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          日置(HIOKI)?新品阻抗分析儀IM7583,IM7585

          作者: 時(shí)間:2015-09-30 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            在信息化的現(xiàn)在社會(huì)中,智能手機(jī)等移動(dòng)設(shè)備通過LTE、Wi-Fi、GPS等,向高頻化發(fā)展,而且該帶寬達(dá)到了數(shù)GHz。隨之,移動(dòng)設(shè)備中所使用的高頻感應(yīng)器和鐵氧體磁珠等電子元件也向高頻化發(fā)展。這些電子元件從按照數(shù)百M(fèi)Hz到1GHz的高頻來進(jìn)行出廠檢查,所以對于高頻測量儀器的需求也日益增加。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/280877.htm

            

           

            HIOKI推出秋季新品,阻抗分析儀和IM7585。

            這次將發(fā)售的2種機(jī)型,可以測量超過去年發(fā)售的IM7580(最高300MHz的高頻測量)進(jìn)行更高的頻率測量。的測量頻率是1MHz~600MHz,而IM7585是1MHz~1.3GHz,可以滿足高頻化的各種電子元件產(chǎn)品。

            而且,、IM7585兩種機(jī)型通過最短0.5ms(0.0005秒)的高速測量,能夠快速的檢查大量電子元件,從而提高電子元件廠商的生產(chǎn)效率。

            其目標(biāo)用戶為:電子元件廠商的電子元件的出貨檢查,以及電子儀器廠家的電子元件的入庫檢查和特性評估

            與以往產(chǎn)品相比具備如下特點(diǎn):

            1.IM7583最高600MHz、IM7585最高1.3GHz的高頻測量

            IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz,而IM7585是1MHz~1.3GHz。這大大的高于去年發(fā)售的IM7580的測量頻率(1MHz~300MHz)。

            單一頻率測量的LCR測試儀的模式的話,可用于判斷出貨檢查的合格與否,頻率變化同時(shí)進(jìn)行測量的阻抗分析儀的模式的話 ,產(chǎn)品開發(fā)的特性評估和其他領(lǐng)域中。

            2.最快0.5ms的高速測量和高穩(wěn)定性的測量,有助于提高生產(chǎn)效率

            最快0.5ms(0.0005秒)的高速測量。這樣,對于需要快速檢查大量電子元件的電子元件廠商來說可以大幅提高生產(chǎn)效率。

            而且,IM7585的反復(fù)測量精度是0.07%(1GHz時(shí)的代表值),因此實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定測量,提高生產(chǎn)的成品率,從而提高生產(chǎn)效率。

            3.主機(jī)尺寸小巧化,有助于降低生產(chǎn)成本

            在電子元件廠商的生產(chǎn)線中,各種設(shè)備安裝在機(jī)架中組成檢查系統(tǒng),并進(jìn)行自動(dòng)檢查。因此,和去年發(fā)售的IM7580相同通過將將主機(jī)大小小型化,縮小檢查系統(tǒng)的體積,并通過多臺(tái)組合能夠縮短檢查時(shí)間,并降低生產(chǎn)成本。

            4.各種各樣的判斷功能,判斷合格與否

            單一的頻率測量的LCR測試儀的模式的話,具備判斷電子元件的合格與否的比較器功能以及將電子元件排序的BIN功能。比較器功能可設(shè)置上下限值,并以此為判斷標(biāo)準(zhǔn)來判斷是否合格。相對于比較器功能的按照判斷標(biāo)準(zhǔn)判斷是否合格,BIN功能則能設(shè)置最多10種判斷標(biāo)準(zhǔn),并進(jìn)行排名。

            在多種頻率下測量的分析儀的模式的話,包括從電子元件的頻率特性中可判斷合格與否的區(qū)間判斷、峰值判斷。區(qū)間判斷是為了確認(rèn)測量值是否進(jìn)入任意設(shè)置的判斷區(qū)域內(nèi)的功能。峰值判斷是判斷諧振點(diǎn)的功能。

            另外,還全新搭載了任意設(shè)置多種頻率,并按照這個(gè)設(shè)置值判斷合格與否的目標(biāo)判斷功能。

            主要參數(shù):

            基本精度 Z:0.65%rdg.θ:0.38(代表值)

            測量時(shí)間 最短0.5ms(模擬測量時(shí)間)

            測量范圍 100mΩ~5kΩ

            測量頻率 IM7583:1MHz~600MHz  IM7585:1MHz~1.3GHz

            測量信號(hào)電平 -40.0dBm~+1.0dBm(4mV~502mV)

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