BJT參數(shù)測試儀中數(shù)控微電流源研究與實現(xiàn)

　　本文介紹了滿足小功率BJT參數(shù)測試要求的雙極性高精度數(shù)控微電流源，預置電流直接送入被測三極管的基極，這樣就不需對基極電流進行采樣，不但簡化了電路設(shè)計，而且減小了系統(tǒng)測試誤差。

　　在數(shù)字式BJT(Bipolar Junction Transistor，雙極面結(jié)型晶體管)參數(shù)測試系統(tǒng)中為了準確測量交直流放大倍數(shù)、輸入/輸出特性曲線等特性參數(shù)，需要在被測三極管的基極加合適的偏置電壓，并且所加的偏置電壓根據(jù)測試的具體參數(shù)不同其大小要能程控變化;另一方面，小功率BJT的基極輸入電流較小，對其進行取樣、處理過程中需要較大放大倍數(shù)的直流放大器，放大器設(shè)計較困難，而且零漂、干擾較大，會增大參數(shù)的測試誤差;在實際使用時有NPN型和PNP型BJT，所以要求電流源輸出是雙極性的。為此設(shè)計了滿足小功率BJT參數(shù)測試要求的雙極性高精度數(shù)控微電流源，預置電流直接送入被測三極管的基極，這樣就不需對基極電流進行采樣，不但簡化了電路設(shè)計，而且減小了系統(tǒng)測試誤差。

　　1 數(shù)字式BJT參數(shù)測試原理

　　根據(jù)BJT主要特性參數(shù)的定義設(shè)計的數(shù)字式BJT參數(shù)測試系統(tǒng)原理框圖如圖1所示。該系統(tǒng)主要包括測試模塊(圖1中虛線框中的部分)和控制模塊。測試模塊主要完成集電極電流以及vBE和vCE等的取樣及信號調(diào)理;控制模塊主要實現(xiàn)數(shù)控電流源、數(shù)控電壓源的控制以及數(shù)據(jù)的采集、LCD液晶顯示器的控制等。測量放大倍數(shù)時，微控制器通過控制數(shù)控電流源為三極管基極提供合適的基極電流iB;通過數(shù)控電壓源為三極管的集電極提供適當?shù)募姌O電壓vC?，F(xiàn)假設(shè)通過的集電極電流為iC，iC經(jīng)集電極取樣電阻取樣后進行差動放大，這樣就可以得到與iC成正比的電壓信號kiC(k為放大系數(shù))，再將該信號送入A/D轉(zhuǎn)換器進行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，微控制器讀入采樣的電壓值，并根據(jù)數(shù)控電流源提供的基極電流iB通過BJT直流放大倍數(shù)的定義式(1)即可算出直流放大倍數(shù)。

　　由式(1)并根據(jù)測量誤差的傳遞公式和相對誤差定義可得：

　　由式(2)可知，直流放大倍數(shù)的相對誤差主要由基極電流和集電極電流的測量誤差組成，所以為達到放大倍數(shù)的準確測量需要為基極提供高精度電流;另一方面，也需要準確的檢測集電極電流。對交流放大倍數(shù)進行測試時，只需在測量直流放大倍數(shù)的基礎(chǔ)之上再測試一次ic，由2次測試的結(jié)果可算出交流放大倍數(shù)。測試輸入、輸出特性曲線以及其他特性參數(shù)時可根據(jù)其定義通過該系統(tǒng)測試相關(guān)參數(shù)，在微控制器中通過計算、處理就可以得到相應的曲線和參數(shù)。

　　2 數(shù)控電流源設(shè)計及工作原理

　　基于以上要求這里設(shè)計的數(shù)控電流源以微控制器為核心，通過數(shù)/模轉(zhuǎn)換器控制由運算放大器構(gòu)成的壓控電流源(VCCS)實現(xiàn)。

　　2.1 VCCS的工作原理

　　由運算放大器構(gòu)成壓控電流源電路如圖2所示，該電路輸出負載一端直接接地，所以又叫Howland電流泵。它通過電阻反饋網(wǎng)絡(luò)構(gòu)成了閉環(huán)控制系統(tǒng)，從而使其輸出電流的穩(wěn)定性好、精度高、輸出阻抗低，運算放大器采用低噪聲精密運放OP27。

　　2.1.1 定性分析

　　在圖2的電路中，有2個電阻反饋網(wǎng)絡(luò)。在輸入電壓保持不變的條件下，現(xiàn)假設(shè)因負載電阻減小而引起輸出電流增大，則節(jié)點c，d的電壓升高，則流過R2，R4的電流ID，IE增大，因R2不變，則節(jié)點a的電壓升高，根據(jù)運算放大器“虛短”的概念，節(jié)點b的電壓也要升高，在相同輸入電壓的情況下，此時流過電阻R1的電流減小，再根據(jù)運算放大器“虛斷”的概念，則流過R3的電流也要減小，而輸出電流為流過R3和R5的電流之和，所以此時輸出電流減小，通過閉環(huán)反饋從而抑制了輸出電流的增加，以達到恒流的作用，其恒流過程如下：

