一種基于LabVIEW的熱舒適測試系統(tǒng)的設計
4 結(jié)果與分析
4.1 系統(tǒng)運行結(jié)果
圖4顯示了數(shù)據(jù)采集以及PMV,PPD計算的在線顯示結(jié)果。由采集到的4個參數(shù)rh,ta,v,tr與輸入?yún)?shù)m,CLO一起通過程序運算,得到PMV,PPD結(jié)果。
4.2 系統(tǒng)性能測試結(jié)果與分析
4.2.1 采樣頻率對于測試系統(tǒng)的影響
某些測試系統(tǒng)在工程運用中會出現(xiàn)隨著系統(tǒng)連續(xù)運行時間的延長,而采樣速度越來越慢的情況,直到系統(tǒng)崩潰。這里檢驗采樣頻率對測試系統(tǒng)的影響。本設計中儀器的最高出樣頻率為10 Hz。實驗中,分別采用10 Hz,8 Hz,4 Hz的采樣頻率對測試系統(tǒng)進行連續(xù)測試,測試結(jié)果如圖5所示。由圖可看出,采樣頻率隨著測試時間的延長,不斷的衰減。采樣頻率越高,衰減的越快,越迅速。當以10 Hz采樣時,系統(tǒng)運行不到5 min就開始崩潰;當以4 Hz采樣時,系統(tǒng)也只能平均運行30 min。不管是采用高的采樣頻率,還是低的采樣頻率,只要是系統(tǒng)連續(xù)運行,系統(tǒng)早晚都會出現(xiàn)崩潰。因此,可以得出,采樣頻率不是導致測試系統(tǒng)崩潰的原因。
4.2.2 數(shù)據(jù)記錄對于測試系統(tǒng)的影響
測試系統(tǒng)通過創(chuàng)建文件記錄數(shù)據(jù),波形顯示記錄數(shù)據(jù),表格顯示記錄數(shù)據(jù)三種方式來記錄數(shù)據(jù)。鑒于上面提到的計算機運行崩潰的問題,在10 Hz的采樣頻率下,分別測試在三種記錄數(shù)據(jù)的情況下計算機的運行情況。圖6表示了以10 Hz的采樣頻率測試時計算機CPU和內(nèi)存的運用情況。從圖中看出,創(chuàng)建文件和波形顯示記錄數(shù)據(jù)時,計算機的運行穩(wěn)定,CPU使用率在7%左右,內(nèi)存占用 75 000 KB左右;當采用表格記錄數(shù)據(jù)時,系統(tǒng)一開始運行,計算機的CPU使用率和內(nèi)存占用空間都在不斷升高,直到系統(tǒng)運行到4 min時,CPU的使用率達到100%,系統(tǒng)崩潰。
在4.2.1節(jié)中系統(tǒng)以10 Hz采樣時,采樣頻率也是在第4 min的時候開始衰退,兩者出現(xiàn)的時間點吻合。鑒于上述情況,實驗發(fā)現(xiàn),當LabVIEW系統(tǒng)采用內(nèi)置表格記錄數(shù)據(jù)時,記錄的數(shù)據(jù)不斷占用系統(tǒng)內(nèi)存,直至計算機崩潰,最終導致測試系統(tǒng)的崩潰,使得出現(xiàn)采樣頻率持續(xù)衰減的現(xiàn)象。
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