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          常用的EMC測(cè)試儀器簡(jiǎn)介

          作者: 時(shí)間:2010-06-11 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          電流感應(yīng)器
          電流感應(yīng)器是引用荷爾效應(yīng)(Hall effect),從流動(dòng)導(dǎo)線之電流穿過(guò)電流感應(yīng)器產(chǎn)生磁場(chǎng),執(zhí)行CE101/CE102等傳導(dǎo)干擾時(shí),利用電流感應(yīng)器來(lái)感應(yīng)偵測(cè)導(dǎo)線所溢放射出之雜訊。

          電源阻抗模擬網(wǎng)路(LISN)
          電源阻抗模擬網(wǎng)路是一種耦合電路,主要用來(lái)提供干凈之DC/AC電源品質(zhì),阻擋待測(cè)件雜訊回饋至電源及RF耦合,內(nèi)部電路架構(gòu)與阻抗特性曲線詳如圖。早期軍規(guī)傳導(dǎo)干擾是以10厲貫穿電容為主,電源阻抗模擬網(wǎng)路(LISN) 為輔,1993年以來(lái),軍規(guī)MIL-STD-462D要求改以LISN為主,所用導(dǎo)電桌或木桌上接地平面 (Ground Plane)皆配備LISN作,而CISPR商規(guī)要求所用木桌上也配備LISN作測(cè)試。

          EMI測(cè)試接收機(jī)
          EMI測(cè)試接收機(jī)是試驗(yàn)中最常用之基本測(cè)試,EMI測(cè)試接收機(jī)實(shí)際上是含高頻選頻放大之超外差接收機(jī),其靈敏度可通過(guò)輸入回路之可調(diào)衰減器來(lái)調(diào)變,由于測(cè)試訊號(hào)輸入常常是極寬之頻譜訊號(hào),運(yùn)用可調(diào)諧高頻選擇器對(duì)輸入訊號(hào)進(jìn)行預(yù)選,可以改善混頻器之工作狀況,中頻放大器和中頻選擇器用來(lái)確定之通行頻帶,并對(duì)訊號(hào)進(jìn)行功率放大。基于測(cè)試接收機(jī)之頻率響應(yīng)特性要求,按CISPR16規(guī)定,測(cè)試接收機(jī)應(yīng)有四種基本檢波方式︰準(zhǔn)峰值檢波、均方根值檢波、峰值檢波及平均值檢波。然而,大多數(shù)電磁干擾都是脈沖干擾,它們對(duì)音頻影響之客觀效果是隨著重復(fù)頻率之增高而增大,具有特定時(shí)間常數(shù)之準(zhǔn)峰值檢波器之輸出特性,可以近似反應(yīng)這種影響。因此在無(wú)線廣播頻率領(lǐng)域,CISPR所推薦之電磁相容性規(guī)范採(cǎi)用準(zhǔn)峰值檢波。由于準(zhǔn)峰值檢波既要利用干擾訊號(hào)之幅度,又要反映它之時(shí)間分布,因此其充電時(shí)間常數(shù)比峰值檢波器大,而放電時(shí)間常數(shù)比峰值檢波器小,對(duì)不同頻譜段應(yīng)有不同之充放電時(shí)間常數(shù),這兩種檢波方式主要用于脈沖干擾測(cè)試。瞬間變化及重復(fù)頻率很低之脈沖干擾源已成為主流,使用準(zhǔn)峰值檢波器已不能客觀評(píng)估此類(lèi)干擾之特性,軍規(guī)測(cè)試對(duì)于單一脈沖或重復(fù)頻率很低之脈沖進(jìn)行檢測(cè),常用峰值檢波,由于峰值檢波是要測(cè)試出干擾訊號(hào)振幅之最大值,故它只取決于訊號(hào)之幅度而與時(shí)間無(wú)關(guān),其充電放電時(shí)間常數(shù)比值 TC/TD 要足夠小,通常TC/TD為幾百分之一。平均值檢波主要用來(lái)測(cè)試窄頻之連續(xù)波、調(diào)諧波干擾,其充放電時(shí)間常數(shù)比值TC/TD為1。
          若是干擾經(jīng)常由許多獨(dú)立之脈沖源產(chǎn)生,而往往是隨機(jī)的,則最好使用均方根檢波器。選用檢波器取決于被測(cè)受干擾源之性質(zhì)以及所受保護(hù)之對(duì)象,對(duì)于同一干擾雜訊用不同檢波器測(cè)得之值是不同,而各種檢波器對(duì)脈沖干擾之相對(duì)響應(yīng)也是不同。但將測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)轉(zhuǎn)換后,仍可得出一致之結(jié)果,有些接收機(jī)只有峰值或準(zhǔn)峰值檢波器,此時(shí)只需通過(guò)準(zhǔn)峰值或峰值轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換,就能滿足不同之測(cè)試要求。