　　當電流增大時的原理與此相同，所以通過閉環(huán)反饋抑制了輸出電流的變化，以實現(xiàn)恒流的目的。

　　2.1.2 定量分析

　　由式(13)可知，輸出電流與輸入電壓成正比。根據(jù)小功率BJT參數(shù)測試要求，可以取R1，R2為2 kΩ，R3，R5為1 kΩ，則R4取2 kΩ，此處所用電阻均采用千分之一以上的精密電阻。當輸入電壓Vin為-5～+5 V時，輸出電流為-5～+5 mA，在實際測試中也可根據(jù)具體的測試情況選取電阻的值，以滿足實際測試所需電流的大小。

　　2.2 D/A轉(zhuǎn)換電路設(shè)計

　　數(shù)/模轉(zhuǎn)換采用美國TI公司推出的12位D/A轉(zhuǎn)換器DAC1201KP-V，其內(nèi)部的邏輯部分采用5 V供電，輸出運放電源使用±10 V，內(nèi)部自帶基準電源;其數(shù)據(jù)接口適合4位，8位，12位，16位總線的微處理器;最大轉(zhuǎn)換時間為7μs。

　　根據(jù)不同的電路連接形式，其輸出電壓范圍可以是0～+10 V，±5 V和±10 V。當雙極性輸出為-5～+5 V時，輸人數(shù)字量D與輸出的模擬電壓VOUT之間的關(guān)系為：

　　式(14)中，VFS為滿量程值。根據(jù)式(14)可以算出當雙極性輸出-5～+5 V時，輸出電壓的分辨率為2.44 mV。

　　DAC1201的具體應用參見文獻[4]，根據(jù)設(shè)計要求，在輸出電壓-5～+5 V時，其與8位微控制器AT89S52的接口電路如圖3所示。其與單片機的接口采用雙緩沖方式，第一級緩沖時單片機通過地址線A9，A10，A11并配合WR寫信號將12位數(shù)據(jù)分3次送入DAC1201的數(shù)據(jù)緩沖區(qū)，第二次緩沖時單片機通過A8和WR的配合將12位數(shù)據(jù)從DAC1201的緩沖區(qū)送人DAC寄存器啟動D/A轉(zhuǎn)換。

　　2.3 軟件設(shè)計

　　DAC1201的控制程序主要任務是將12位數(shù)據(jù)分3次送入D/A轉(zhuǎn)換器的數(shù)據(jù)緩沖區(qū)，然后將數(shù)據(jù)送入DAC寄存器并啟動D/A轉(zhuǎn)換。由圖3可知NA的地址為F7FFH，NB的地址為FBFFH，NC的地址為FDFFH，LDAC的地址為FEFFH。系統(tǒng)程序采用C語言編寫，D/A控制程序流程圖如圖4所示。

　　3 測試結(jié)果

　　測試時選用的電源是DH1723-1，電壓表是HP3468A，對V/I轉(zhuǎn)換線性特性和穩(wěn)流特性進行測試。

　　3.1 V/I轉(zhuǎn)換線性特性測試

　　測試時，理論上應采用直接測量電流的方法，將HP3468A型萬用表選擇在電流檔，并與負載串聯(lián)，但HP3468A的電流檔精度不夠，精度只能達到0.01 mA，所以通過測量電壓然后間接測量電流的方式進行測量。當R1，R2為2 kΩ，R3R5為1 kΩ，則R4取2 kΩ，負載是1 kΩ(所有電阻為千分之一精密電阻，負載實測電阻為0.999 69 kΩ)時實測的輸入電壓與輸出電流的關(guān)系如表1所示。

　　3.2 穩(wěn)流特性測試

　　當輸入電壓為1.003 71 V，改變負載電阻值，考慮到小功率三極管共射放大模式時其輸入電阻為幾千歐姆，所以使負載電阻的大小從150 Ω到5 kΩ變化時測量輸出電流隨負載變化的情況，其測試的數(shù)據(jù)如表2所示。

　　從表1可以看出輸出電流與輸入電壓成線性關(guān)系，輸出電流與理論值相比較其相對誤差最大為1.881 9e—4。

　　由表2可知，在負載電阻阻值改變時，輸出電流變化很小，與理論計算的電流值比較，其相對誤差最大為3.486 9×10-4。

　　4 結(jié)語

　　根據(jù)BJT參數(shù)測試儀的要求設(shè)計高精度的數(shù)控微電流源，該電流源數(shù)控部分采用開環(huán)控制，V/I部分采用閉環(huán)控制，使輸出的電流與輸入電壓達到了很好的線性關(guān)系。并且輸出電流的負載變化率較小，穩(wěn)定性很好，該數(shù)控電流源已成功的運用到BJT參數(shù)測試儀中，并取得了較好的應用效果。