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          低損耗混合饋電波導慢波線頻掃陣列設計

          作者: 時間:2014-05-06 來源:網(wǎng)絡 收藏

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/259472.htm

          1引言

          隨著雷達、通信、移動電視技術的不斷發(fā)展,電掃描天線得到了快速發(fā)展。數(shù)字波束形成天線陣列和可重構天線都可以實現(xiàn)電掃描,但與頻掃天線相比,他們的成本和復雜度要高得多??芍貥嬏炀€可實現(xiàn)口徑的復用 ,但它不適合大型陣列。在頻掃天線的設計中,要考慮以下四個主要因素:(1)掃描范圍,(2)所需要的工作帶寬,(3)復雜度,(4)慢波線損耗。為了克服慢波線損耗大的缺點,漏波天線應運而生,而漏波天線的缺點是掃描范圍有限。因此便產(chǎn)生了雙波束等一些技術。用這些方法實現(xiàn)的天線口徑大、增益小。為了提高效率,并有效地結合波導饋電和微帶饋電的優(yōu)勢,提出了混合饋電技術。我們在前期的工作中將混合饋電技術應用于頻掃陣列,并設計了一個22×2的陣列天線,其仿真和實際測試性能良好。本文在此基礎上,擴大陣列規(guī)模,完成了二維陣列的設計。

          為了實現(xiàn)低損耗高增益的要求,本文設計的陣列采用低損耗E面彎曲波導作頻掃慢波線,微帶貼片天線作頻掃輻射單元。實測結果表明在X波段1GHz帶寬內(nèi),該22單元頻掃陣列能實現(xiàn)(-46°,48°)的波束掃描,副瓣電平均低于-11.5dB,最大增益為24dBi。

          2頻掃陣列結構

          本文設計的天線陣列結構如圖1所示,其工作頻帶為8.85-9.85GHz。此陣列采用E面彎曲波導作頻掃慢波線,微帶貼片陣列作為輻射天線。該E面彎曲波導頂部開口,金屬地板作為該開口波導的一個窄壁。耦合縫隙開在共用地板上,天線陣列位于縫隙上層。通過耦合實現(xiàn)能量從慢波線至輻射單元的傳輸。改變耦合縫隙的尺寸,可以獲得不同的耦合系數(shù),實現(xiàn)所需的陣列口徑分布。本設計所用的波導型號為WR-90標準波導,波導內(nèi)口徑尺寸為22.86×10.16mm2,彎曲波導頂部金屬接地板厚1mm。

          圖2中給出了陣列單元結構及相應的參數(shù)。微帶貼片天線呈中心對稱放置在耦合貼片的兩側(cè)以保證各輻射單元電流方向相同。圖3為混合饋電結構的耦合系數(shù)隨頻率的變化曲線,混合饋電結構各參數(shù)與耦合系數(shù)的具體變化關系可參閱文獻。圖4給出了窄邊開縫波導傳輸線的等效電路圖。陣列口徑采用-20dB的泰勒分布,當負載吸收功率占輸入功率的百分之十時,陣列各單元歸一化耦合系數(shù)曲線如圖5所示。

          本設計單元間的長158.3mm,掃描維單元間距為16.74mm。所用的介質(zhì)材料為Arlon公司的Diclad880,介電常數(shù)為2.2,介質(zhì)基片厚度為40mil(約1mm),介質(zhì)損耗角為0.0009。基于工程應用的需要,陣列單元數(shù)為22個單元,該頻掃天線陣列的總尺寸為380×220×25mm3。

          圖1混合饋電的微帶貼片頻掃陣列結構圖

          圖2陣列單元結構參數(shù)圖

          圖3混合饋電結構的耦合系數(shù)隨頻率變化曲線

          圖4窄邊開縫波導傳輸線等效電路

          圖522單元串饋頻掃陣各單元耦合系數(shù)

          3仿真及實測結果

          本設計利用商用仿真軟件HFSS12進行仿真。陣列單元結構參數(shù)設置如下:微帶輻射貼片的長、寬分別為lsp、wsp。混合饋電結構中矩形縫隙長、寬分別為lst、wst,縫隙傾斜角為θs,耦合微帶貼片的長、寬分別為lcp、wcp。優(yōu)化過程中,保持wcp=3mm和wst=1mm不變,改變縫隙和貼片的長度及縫隙傾角,來獲得所需的各單元的耦合系數(shù)。優(yōu)化后的22單元混合饋電結構尺寸如表1所示。該頻掃陣列的仿真結果表明在8.85GHz-9.85GHz頻率范圍內(nèi)可實現(xiàn)(-46°,+48°)的波束掃描,波束較好,陣列增益均高于20dBi,最大增益為27dBi,仿真得到的增益曲線見圖10。圖6中給出了該頻掃陣列仿真的各頻點的副瓣電平,除個別頻點外,頻帶內(nèi)的副瓣電平均低于-13dB。仿真的副瓣電平與理論值有一定偏差,這主要是由于各單元的耦合系數(shù)并不能在整個頻帶內(nèi)完全符合設計要求。加工好的陣列如圖7所示,終端接匹配負載。圖8給出了該頻掃陣列測試的掃描方向圖,結果表明在8.85GHz-9.85GHz頻率范圍內(nèi)可以實現(xiàn)(-46°,+48°)的波束掃描,且掃描波束較好。圖6中給出了該頻掃陣列各頻點測試的副瓣電平,頻帶內(nèi)的副瓣電平均低于-11.5dB,最低副瓣電平達-14dB。根據(jù)圖9所示的各掃描頻率點的增益大小可以看出,除個別頻點外陣列增益均在20dBi左右,最高達24dBi??梢妼崪y的增益要比仿真值低,可能是因為加工誤差及中間地板層與下層波導組裝的不夠緊密造成,需進一步分析。


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