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          針對無線測試的幾種并行測試架構(gòu)探討

          作者: 時間:2015-03-04 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            II.多DUT測試可提高測試吞吐量

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/270438.htm

            盡管近幾年來設(shè)備制造商普遍采用非信令測試來大幅縮短測試時間,但 是更復(fù)雜的新無線技術(shù)的出現(xiàn)以及產(chǎn)品周期的不斷縮短進一步增加了減少測試時間和成本的壓力。例如,802.11ac通過增加新的數(shù)據(jù)速率、帶寬以及空間流 擴展了802.11n。隨著設(shè)備制造商將802.11ac應(yīng)用到產(chǎn)品中,他們不僅需要測試這個新標(biāo)準(zhǔn),而且為了保持向后兼容性,還需要繼續(xù)測試以前的標(biāo) 準(zhǔn)。

            此類因素顯著增加了測試時間,繼而增加了測試成本。新的解決方案是芯片組供應(yīng)商、測試廠商以及最終用戶通過并行測試多臺 設(shè)備來最大限度提高效率,這一方法也稱為“多DUT”測試。通過利用最新的多DUT測試軟硬件架構(gòu),設(shè)備制造商可以顯著增加他們的生產(chǎn)測試吞吐量而不會增 加測試成本。這里來研究和比較各種多DUT測試方案,其中圖2所示的方案是使用一個VSA+VSG或VST通過一個開關(guān)矩陣來測試4個DUT。

            

          圖2:多DUT硬件配置范例

           

            圖2:多DUT硬件配置范例

            這里基于這一測試配置來討論不同的方法。為了比較這些方法,此處將一個典型的測試分成以下幾個常見的步驟,并規(guī)定了它們的相對時間單位,如表1所示。

            表1,測試的常見組成元素

            

          表1,WLAN測試的常見組成元素

           

            這 些步驟中耗時最長的是與待測設(shè)備進行通信來實現(xiàn)正確運行模式所需的時間。取決于DUT和測試計劃,DUT控制時間可占總測試時間的45%~90%。因此, 如果要開發(fā)一個具有最低總測試成本的測試系統(tǒng),則該系統(tǒng)必須具有低的測試設(shè)備成本,同時使測試設(shè)備的待機時間降到最低。

            C.串行測試

            在傳統(tǒng)的測試計劃中,設(shè)備通過一個由夾具和射頻儀器支持的測試站進行串行測試。測試順序與圖3中所示的時間框圖相似。此類測試應(yīng)用的主要優(yōu)勢是非常易于實現(xiàn)。然而,這種方法并沒有利用任何類型的軟件或硬件并行機制,從而導(dǎo)致所有DUT啟動期間RF儀器均處于待機狀態(tài)。

            

          圖3:串行測試時間框圖

           

            圖3:串行測試時間框圖

            D.流水線

            利用多線程并行軟件架構(gòu)和外部開關(guān)電路,已經(jīng)完成啟動的DUT在執(zhí)行TX和RX測試時,并行軟件線程可控驅(qū)動下一個DUT的啟動過程,從而實現(xiàn)測試的流水線執(zhí)行。這種方法減少了儀器的停機時間,縮短了高達35%的測試時間,如圖4所示。

            

          圖4:流水線測試的時間框圖

           

            圖4:流水線測試的時間框圖

            E.并行RX測試

            另一種減少測試時間的方法是通過向多個DUT發(fā)送相同的波形來同時執(zhí)行多個RX測試。通過將每個DUT分配到相應(yīng)的軟件線程,所有DUT均可同時啟動。使用如圖5所示的技術(shù),多DUT的測試時間相比流水線測試可減少25%,相比串行測試設(shè)備可減少超過50%。

            

          圖5:并行RX測試時間框圖

           

            圖5:并行RX測試時間框圖

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