基于LabVIEW的三極管壽命測試系統(tǒng)
3.3工作過程的實現(xiàn)
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/270607.htm3.3. 1綜述
工作開始前,先連接下位機,連接成功后,調用自檢模塊,對將要做老練測試的老化板進行自檢,自檢成功后,上位機將參數(shù)下發(fā)到下位機,然后下發(fā)開始控制命令,下位機輪詢每塊板子的控制命令字,板子開始工作后,將工作需要的加熱電流和測量電流以及程控電壓等通過串行數(shù)據(jù)傳輸模塊下發(fā)到驅動板,通過驅動板加載到相應的老化板上,給器件加熱,記錄此時的時間,即為加熱開始時刻,當前時刻與加熱開始時刻之差大于等于開時間的時候,停止加熱,打開風扇,記錄加熱結束時刻,開始AD采集,根據(jù)采集的電流和電壓計算出結溫,將數(shù)值傳回上位機,上位機根據(jù)溫度變化繪出一條曲線。當前時刻與加熱結束時刻之差大于等于關時間時,冷卻完成并結束測量,進入下一次循環(huán),循環(huán)次數(shù)到達后,將此板子置于空閑狀態(tài)。
3.3.2精度和切換速度的實現(xiàn)
1)高速ADC采集
sbRIO-9612上集成有AD采集芯片,16位的AD可以保證其采樣分辨率達到1‰,同時,4μs的轉換時間,保證了AD的采樣速度;為了消除共模噪聲的影響,將32路AD轉換為16路的差分輸入,采集時每次每個通道連續(xù)取8個數(shù)值求均值為本次采集的結果,同時配合老化板中采用的高速開關進行切換,保證了采集數(shù)據(jù)的精度要求。下圖是在設定的10 mA的測量電流和12 V的程控電壓,通過LabVIEW顯示出當前NMOS管(型號為IRFP460)的結電壓和當前時刻測量得到的管子結溫,室溫通過安裝在每塊老化板上的溫度傳感器得出為17.3 20 6攝氏度,從圖5中看出,AD采集回來的16通道的值都在小數(shù)點三位后開始波動,保證了計算得到的△Vf的值在小數(shù)點后二位開始波動。
系統(tǒng)在加熱狀態(tài)切入到測量狀態(tài)后20μs內可完成所有工位結電壓的采集,為達到快速采集要求,編寫程序時候,考慮到ADC高實時性問題,將采集部分分配到sbRIO-9612的FPGA上完成,sbRIO-9612的Onboard Clock為40 MHz,即0.025μs的周期,寫FPGA程序時,將ADC采集配置(即開關的切換命令執(zhí)行)和采集數(shù)據(jù)放到順序結構的相鄰的兩幀之間,考慮到開關切換時間,中間加1μs的等待,保證數(shù)據(jù)的可靠性,然后開始數(shù)據(jù)采集,ADC采集部分程序如圖6所示。
圖6 AD采集結果在Labview中顯示
圖7 FPGA上ADC結電壓采集程序
2)差分數(shù)據(jù)傳輸
此模塊實現(xiàn)sbRIO-9612與FPGA之間的通信,通信方式為總線異步訪問的方式,通過串行DAC方式收發(fā)數(shù)據(jù),所謂串行DAC,即在一定的時鐘下(時鐘周期為80 MHz),按照固定的時序進行串行發(fā)數(shù),先將地址分配到端口,地址總共為六位,即A0-A5,高四位為地址位(控制板號),低兩位為驅動板寄存器地址;然后將數(shù)據(jù)放到數(shù)據(jù)總線上,數(shù)據(jù)格式為U8,置高WR/RD,然后:DR位置低,保持兩個時鐘周期,DR置高,完成串行DAC寫數(shù)據(jù);同理,讀數(shù)據(jù)時先設置地址總線,WR/RD置低,DR置低,保持兩個時鐘周期,在兩個周
期內完成數(shù)據(jù)的讀取,DR置高,完成串行DAC讀數(shù)據(jù)。整個通信模塊按照通信協(xié)議,實現(xiàn)了sbRIO-9612對FPGA的控制。
圖8 SbRIO讀取和寫入時序
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