          頻譜分析儀
          頻譜分析儀之檢波器為峰值檢波,因而滿足軍規(guī)測(cè)試要求,但不符合歐美EMC商規(guī)及我國(guó)電磁相容性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(CNS13430系列)規(guī)定之極限值測(cè)試。為此必須在輸入端配備預(yù)選器(Preselector)以防止混頻器飽和,改善頻譜分析儀之 S/N比,提高靈敏度,并且在中頻輸出端配備準(zhǔn)峰值轉(zhuǎn)換器或檢波器。則系統(tǒng)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍也提高,就可以滿足軍規(guī)EMC測(cè)試及 CISPR標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。
          EMI測(cè)試接收機(jī)與頻譜分析儀兩類(lèi)設(shè)備各有優(yōu)缺點(diǎn)︰測(cè)試接收機(jī)之優(yōu)點(diǎn)有測(cè)試準(zhǔn)確度高、動(dòng)態(tài)范圍大、頻率分辨率高、靈敏度高、互調(diào)干擾小及有四種基本檢波方式;缺點(diǎn)就是不能像頻譜儀分析儀在很寬之頻率范圍內(nèi)展開(kāi)觀察,而對(duì)被測(cè)訊號(hào)無(wú)法快速進(jìn)行頻譜分析和振幅測(cè)試。頻譜分析儀之優(yōu)點(diǎn)是能在很寬廣之頻率范圍內(nèi)觀察而迅速地對(duì)被測(cè)訊號(hào)進(jìn)行頻譜分析和振幅測(cè)試、測(cè)試設(shè)備相對(duì)簡(jiǎn)單及測(cè)試比較方便;缺點(diǎn)就是測(cè)試準(zhǔn)確度相對(duì)差一些、頻率分辨率較低、互調(diào)干擾大、選擇性較差及祇有單一峰值檢波方式。
          EMC測(cè)試用天線
          電磁相容性測(cè)試頻率范圍從幾10Hz到幾10GHz,在這么寬之頻率范圍內(nèi)作電磁干擾及電磁耐受性測(cè)試,所用天線種類(lèi)繁多,且必須借助各種探測(cè)天線把被測(cè)場(chǎng)強(qiáng)轉(zhuǎn)換成電壓。電磁相容性試驗(yàn)中各頻段優(yōu)先使用之天線,包括在150Hz~30MHz採(cǎi)用棒狀與環(huán)路天線,30MHz~300MHz採(cǎi)用偶極與雙錐天線,300MHz~1GHz採(cǎi)用偶極、對(duì)數(shù)週期及對(duì)數(shù)螺旋天線,1GHz~40GHz採(cǎi)用喇叭天線,這些天線之相關(guān)參數(shù)與理論可參考制造廠商提供天線出廠之資料。電磁相容性測(cè)試用天線具有下列特點(diǎn)︰廣泛的應(yīng)用到寬頻帶天線,為了提高測(cè)試速度,不得不採(cǎi)用寬頻帶天線,除非只對(duì)少數(shù)已知之干擾頻率點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。寬頻頻帶天線在出廠前提供校正曲線,使用時(shí)需輸入此天線因素。天線增益不高,方向性不甚明顯。不少試驗(yàn)用天線都工作在近場(chǎng)區(qū),測(cè)試結(jié)果對(duì)測(cè)試距離很敏感,為此試驗(yàn)中必須嚴(yán)格按試驗(yàn)規(guī)定進(jìn)行。其次,在近場(chǎng)區(qū)電場(chǎng)、磁場(chǎng)之比(波阻抗)不再是個(gè)常數(shù),所以有些天線雖然給了電場(chǎng)、磁場(chǎng)之校正系數(shù),但只有當(dāng)這些天線作遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)才有效,測(cè)試近場(chǎng)干擾時(shí),電場(chǎng)與磁場(chǎng)測(cè)試結(jié)果不能再按此換算,這是在試驗(yàn)中容易忽略之問(wèn)題。天線之場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍較寬,應(yīng)根據(jù)測(cè)試對(duì)象正確選用,電磁相容性試驗(yàn)之場(chǎng)強(qiáng)相差很大,對(duì)強(qiáng)大場(chǎng)強(qiáng)雖然可用衰減器擴(kuò)大天線量測(cè)范圍,但應(yīng)以不損壞天線轉(zhuǎn)換器為前提。收、發(fā)天線有時(shí)是不能互易,如同為雙錐天線,收、發(fā)用天線有區(qū)別,收、發(fā)環(huán)路天線也不同,使用時(shí)不能互換。

