新型光學(xué)觸摸屏的實(shí)現(xiàn)

　　求出的A_i(i=1，2，…，5)存在誤差，需要進(jìn)一步優(yōu)化。設(shè)第i幅圖 17個(gè)點(diǎn)的像素?cái)?shù)誤差之和為ε_i。對(duì)于每一幅圖，把第一幅圖對(duì)應(yīng)的內(nèi)參數(shù)矩陣A₁和該幅圖中點(diǎn)的相應(yīng)坐標(biāo)帶入式(2-4)求取ε_i，其表達(dá)式如下：

　　在對(duì)五幅圖的Rt_i 的參數(shù)r_i、t_i1、t_i2 進(jìn)行最優(yōu)化之后，設(shè) 5幅圖的所有點(diǎn)的像素?cái)?shù)誤差加之和為ε，其表達(dá)式如下：

　　2.3.2 畸變參數(shù)的求取

　　求取畸變參數(shù)最優(yōu)解也用Levenberg-Marquardt優(yōu)化方法，本文畸變參數(shù)的求取僅僅考慮了徑向畸變，選取的徑向畸變的數(shù)學(xué)模型為：

　　φ =k₁ r+k₂ r³+k₃ r⁵   (2-7)

　　其中r=|u_d| 為像點(diǎn)到圖像中心的距離，k₁ 、k₂ 、k₃為徑向畸變系數(shù)，仍然用這五幅圖的數(shù)據(jù)求取最優(yōu)的 k₁ 、k₂ 、k₃。設(shè)第i(i=1，2，…，5)幅圖


　　3 結(jié)論

　　實(shí)現(xiàn)的新型光學(xué)觸摸屏能夠克服目前市售觸摸屏存在的設(shè)計(jì)缺陷，解決了存在觸摸死區(qū)和假兩點(diǎn)等問(wèn)題。提出了求取攝像頭內(nèi)參數(shù)的方法，該方法簡(jiǎn)單易行，操作性強(qiáng)。求取內(nèi)參數(shù)的過(guò)程中多次Levenberg-Marquardt優(yōu)化，Levenberg-Marquardt優(yōu)化算法的優(yōu)越性決定了所求參數(shù)的高精確度。

　　參考文獻(xiàn)：
　　[1]劉偉.基于CMOS的光學(xué)觸摸屏研究.[D].山東:山東大學(xué)，2012:6-8
　　[2]胡慶龍.基于FPGA的光學(xué)觸摸屏控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)[D].山西:西安電子科技大學(xué)，2012：2-3
　　[3]禹德.求解兩類非線性問(wèn)題的Levenberg_Marquardt方法.[D].福建:福建師范大學(xué)，2013:13-14
　　[4]習(xí)國(guó)泰.改進(jìn)Levenberg_Marquardt算法的復(fù)雜度分析[D].上海:上海交通大學(xué)，2012:11-13
　　[5]曾祥樟.一種基于OpenCV和Tsai的攝像機(jī)兩步標(biāo)定新方法[J].現(xiàn)代設(shè)計(jì)技術(shù)，2008，25(12):50-52
　　[6]郭啟軍.線性模型下攝像機(jī)標(biāo)定[J]. 湖北汽車工業(yè)學(xué)院學(xué)報(bào)，2008，22(1):44-47
　　[7]趙宣銘.一種基于Tsai法的攝像機(jī)改進(jìn)標(biāo)定法[J].西安工程大學(xué)學(xué)報(bào)，2011，25(4):561-563
　　[8]劉豐威.光學(xué)觸摸屏的研究與開(kāi)發(fā)[D].廣州:華南理工大學(xué)，2012:25-27
　　[9]葉耀斌.雙CCD交匯測(cè)量技術(shù)實(shí)現(xiàn)觸摸屏系統(tǒng)[J].現(xiàn)代顯示，2010(114):49-53
　　[10]劉國(guó)瑛等.基于圖像殘差的攝像機(jī)標(biāo)定精度比較[J].農(nóng)機(jī)化研究，2010，32(10):118-120