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          基于封裝天線(AiP)的過孔分析

          作者: 時間:2014-08-04 來源:網(wǎng)絡 收藏

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/259331.htm

          5測量結(jié)果

          圖5為根據(jù)所研究的天線物理原型制作的天線實物。測量結(jié)果展示在圖6和7中,可以看出測量結(jié)果與仿真結(jié)果吻合較好。當兩個中心坐標為(8,8),(8,-4)時,在原中心頻率附近出現(xiàn)新的通帶,測量的天線帶寬由一個時0.13GHz展寬到0.45Ghz,比原來增加了兩倍多。測量中心頻率比仿真的均偏低100MHz,這是由于介質(zhì)和制作誤差引起的。

          圖5天線實物照片

          圖6一個(x1,y1)=(8,0)時的測量結(jié)果

          圖7兩個過孔x1=x2=8,y1=8,y2=-4時的測量結(jié)果

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