NI通過全新無線測試系統(tǒng)降低無線生產測試成本
美國國家儀器(National Instruments,簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰(zhàn)的供應商,今日宣布推出無線測試系統(tǒng)(WTS),一款可大幅降低批量無線生產測試成本的解決方案。盡管面臨日益增加的無線測試復雜性,企業(yè)仍可以借助經過測量速度優(yōu)化和具有并行測試功能的系統(tǒng)來自信地降低測試成本,數倍提高生產車間的生產能力。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/278328.htm“物聯網(IoT)等大趨勢將驅動更多的設備融合射頻和傳感器功能,過去此類設備的測試成本極其昂貴。 但是測試成本不應成為工程師創(chuàng)新或產品具備經濟可行性的絆腳石,”Frost & Sullivan公司的測量和儀器項目經理Olga Shapiro表示, “為了維持未來的盈利能力,企業(yè)需要重新思考其無線測試方法,采用新的模式。 由于WTS是使用經業(yè)界驗證的PXI平臺開發(fā)的,而且受到NI的專業(yè)技術支持,我們預期該系統(tǒng)將對物聯網產生重大的商業(yè)影響。”
WTS結合了最新的PXI硬件,為多標準、多DUT和多端口測試提供了一個統(tǒng)一平臺。 該系統(tǒng)結合TestStand無線測試模塊等靈活的測試序列生成軟件,可幫助制造商大幅提高并行測試多個設備時的儀器利用效率。 WTS可輕松集成到生產線中,提供了可立即運行的測試序列來測試采用Qualcomm和Broadcom芯片的設備、集成式DUT和遠程自動化控制。 借助這些特性,用戶將可明顯看到其RF測試設備的效率大幅提升,從而進一步降低了測試成本。
“使用NI無線測試系統(tǒng),我們可以在同一個設備上測試多種無線技術,包括藍牙、WIFI、GPS和蜂窩。”HARMAN/Becker汽車系統(tǒng)公司的Markus Krauss表示, “WTS和NOFFZ的RF測試工程專業(yè)知識幫助我們顯著減少了測試時間以及快速安裝和運行測試系統(tǒng)。”
WTS是NI基于PXI硬件和LabVIEW以及TestStand軟件開發(fā)的最新系統(tǒng)(2014年發(fā)布了半導體測試系統(tǒng))。 WTS可支持LTE Advanced、802.11ac和藍牙LE等無線標準,專用于WLAN接入點、手機、信息娛樂系統(tǒng)和其他包含蜂窩、無線連接和導航標準等多標準設備的生產測試。 WTS內采用的軟件設計的PXI矢量信號收發(fā)儀技術為制造工業(yè)提供了出色的射頻性能以及可隨射頻測試需求變化而調整的平臺。
如需了解更多關于無線測試系統(tǒng)的信息,請訪問ni.com/wts。
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