PXI加入戰(zhàn)局，ATE全面模塊化時(shí)代到來

半導(dǎo)體測(cè)試ATE是整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)中最為精密的一個(gè)環(huán)節(jié)，也是最具市場(chǎng)價(jià)值的測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域之一，相比于幾萬塊錢規(guī)模的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，動(dòng)輒百萬的半導(dǎo)體測(cè)試ATE從技術(shù)上就限制了很多玩家的進(jìn)入。當(dāng)然，龐大的系統(tǒng)有自己固有的問題，就是設(shè)備的使用成本過于昂貴，基于這樣的需求，NI的PXI技術(shù)尋找了市場(chǎng)的切入點(diǎn)技術(shù)找到了市場(chǎng)的切入點(diǎn)。

在快速變遷的市場(chǎng)環(huán)境下，設(shè)備性能不斷挑戰(zhàn)著ATE系統(tǒng)功能的極限，測(cè)試設(shè)備的淘汰速度加快，測(cè)試成本也隨之增加，因而需要與日益嚴(yán)苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半導(dǎo)體測(cè)試客戶的最大亮點(diǎn)，NI基于PXI的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)通過在半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境中引入NI和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的PXI模塊降低了射頻和混合信號(hào)設(shè)備的測(cè)試成本。與傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)相比，NI STS前沿用戶正在獲益于降低的生產(chǎn)成本和提高的吞吐量，并且可使用相同的硬件和軟件工具中進(jìn)行特征性測(cè)試和生產(chǎn)。特別是對(duì)于混合信號(hào)測(cè)試，基于PXI的NI STS相比傳統(tǒng)ATE，以非常低的成本提供了最佳測(cè)試覆蓋率。
 
NI STS的開放模塊化架構(gòu)使得工程師能夠使用最前沿的PXI儀器，這是采用傳統(tǒng)具有封閉結(jié)構(gòu)的ATE無法實(shí)現(xiàn)的。這對(duì)于RF和混合信號(hào)測(cè)試尤其重要，因?yàn)樽钚掳雽?dǎo)體技術(shù)要求的測(cè)試覆蓋率往往超越了傳統(tǒng)ATE所能提供的。NI STS結(jié)合了TestStand測(cè)試管理軟件和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件，具有一組針對(duì)半導(dǎo)體生產(chǎn)環(huán)境的豐富功能，包括可定制的操作界面、分選機(jī)/探針集成、具有引腳-通道映射且以設(shè)備為中心的編程、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試數(shù)據(jù)格式（STDF）報(bào)告以及集成式多點(diǎn)支持。

據(jù)NI中國(guó)自動(dòng)化測(cè)試產(chǎn)品市場(chǎng)經(jīng)理陳宇睿介紹， NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)的開放式PXI架構(gòu)提供了客戶所需的靈活性，借助該架構(gòu)，客戶能夠重新配置和擴(kuò)展測(cè)試平臺(tái)來滿足不斷提高的性能需求，而且可以沿用原有的投資設(shè)備，而不需要像傳統(tǒng)ATE系統(tǒng)那樣，除了得淘汰舊設(shè)備之外除了需要淘汰舊設(shè)備之外，隨著測(cè)試系統(tǒng)持續(xù)改良，通常還需要高成本、大規(guī)模的測(cè)試車間重新啟動(dòng)作業(yè)。 IDT定時(shí)業(yè)務(wù)部門的測(cè)試演變正好成為這一產(chǎn)品應(yīng)用的典型案例。 一開始IDT使用昂貴的現(xiàn)成ATE系統(tǒng)。 很快便發(fā)現(xiàn)這么做的成本太高，所以IDT決定自行開發(fā)測(cè)試系統(tǒng)。 但是這又面臨新的問題，那就是硬件的淘汰率很高，而每次硬件的更新都需要重新設(shè)計(jì)整個(gè)系統(tǒng)，他們內(nèi)部支持團(tuán)隊(duì)的人力支持也非常有限。最理想的解決方案就是開發(fā)或?qū)ふ乙环N基于開放式架構(gòu)的測(cè)試平臺(tái)，可以讓用戶繼續(xù)利用測(cè)試裝置，以原有的投資為基礎(chǔ)開發(fā)所需的系統(tǒng)，而非外加新功能，或是重新購(gòu)買昂貴的大型ATE系統(tǒng)。 IDT需要的架構(gòu)必須能夠應(yīng)對(duì)硬件淘汰的問題，而且還可以隨著技術(shù)的發(fā)展重新開發(fā)。   NI STS正好就是這種架構(gòu)。NI STS的PXI平臺(tái)非常適合解決上述問題。 該系統(tǒng)在單個(gè)測(cè)試主機(jī)內(nèi)容納了多個(gè)PXI 機(jī)箱，提供了擴(kuò)展功能，使得用戶可在測(cè)試儀內(nèi)部添加更強(qiáng)大的測(cè)試功能。 靈活的PXI開放式標(biāo)準(zhǔn)可以讓用戶根據(jù)需求選擇不同廠商的儀器，而不必受限于單個(gè)ATE硬件廠商所提供的有限產(chǎn)品。

其實(shí)模塊化在半導(dǎo)體ATE市場(chǎng)的玩家并不僅是NI一家，傳統(tǒng)巨頭愛德萬也將模塊化理念帶入自己的物聯(lián)網(wǎng)芯片測(cè)試解決方案中，當(dāng)然相比于NI具有的PXI技術(shù)，愛德萬則是用插卡式模塊組合不同的測(cè)試系統(tǒng)以降低客戶測(cè)試的成本并提高靈活性。也許對(duì)于NI殺入半導(dǎo)體測(cè)試ATE市場(chǎng)的評(píng)價(jià)中，愛德萬的態(tài)度最為中肯“這個(gè)市場(chǎng)并不能拒絕外來者，NI的加入不會(huì)動(dòng)搖愛德萬在這個(gè)領(lǐng)域的優(yōu)勢(shì)地位，但給這個(gè)市場(chǎng)帶來了全新的競(jìng)爭(zhēng)思維，并且會(huì)非常有效的提升這個(gè)市場(chǎng)的技術(shù)演進(jìn)”。