一種測量石英晶體諧振器靜電容的新方法
1. 引言
石英晶體諧振器(以下簡稱為石英晶體)作為一種性能優(yōu)良的頻率基準和時鐘源在電子領域有著廣泛應用。石英晶體的中間測試在石英晶體的生產(chǎn)中是處于微調(diào)和封裝之間的工序,要求對石英晶體的基本電參數(shù)進行測量,以保證產(chǎn)品最終質(zhì)量。在石英晶體的中間測試中,需要測量串聯(lián)諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負載諧振頻率、負載諧振電阻、靜電容、動電容、頻率牽引靈敏度和DLD等參數(shù)。其中,靜電容C0主要由石英晶體兩端所鍍銀膜決定,表征了石英晶體的靜態(tài)特性,與石英晶體的串聯(lián)諧振頻率和負載諧振頻率等應用指標密切相關。根據(jù)靜電容和其它參數(shù)的關系,還可以計算出負載諧振電阻、動電容、頻率牽引靈敏度和DLD等參數(shù)的值,這在實際測量中是經(jīng)常采用的方法。靜電容的測量是石英晶體中間測試的重要內(nèi)容。目前,IEC(國際電工委員會)所推薦的石英晶體測量的標準方法是π網(wǎng)絡零相位法。在該方法中,未規(guī)定測量靜電容的標準方法。若采用諧振法、交流電橋法等常用方法來測量靜電容,會增加整個測量系統(tǒng)的復雜性,并且對諧振頻率的測量產(chǎn)生不利影響。本課題提出了一種基于π網(wǎng)絡零相位法的測量石英晶體靜電容的新方法,并據(jù)此設計制作了實驗測量系統(tǒng)。
2.測量原理與電路
2.1石英晶體的等效電參數(shù)模型
石英晶體的等效電參數(shù)模型如圖1所示:
其中,C0是石英晶體兩電極間的電容,稱為石英晶體的靜電容,C1稱為石英晶體的動電容,L1稱為石英晶體的動電感,R1表示石英晶體在振動時的損耗,稱為串聯(lián)諧振電阻。當激勵信號的頻率等于石英晶體的諧振頻率時,其等效電參數(shù)模型為純電阻。由于C1、L1的值非常小,當激勵信號的頻率遠離石英晶體的諧振頻率時,R1、C1、L1的影響可以忽略不計,此時,石英晶體等效成一個值為C0的電容。
2.2 π網(wǎng)絡法原理
IEC所推薦的π網(wǎng)絡如圖2所示:
網(wǎng)絡的阻抗與測試儀表的阻抗相匹配,并衰減來自測試儀器的反射信號。M為待測石英晶體。Va是輸入激勵信號,Vb是π網(wǎng)絡輸出信號,它們都是矢量電壓信號。當石英晶體處于諧振狀態(tài)時,其表現(xiàn)為純電阻特性,此時Va與Vb之間相位差為零,Va的頻率即為石英晶體的串聯(lián)諧振頻率。所以,通過改變Va的頻率并檢測Va與Vb之間相位差可以找到石英晶體的諧振頻率。對于π網(wǎng)絡中石英晶體的靜電容如何測量,IEC并未推薦標準方法。?π網(wǎng)絡由對稱的雙π型電阻回路組成,R1、R2和R3構(gòu)成輸入衰減器,R4、R5和R6構(gòu)成輸出衰減器。
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