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          NI半導(dǎo)體測試系統(tǒng) 開啟ATE測試新未來
          
						
          
				作者：
				時間：2014-09-03
				來源：互聯(lián)網(wǎng)
				
				
				
				
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            編者按：　　如果你想要對半導(dǎo)體芯片設(shè)計和測試的新動向有所了解，這無疑是個非常合適的地方。9月3日至9月5日，NationalInstruments又將發(fā)布新的半導(dǎo)體測試儀。這次的發(fā)布依然端莊大氣，場合是在2014SEMICONTaiwan國際半導(dǎo)體展上。
          
            
          
			
			
          
				
				
			
          
                
			
          　　美商國家儀器(NationalInstruments;NI)將于9月3日至9月5日于「2014SEMICONTaiwan國際半導(dǎo)體展」發(fā)表最新半導(dǎo)體測試儀，在NI攤位(臺北世貿(mào)南港展覽館4樓，攤位號碼：134)，業(yè)者可以前往共同探討NI最新半導(dǎo)體測試系統(tǒng)。
          本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/262511.htm

          

          　　半導(dǎo)體晶片的設(shè)計難度不斷提升，并需要更高階的測試系統(tǒng)描述效能特性，且進一步提高了測試成本。NI透過高彈性的硬體平臺PXI，與多Site平行測試排程軟體，以降低晶片測試的成本。
          

          

          　　全新的NI半導(dǎo)體測試系統(tǒng)(SemiconductorTestSystem;STS)，適用于RF和混合式訊號生產(chǎn)測試，并搭載PortModule可同時進行多埠的S參數(shù)與調(diào)變訊號測試，目前已有多家半導(dǎo)體領(lǐng)導(dǎo)公司采用，大幅提升效能與降低成本。此款半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，將是NI2014年半導(dǎo)體展最大的重頭戲。
          

          

          　　除此之外，我們亦將于現(xiàn)場展示半導(dǎo)體領(lǐng)域各相關(guān)應(yīng)用解決方案，藉由PXI平臺的彈性與高效能，將可為您帶來極高的工作績效與成果，竭誠歡迎您蒞臨美商國家儀器攤位參觀指教。
          
				
            
                
			
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          關(guān)鍵詞：
            			            NI
                        半導(dǎo)體測試
                        
            
          
            
			
          
		
          	
		

	

          
	
	
          
		
          
			
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