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          RF和微波開關(guān)測試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問題

          作者: 時間:2009-07-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          無線通信產(chǎn)業(yè)的巨大成長意味著對于無線設(shè)備的元器件和組件的測試迎來了大爆發(fā),包括對組成通信系統(tǒng)的各種IC和微波單片集成電路的測試。這些測試通常需要很高的頻率,普遍都在GHz范圍。本文討論了射頻和測試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問題,包括不同的開關(guān)種類,開關(guān)卡規(guī)格,和有助于測試工程師提高測試吞吐量并降低測試成本的開關(guān)設(shè)計中需要考慮的問題。

            射頻開關(guān)和低頻開關(guān)的區(qū)別

            將一個信號從一個頻點轉(zhuǎn)換到另一個頻點看起來挺容易的,但要達成極低的信號損耗該如何實現(xiàn)呢?設(shè)計低頻和直流(DC)信號的開關(guān)系統(tǒng)都需要考慮它們特有的參數(shù),包括接觸電位、建立時間、偏置電流和隔離特性等。

            高頻信號,與低頻信號類似,需要考慮其特有的參數(shù),它們會影響開關(guān)過程中的信號性能,這些參數(shù)包括VSWR(電壓駐波比)、插入損耗、帶寬和通道隔離等等。另外,硬件因素,比如端接、連接器類型、繼電器類型,也會極大的影響這些參數(shù)。

            開關(guān)種類和構(gòu)造

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/261243.htm
             圖1高頻機電繼電器


              圖2單通道blocking矩陣和non-blocking矩陣


               圖3層疊開關(guān)架構(gòu)


               圖4多重開關(guān)(圖示為一個雙重開關(guān))

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          關(guān)鍵詞: 微波開關(guān) 測試儀器 RF

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