使用NI LabVIEW 的自動高電壓電擊測試

Author(s):
David Hakey - Medtronic, Inc.
Patrick J. Ryan - Medtronic, Inc.
Johnny Maynes - Medtronic, Inc.

Industry:
Electronics, Biotechnology

Products:
NI-VISA, LabVIEW, FPGA Module, PXI-7811R

The Challenge:
構(gòu)成自動化的高電壓 (HV) 電擊器測試系統(tǒng)，以個別測試 12 組 HV 電擊器模塊，并可測試不同的產(chǎn)品類型，縮短整體測試時間。

The Solution:
使用 NI LabVIEW FPGA 軟件與 NI 智能數(shù)據(jù)采集 (DAQ) 硬件，建立非同步化的環(huán)境；所有的 12 個模塊均具有獨立通訊埠，并可自動執(zhí)行作業(yè)。

Medtronic 公司的測試工程團隊必須研發(fā)自動化的 HV 電擊器測試解決方桉，且共 12 個測試模塊能夠個別測試 1 ~ 4 種不同的產(chǎn)品，以縮短整體測試時間。透過 LabVIEW FPGA 與 NI 智能DAQ硬件，團隊將模塊通訊速度從 20 KHz (平行通訊埠) 大幅提升至 1.7 MHz (FPGA)，而縮短整體測試時間。

前款手動系統(tǒng)即透過平行通訊埠同步執(zhí)行 12 個模塊，僅可測試 1 種 HV 電擊器，且測試 12 組儀器需耗時 135 分鐘。新的自動化系統(tǒng)可透過 FPGA 數(shù)位 I/O 通訊功能，非同步執(zhí)行 12 個模塊，并于 48 分鐘內(nèi)測試最多 4 種不同類型的共 12 項裝置。重入碼測試序列器 (Reentrant test sequencer) 與測試程式可獨立控制各測試模塊，因此可由自動化裝置操作 (Handling) 系統(tǒng)引導(dǎo)進行各組測試作業(yè)。執(zhí)行測試的主機電腦整合自動化裝置操作系統(tǒng)，與 HV 電擊器測試系統(tǒng)。

測試自動化
AeroSpec 測試自動化操作系統(tǒng)將負(fù)責(zé)從 4 組輸入盤 (Input tray) 中取出待測裝置 (DUT)；透過光學(xué)自行辨識 (OCR) 功能讀取 DUT 序號；將 DUT 載入或卸載 12 組測試模塊之一；最后根據(jù)測試結(jié)果，將 DUT 置于 12 組輸出盤之一。4 項不同的產(chǎn)品可設(shè)定于 4 組輸入盤中，每輸入盤可容納 20 組裝置。

Test executive 系統(tǒng)為主控制器，可提供使用者界面、主導(dǎo)測試模塊的負(fù)載與卸載程度，并讓 Test manager 針對實際裝置或裝載于測試模塊的裝置，進行 HV 電擊器測試。