PXI Express技術(shù)詳解(完整版)
軟件定義的測(cè)量:RF與通信測(cè)試
按照虛擬儀器方式,PCI或快速PCI總線是作為從儀器到PC的數(shù)據(jù)總線。可以結(jié)合定制算法或常見(jiàn)測(cè)量值(如上升時(shí)間或THD(總諧波失真)),對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。由于軟件定義的測(cè)量可以通過(guò)支持重新配置儀器以實(shí)現(xiàn)各種任務(wù),所以非常有價(jià)值。
一個(gè)需要利用軟件定義測(cè)量的應(yīng)用領(lǐng)域便是RF與通信制造測(cè)試。由于現(xiàn)在的無(wú)線設(shè)備使用多個(gè)通信協(xié)議,如802.11g、GSM、GPS和藍(lán)牙等,導(dǎo)致無(wú)線設(shè)備的測(cè)試挑戰(zhàn)性和測(cè)試成本均急劇增加。以往,需要多個(gè)儀器以表征不同通信標(biāo)準(zhǔn)下的設(shè)備性能。然而使用多個(gè)獨(dú)立儀器的成本非常高。今天,這種執(zhí)行軟件定義的RF測(cè)量的能力可以支持RF儀器的復(fù)用,以兼容多種協(xié)議的測(cè)試。因而,同一臺(tái)儀器可以與多個(gè)不同特性的軟件協(xié)同使用。用于無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試的儀器復(fù)用的一個(gè)常見(jiàn)范例,便是手機(jī)制造,如下圖所示:
如圖所示,單個(gè)PXI向量信號(hào)分析儀捕獲對(duì)應(yīng)不同通信標(biāo)準(zhǔn)的不同頻率的RF信號(hào)。由于通信協(xié)議堆棧用軟件實(shí)現(xiàn),同一臺(tái)儀器可以被復(fù)用于每一個(gè)通信標(biāo)準(zhǔn)。從而,軟件定義的測(cè)量方式縮減了測(cè)試成本與空間占用。
多儀器集成:混合信號(hào)ASIC特征
對(duì)于混合信號(hào)測(cè)試,PXI的另一個(gè)技術(shù)優(yōu)勢(shì)是它提供了在同一個(gè)系統(tǒng)中緊密集成多個(gè)儀器的能力。這一能力提供了儀器間的精確同步和模擬與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)間的相關(guān),并減少了儀器占用空間。這種儀器系統(tǒng)的混合信號(hào)方式使得各種測(cè)試應(yīng)用獲益匪淺。多通道混合信號(hào)ASIC,如數(shù)模轉(zhuǎn)換器,便是一個(gè)范例。
現(xiàn)代專用集成電路(ASIC)需要滿足各種不同信號(hào)要求的混合信號(hào)輸入和輸出。按照傳統(tǒng)方法,這些設(shè)備的自動(dòng)化測(cè)試需要多個(gè)工作臺(tái)儀器,這需要耗費(fèi)相當(dāng)大的成本和物理空間。今天,PXI儀器系統(tǒng)提供了一種在單個(gè)測(cè)試中可以集成多個(gè)儀器的單平臺(tái)解決方案。
例如,考慮表征一個(gè)4-通道、12-位、100 MHz數(shù)模轉(zhuǎn)換器所需的測(cè)試儀器。該ASIC需要超過(guò)48個(gè)同步數(shù)字I/O的通道、4個(gè)精確模擬輸入通道和一個(gè)可編程的DC電源。使用PXI儀器系統(tǒng),在同一個(gè)系統(tǒng)中集成多個(gè)PXI儀器可以解決這一測(cè)試難題。如下圖所示,可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)數(shù)字I/O模塊的同步,以提供48個(gè)滿足通道間時(shí)間偏移小于1 ns的通道。此外,一個(gè)PXI高速數(shù)字化儀可以提供100 MS/s的采樣率和14-位的精度。結(jié)合使用一個(gè)低插入損耗的RF開(kāi)關(guān)之后,該測(cè)試系統(tǒng)僅需要一個(gè)數(shù)字化儀。最后,可以使用一個(gè)PXI可編程電源,以提供從0V到6V的、120?V精度的電壓。一個(gè)多通道DAC的參考架構(gòu)如下所示:
利用PXI模塊化儀器,可以利用單個(gè)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)一個(gè)混合信號(hào)測(cè)試平臺(tái)。測(cè)試一個(gè)4-通道DAC所需的系統(tǒng)如下所示:
以模塊化方式構(gòu)建的儀器系統(tǒng)可以被重新配置或擴(kuò)展以滿足未來(lái)的測(cè)試需求。此外,與LabVIEW編程環(huán)境的連接支持如THD、SFDR和SINAD等值的測(cè)量。在該系統(tǒng)中,通過(guò)觀察其在電源、電流等各種因素改變時(shí)的性能表現(xiàn),被測(cè)設(shè)備的特性可以被全面地刻畫(huà)。
評(píng)論