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          設(shè)計(jì)兼顧高線性和高效率的RF放大器

          作者: 時(shí)間:2008-06-18 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/261390.htm

            Doherty放大器的完善性使它適合用于手機(jī)應(yīng)用的基站側(cè)。在手機(jī)側(cè),對(duì)空間和成本的要求要嚴(yán)格得多。在此情況下,必要時(shí)可使用RF開關(guān)切換增益模塊,從而大大降低功耗。例如,Avago的CoolPAM(功率放大器模塊)RF部件給手機(jī)設(shè)計(jì)師提供了一個(gè)選擇,使他們可以在寬輸出功率范圍內(nèi)保持高效率(圖8)??梢圆捎么酥苯亓水?dāng)?shù)募夹g(shù),而不是用直/直變換器向輸出級(jí)供電。采用變換器可使RF輸出級(jí)始終在接近飽和點(diǎn)處工作,因此可以改善效率。但是,直/直變換器會(huì)占用較大空間,并且自身也有效率極限。Avago公司聲稱,通過(guò)使用CoolPAM技術(shù),可將通話時(shí)間延長(zhǎng)1個(gè)小時(shí)以上,這對(duì)于手機(jī)設(shè)計(jì)師是一項(xiàng)很具吸引力的選擇。


          圖8,低成本手機(jī)適合使用直接的方法提高效率。Avago生產(chǎn)的放大器模塊可在輸出功率大于16dBm的高功率模式(a)和輸出功率小于16dBm的低功率模式(b)間切換。由于效率改善,通話時(shí)間可延長(zhǎng)1小時(shí)。

            建模

            人們對(duì)RF功率放大器中線性和效率的追求也對(duì)RF系統(tǒng)開發(fā)使用的EDA工具產(chǎn)生了影響。 由于這些RF系統(tǒng)本質(zhì)上的非線性,所以也具有與其他非線性系統(tǒng)相同的所有數(shù)學(xué)問(wèn)題。 Spice和其他電路仿真技術(shù)可能在這里并不適用,而且可能會(huì)很耗時(shí),因?yàn)镽F設(shè)計(jì)通常需要穩(wěn)態(tài)工作。而要達(dá)到此狀態(tài),可能需要經(jīng)過(guò)數(shù)十億個(gè)信號(hào)波。RF設(shè)計(jì)師一般采取黑箱建模方法(例如采用S(散射)參數(shù))來(lái)設(shè)計(jì)系統(tǒng)。但是,S參數(shù)并沒(méi)有考慮非線性因素,且缺乏放大器偏移模型。為了解決此問(wèn)題,曾經(jīng)推廣了S參數(shù)設(shè)計(jì)方法的Agilent公司最近引入了X參數(shù),即多諧波失真模型方法(參考文獻(xiàn)2)。在X參數(shù)中綜合了線性系統(tǒng)響應(yīng)和非線性因素的響應(yīng)。Agilent已提供了幾篇文章來(lái)詳細(xì)說(shuō)明該技術(shù),以后肯定會(huì)將X參數(shù)仿真加入到Agilent的RF設(shè)計(jì)工具,也肯定會(huì)開發(fā)可表征X參數(shù)的Agilent的測(cè)試設(shè)備。

            由于新的手機(jī)調(diào)制方案的設(shè)計(jì)要求,RF功率放大器的設(shè)計(jì)越來(lái)越困難。長(zhǎng)期以來(lái),RF領(lǐng)域都憑感覺設(shè)計(jì)和依賴于工程師的經(jīng)驗(yàn)。而由于這些新設(shè)計(jì)中對(duì)線性和效率的要求,人們?yōu)榱嗽O(shè)計(jì)可正常工作的放大器,需要有更多的專業(yè)技能。設(shè)計(jì)工作也開始跨越不同的領(lǐng)域。 RF、模擬和數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)師都對(duì)信號(hào)鏈性能有影響。由于有經(jīng)驗(yàn)的設(shè)計(jì)師現(xiàn)在可從EDA和測(cè)試設(shè)備制造商那里可獲得先進(jìn)工具和儀表,可以預(yù)期未來(lái)性能會(huì)有更驚人的提高,而成本則會(huì)顯著降低。

            參考文獻(xiàn)

            1. Vani Viswanathan, Efficiency Enhancement of Base Station Power Amplifiers Using Doherty Technique, Virginia Polytechnic Institute and State University.

            2. Verspecht, Jan, and David E Root, Polyharmonic Distortion Modeling, IEEE Microwave Magazine, Volume 7, Issue 3, June 2006, pg 44.


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