          平行板天線
          車(chē)輛零組件執(zhí)行電磁場(chǎng)輻射耐受性試驗(yàn)(ISO 11452-6)時(shí),需要均勻橫電磁波之測(cè)量環(huán)境。利用平行板線,在其一端接相應(yīng)之訊號(hào)產(chǎn)生器與功率放大器,另一端接匹配負(fù)載,可在兩平行板間產(chǎn)生橫電磁波之行波狀態(tài),平行板線之工作頻率與終端負(fù)載之匹配情況有關(guān),而且與平行板之間之距離d成反比,距離越大,上限工作頻率越低。隨頻率上升,傳輸訊號(hào)送到平皮間距d時(shí),平行板在其開(kāi)放之側(cè)面將產(chǎn)生強(qiáng)烈輻射,以致于影響周?chē)渌鼫y(cè)試設(shè)備之工作,甚至危害試驗(yàn)人員之健康。
          因此,當(dāng)其內(nèi)部電場(chǎng)較強(qiáng)時(shí),應(yīng)將其放在電磁隔離室內(nèi),或在其開(kāi)放之側(cè)面佈置適當(dāng)之可移動(dòng)吸波材料墻。當(dāng)頻率進(jìn)一步提高時(shí),板間將出現(xiàn)高次模,使板間電磁場(chǎng)發(fā)生畸變,一般把出現(xiàn)高次模之頻率定為平行板線之上限頻率。當(dāng)待測(cè)件置于平行板時(shí),原來(lái)之均勻電場(chǎng)將發(fā)生畸變,為此通常規(guī)定待測(cè)件之體積應(yīng)小于兩板中間體積之1/3。與一般採(cǎi)用輻射天線對(duì)待測(cè)件進(jìn)行電場(chǎng)輻射耐受性試驗(yàn)相比,平行板線有下列優(yōu)點(diǎn)︰可在寬頻段范圍內(nèi)產(chǎn)生平面波場(chǎng);所有能量集中在平行板間,因而電磁能量利用率高,不需很大瓦特?cái)?shù)之功率訊號(hào)放大器就可在板間產(chǎn)生高于25V/m之場(chǎng)強(qiáng)(車(chē)輛零組件規(guī)格);平行板線之造價(jià)與其它產(chǎn)生場(chǎng)強(qiáng),用以進(jìn)行電磁耐受性試驗(yàn)之方法和裝置相比,成本較低。其主要缺點(diǎn)是︰僅適用于如車(chē)輛零組件等小型設(shè)備之試驗(yàn),對(duì)周?chē)椛漭^為嚴(yán)重,影響監(jiān)測(cè)之功能及操作人員之健康。這些缺點(diǎn)限制了應(yīng)用,從1980年以來(lái),平行板線已逐漸被橫電磁波室所取代,但在電磁脈沖(EMP)研究中,仍將其作為場(chǎng)強(qiáng)模擬裝置。

          橫電磁波室 (TEM/GTWM CELL)
          橫電磁波(Transverse Electro Magnetic,TEM)室是利用傳輸線原理,由同軸線演變而來(lái),一種內(nèi)部能傳輸均勻橫電磁波之長(zhǎng)方形測(cè)試室。它是電子電機(jī)設(shè)備電場(chǎng)輻射耐受性試驗(yàn)之理想裝置,除了可進(jìn)行射頻連續(xù)波耐受性,脈沖波耐受性試驗(yàn)外,還可用于測(cè)試電子電機(jī)設(shè)備所產(chǎn)生之輻射干擾,及作為對(duì)各種近場(chǎng)測(cè)試探夾(如電流注入感應(yīng)器、電壓感應(yīng)器、場(chǎng)強(qiáng)感應(yīng)器等)進(jìn)行校正用之標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)源裝置。
          橫電磁波室由矩形外導(dǎo)體和平板中心接地導(dǎo)電板所構(gòu)成,兩端通過(guò)四面尖錐過(guò)渡區(qū)與精密50咫冷型同軸連接器連接,接地導(dǎo)電板用絕緣支架固定,將橫電磁波室分成兩部分。待測(cè)件之供電系統(tǒng)通過(guò)電源濾波器進(jìn)入,長(zhǎng)方形橫電磁波室之優(yōu)點(diǎn)是腔體內(nèi)之場(chǎng)強(qiáng)比較均勻,而正方形橫電磁波室之優(yōu)點(diǎn)是在相同可用空間條件下,工作頻率范圍較寬,所需用料省,體積較小。與平行板線相類(lèi)似,待測(cè)件在橫電磁波室占有之空間一般不超過(guò)接地導(dǎo)電板到底板間距的三分之一和前后壁板間距的三分之一,橫電磁波室之工作頻率與終端負(fù)載之匹配情況有關(guān),上限頻率依賴(lài)于接地導(dǎo)電板到上下底板間距之尺寸,而且與接地導(dǎo)電板到底板間距d成反比,距離越大,上限工作頻率越低。為了使橫電磁波室之工作頻率提高到 1GHz范圍,于是GTEM(Gigahertz TEM)橫電磁波室因應(yīng)而生,它之外型是斜面角錐狀,詳加說(shuō)明如圖,待測(cè)件放置方式與TEM橫電磁波室類(lèi)似,如圖所示,有各種不同之終端負(fù)載,因?yàn)楣ぷ黝l率與終端負(fù)載之匹配情況有關(guān),目前歐美EMC商規(guī)已經(jīng)廣泛應(yīng)用GTEM橫電磁波室來(lái)執(zhí)行輻射發(fā)射與輻射耐受性測(cè)試。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/260991.htm


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