào)用ScardConnect與卡片建立連接，此時能與卡片通信。
(3)與卡片連接后通過調(diào)用SCardTransmit來發(fā)送命令，得到由卡片返回的數(shù)據(jù)。
(4)卡片處于連接狀態(tài)時，可以調(diào)用SCardRecon—nect函數(shù)使卡片復位。
(5)完成了與卡片的命令發(fā)收后，調(diào)用SCardDis—connect函數(shù)斷開與智能卡的連接。
項目已經(jīng)實現(xiàn)以上功能的編程接口，而且利用類的方法進行了封裝。

　　3 測試平臺的使用

　　3．1 測試流程

　　腳本的制定還是使用人工方式，測試人員通過測試平臺完成測試。自動化測試不需要人工干預，縮短了測試時間。因而測試過程采用人工測試和自動化測試相結合的方法進行。

　　用戶可以編寫測試腳本，快速發(fā)送測試命令和收集測試數(shù)據(jù)，可以單次執(zhí)行或者循環(huán)執(zhí)行，當滿足終止條件時，腳本執(zhí)行結束，生成測試報告。圖5為測試流程圖。

　　3．2 功能測試

　　測試平臺能夠以APDU為基本單元完成針對智能卡的功能測試，下面分別對其進行介紹。

　　3．2．1 測試基本單元

　　測試平臺與智能卡通信的基本單元是APDUL9 。應用層以APDU為單位進行有序的數(shù)據(jù)交換，應用層交換的每一步都以命令應答對組成。APDU的命令應答對由以下部分組成：命令APDU包含一個必備的四字節(jié)頭(CLA，INS，P1，P2)和可選的命令體(Lc，Data，Le)。命令頭為命令的編碼，Lc為體內(nèi)數(shù)據(jù)(data)長度，Data為發(fā)送的數(shù)據(jù)，Le為應答APDU數(shù)據(jù)字段的最大字節(jié)數(shù)。應答APDU由可選長度體和兩字節(jié)狀態(tài)字SW1一SW2組成。其中，體內(nèi)的字節(jié)數(shù)由命令APDU 的Le指出。Data為卡片接受命令APDU后返回的數(shù)據(jù)。尾部狀態(tài)字指出卡的處理狀態(tài)。其中，61xx和9000為正常處理，6lxx的含義SW2指出仍然有效的應答字節(jié)數(shù)，9000代表正常處理。

　　3．2．2 單元測試

圖5 測試流程圖

　　同樣，智能卡內(nèi)部程序也是以APDU為單位實現(xiàn)的，因此單元測試的對象就是APDU。發(fā)送一個APDU給智能卡，通過智能卡內(nèi)部程序執(zhí)行完后返回狀態(tài)字，判斷執(zhí)行結果的正確與否。命令之間存在著相互依賴關系，因此命令之間通常要相互配合才能完成測試任務。

　　3．2．3 集成測試

　　集成測試主要是通過命令之問有序地執(zhí)行完成智能卡的功能測試，根據(jù)不同的測試需要可以對測試腳本進行分類，例如FLASH 的讀／寫，加密模塊的測試等。按照需要整理好相應的測試腳本后就可以在測試平臺上運行，通過腳本與智能卡程序的互測，達到測試目的。測試平臺支持自動化測試，所以可以在測試平臺上不間斷地執(zhí)行測試腳本，測試人員不需要實時跟蹤，只需要關心最后的測試結果，通過測試結果可以發(fā)現(xiàn)問題，解決問題。

　　4 結 語

　　該系統(tǒng)已經(jīng)通過測試，并且得到初步驗證。由于針對智能卡的測試項很多，通常需要多種測試工具的軟件和硬件設備交互使用，測試人員要熟悉各種軟件工具，相應地降低了工作效率。如果能將各種工具軟件集成在一起，形成一個多功能的測試平臺，支持多種通信接口的讀卡器，支持多種腳本格式，那么這將是下一步的工作重點。