安捷倫推出加速RFIC設(shè)計驗證軟件GoldenGate 2012

安捷倫(Agilent)推出旗下最新版的射頻積體電路(RFIC)模擬、驗證與分析軟件--GoldenGate 2012，具有X參數(shù)萃取功能，可提升效能和可用性水準；GoldenGate 2012將于8月正式上市。

Amalfi工程副總裁Alireza Shirvani表示，GoldenGate能支援新的X參數(shù)萃取功能，Amalfi將使用X參數(shù)來加速在晶粒模組介面的設(shè)計與協(xié)同模擬，并分享可將特殊細節(jié)加以編碼的可執(zhí)行電路模型。

此外，GoldenGate 2012能為RFIC設(shè)計師提供許多可加速設(shè)計驗證的強化技術(shù)、廣泛可制造性設(shè)計(Design-for-Manufacturing)解決方案和更完善的系統(tǒng)設(shè)計連結(jié)，且新的授權(quán)模式，還可讓使用者擁有更大的采購彈性。

設(shè)計驗證對現(xiàn)今RFIC設(shè)計師來說，是件繁瑣又費時的工作。GoldenGate 2012透過提升技術(shù)來加快設(shè)計驗證的過程，可讓使用者設(shè)定分散式模擬，以最佳效能執(zhí)行模擬，以及顯示和分析大量的資料。

安捷倫還以基本的GoldenGate模擬器授權(quán)的部分價格，為使用者提供廣泛的「平行模擬授權(quán)」，該授權(quán)獲得所有可啟用平行模擬的環(huán)境，以及Cadence Virtuoso中的ADE-XL支援。

至于GoldenGate 2012的X參數(shù)萃取關(guān)鍵功能，X參數(shù)是S參數(shù)的超集，可用于分析大輸入功率位準下，非線性元件所產(chǎn)生的諧波之振幅和相對相位。新的X參數(shù)功能可讓設(shè)計師擷取放大器等主動元件的非線性行為，并儲存該資料供射頻系統(tǒng)或電路設(shè)計的模擬模型快速取用，同時還能隱藏所有的智財元件。

GoldenGate 2012改善RFIC模擬功能，并提供先進的分析和毫米波設(shè)計支援，以及符合無線標準的驗證。這些及其他的增強功能，都是為了進一步提升軟件的效能和可用性而設(shè)計。

在可制造性設(shè)計方面的另一項增強功能，是可將GoldenGate 2012整合到MunEDA的WiCkeD工具套件，以執(zhí)行電路的分析、大小調(diào)整與模型建立。這項整合可自動補償制程變異與寄生的影響，并有助于減少射頻電路的總消耗功率和雜訊。透過GoldenGate 2012，RFIC設(shè)計師將可以在先進制程節(jié)點，更有信心地開發(fā)出尖端的射頻產(chǎn)品。

另一方面，晶圓制造商與EDA的合作，對于確保在先進的RF制程節(jié)點達到精確矽制程(Silicon-Accurate)的結(jié)果同樣很重要。安捷倫EEsof部門與各大RFIC制造商的密切合作，使GoldenGate得以持續(xù)符合新制程節(jié)點的要求。

格羅方德(GLOBALFOUNDRIES)設(shè)計方法總監(jiān)Richard Trihy指出，格羅方德承諾為客戶提供專屬的射頻設(shè)計流程支援，以協(xié)助他們處理現(xiàn)今復雜的射頻設(shè)計所帶來的挑戰(zhàn)。對GoldenGate的支援，可讓格羅方德客戶方便使用安捷倫證實可靠的射頻/微波設(shè)計技術(shù)，接著格羅方德將致力于使安捷倫的RFIC解決方案，通過65奈米和55奈米制程節(jié)點認證。

GoldenGate還包括Momentum，可用于三維(3D)平面電磁模擬；SystemVue和Ptolemy Wireless Test Benches，可用于系統(tǒng)層級的驗證；以及ADS先進設(shè)計系統(tǒng)的Data Display，可用來執(zhí)行復雜的資料分析。