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          EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計應(yīng)用 > 快速讀懂Android裝置測試要領(lǐng) --淺談常見產(chǎn)品問題風(fēng)險與驗(yàn)證架構(gòu)--

          快速讀懂Android裝置測試要領(lǐng) --淺談常見產(chǎn)品問題風(fēng)險與驗(yàn)證架構(gòu)--

          作者: 時間:2011-11-15 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          為何首先要先討論的問題風(fēng)險呢?一個驚人的數(shù)據(jù)顯示,截至目前為止由硬件廠商(IHVs)、開發(fā)商及使用戶所回報的 OS bug數(shù)量,達(dá)到了十二萬個,這其中包含了各種大大小小的問題瑕疵,有些僅是影響作業(yè)流暢度、有些則是可能造成數(shù)據(jù)外泄、或是系統(tǒng)當(dāng)機(jī)的critical bug。由此觀之,作為一個開放式系統(tǒng),必須與硬件商、應(yīng)用程序端相互整合,因此有許多設(shè)計面向都必須顧慮周全,目前已為人所知或備受探討的Android常見問題包括有:

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/257811.htm

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