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          LTE手機(jī)射頻信道衰落測試方案

          作者: 時間:2011-03-17 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          在任何實際移動通信網(wǎng)絡(luò)中,基站與手機(jī)或其他用戶設(shè)備(UE) 之間傳輸?shù)男盘枺紩嬖趪?yán)重的信號質(zhì)量下降問題。這是因為,信號傳輸有無數(shù)條路徑,每條路徑有不同的衰減值和相位差,接收的信號是這些多徑信號的總和。這些多徑信號積極的和破壞性的不同組合會產(chǎn)生衰落(fading),信號路徑質(zhì)量下降可用 Rayleigh 系數(shù)表示。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/260514.htm

          隨著全球蜂窩通信網(wǎng)絡(luò)運營商逐步采用,滿足所有要求的需求也在增長,其中包括衰落特性。第三代合作伙伴計劃(3GPP) 在其TS 36.521-1標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了衰落的技術(shù)規(guī)格,用以測量手機(jī)的衰落特性。

          傳統(tǒng)衰落特性測試方法采用外部衰落模擬器和噪聲源,通過常規(guī)射頻測試設(shè)備修改信號。這種設(shè)備顯著增加了整個測試系統(tǒng)的成本,并且需要額外的軟件控制并協(xié)調(diào)各個儀器。本文將介紹一種創(chuàng)新的全數(shù)字衰落模擬方法,這種方法可極大減少增加貴重設(shè)備所產(chǎn)生的成本,同時提高測量精度并縮短測試時間。

          模擬信號衰落

          如圖1所示,實際系統(tǒng)環(huán)境下,發(fā)射機(jī)與接收機(jī)之間存在無數(shù)條路徑。顯然,不可能模擬所有路徑,但為了滿足測試目的,那些損耗明顯大于“最佳”路徑且對接收信號質(zhì)量造成負(fù)面影響的路徑將,我們將其忽略。同樣,延遲較長的路徑,也會產(chǎn)生很高損耗,不需要進(jìn)行模擬。根據(jù)具有相似延遲的一組路徑,以及多普勒頻移效果的統(tǒng)計可進(jìn)一步簡化模擬。而 等效于基帶信號的射頻(RF)轉(zhuǎn)換,也許是最簡單的一種方法。

          如圖2(a)所示,射頻信道仿真一般采用兩種儀器進(jìn)行測試,即衰落模擬器和加性高斯白噪聲(AWGN)源。衰落模擬器模仿基站與用戶設(shè)備之間隨時間變化的射頻路徑,AWGN信號源模仿其他小區(qū)或用戶產(chǎn)生干擾。

          除附加設(shè)備產(chǎn)生的成本外,這種傳統(tǒng)方法還存在以下局限:

          · 信號電平不穩(wěn),需要非常仔細(xì)的校準(zhǔn)。

          · 外部組件產(chǎn)生介入損耗和延遲。

          · 不同測試需要手動改變連接。

          · 獨立的衰落RF信道數(shù)量有限—— 難以滿足軟切換(UMTS)、天線分集和MIMO(多路輸入/多路輸出)環(huán)境的測試要求。

          · 模擬組件降低信號質(zhì)量。

          · 難以或不可能進(jìn)行精確的重復(fù)測試。

          基帶衰落模擬

          相比之下,內(nèi)置衰落模擬器選件的 7100射頻測試儀采用的測試方法如圖2(b)所示。7100 測試平臺(如圖3所示)衰落模擬功能滿足或優(yōu)于所有3GPP要求,并且可以根據(jù)LTE用戶設(shè)備空前靈活地分配小區(qū)和衰落路徑,不需要手動重新配置。內(nèi)置衰落模擬器的7100測試儀可以進(jìn)行完整的重復(fù)測試,包括模擬動態(tài)環(huán)境,可靠精確地測試MIMO系統(tǒng)。

          7100平臺中的每個基帶模塊是一種Micro-TCA卡,含有多種通用處理器(GPP)、DSP、FPGA和雙向高速數(shù)字鏈路。

          基帶模塊生成一個或大量小區(qū)輸出的基帶樣本,可以是SISO(單路輸入,單路輸出),也可以是MIMO。AWGN在信號到達(dá)RF模塊之前加入信號中,模擬其他干擾小區(qū)。這是一種全數(shù)字解決方案:增加衰落和噪聲不必采用任何 新的模擬器件。這樣可以消除校準(zhǔn)問題,傳輸?shù)侥M器件的信號可以完全重用。

          每個基帶模塊中的多徑模擬器支持多達(dá)9個衰落路徑,每個路徑可在傳輸?shù)男盘栔屑尤腚S時間變化的獨立增益和延遲。

          7100 射頻測試平臺提供可擴(kuò)展的基帶和射頻源。由于加入基帶模塊,而不是射頻通道,衰落也是一種可擴(kuò)展的信號源。通過添加7100單元,只需對物理連接稍做調(diào)整,即可增加小區(qū)、天線或衰落路徑。

          射頻工程師、系統(tǒng)集成人員和回歸測試工程師,需要隨時做好測試LTE新功能的準(zhǔn)備。為滿足LTE未來需求,Aeroflex 7100衰落模擬器支持20 MHz 以下所有LTE帶寬,頻率范圍達(dá)6GHz。衰落模擬器支持所有3GPP衰落規(guī)格,便于用戶確定自己的設(shè)備是否符合3GPP測試技術(shù)要求。

          結(jié)束語

          Aeroflex 7100測試平臺的衰落模擬器和AWGN選件,專門用來克服傳統(tǒng)用戶設(shè)備測試方法在射頻通道中采用外部組件的局限性。此外,7100 測試儀還為滿足3GPP LTE的各種要求提供完整的測試解決方案,包括MIMO、天線分集和軟切換,相對于采購?fù)獠拷M件,可以極低的成本提供精確的、可重復(fù)的測試結(jié)果。

          7100數(shù)字射頻測試儀采用 Aeroflex 經(jīng)過驗證的 RF 和基帶技術(shù),具有支持LTE 終端設(shè)備RF參數(shù)和協(xié)議測試的獨特功能。7100測試儀可從物理層到核心網(wǎng)絡(luò)IP基礎(chǔ)設(shè)施進(jìn)行全面網(wǎng)絡(luò)模擬,以小型臺面測試儀為LTE移動設(shè)備提供完整的測試系統(tǒng)。



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