通過先進(jìn)的校準(zhǔn)測試方法降低移動(dòng)設(shè)備的成本

快速校準(zhǔn)模式的實(shí)現(xiàn)

無論是移動(dòng)設(shè)備還是OBT，高速校準(zhǔn)采用特定的測試模式，來實(shí)現(xiàn)盡可能快的測試速度。有些OBT通過可視作為用來縮短OEM廠商測量時(shí)間的測量例程，提供了許多這類特定的測試模式。應(yīng)注意的是這些工具是沒有用的，除非在所用的芯片集中能夠采用一個(gè)等效的模式。

一個(gè)多觸發(fā)測量(圖3)模式提供了在一個(gè)單信道上快速測量GSM移動(dòng)設(shè)備的輸出功率的方法，功率電平可以多達(dá)500個(gè)。該方法的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是，對芯片集的修改較小。缺點(diǎn)是沒有Tx/Rx并行測量，還需要多個(gè)序列，具體取決于被測的Tx信道數(shù)量。

圖3：在單信道上實(shí)現(xiàn)GSM移動(dòng)設(shè)備快速測量的多觸發(fā)測量。

由于EDGE調(diào)制可能包括一個(gè)在GSM調(diào)制中所沒有的幅度的較大變化，需要采用一個(gè)特定的校準(zhǔn)技術(shù)來補(bǔ)償這一變化。預(yù)失真測量可以實(shí)現(xiàn)這一校準(zhǔn)，具體方法是校準(zhǔn)設(shè)備中的功率放大器的相位與功率的關(guān)系。

第一種的預(yù)失真測量是當(dāng)輸入功率按方波變化時(shí)測量功率和相位。圖4所示即為該類測量，該測量中采用了500個(gè)相鄰的測試周期，周期長度從200μs到4.6ms之間可調(diào)。

圖4：輸入功率以方波變化時(shí)測量功率和相位的預(yù)失真測量。

第二種預(yù)失真測量是在輸入功率按三角波形時(shí)變化時(shí)測量功率和相位。圖5中，測量在8192個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行，采樣率為1.625MHz。該方法在階段的時(shí)間內(nèi)提供了更多的數(shù)據(jù)，相對于第一種預(yù)失真測量，在芯片集上實(shí)現(xiàn)的難度可能會(huì)大一些。

圖5：輸入功率以三角波形時(shí)變化時(shí)測量功率和相位的預(yù)失真測量。